声学参数测量设备和声学材料测量设备的制作方法

本发明涉及声学，具体涉及声学参数测量设备和声学材料测量设备。

背景技术：

1、声学检测是一种非接触的测量技术，通过发出声波信号并分析反射的声波或计算待测物体接收的声波来获取关于待测物体的性质、结构或其他特征的信息。这种方法可以应用于多个领域，包括工程、医学、环境科学等。根据待测物体的性质以及待检测项目，不同的待测物体的声学检测往往具有不同的需求，需要搭建不同的测试场景并设置不同的测试仪器，难以在较小的环境中简便地对多种待测物体的不同声学参数进行测量。

技术实现思路

1、有鉴于此，本发明的目的在于提供一种声学参数测量设备和声学材料测量设备，提升对不同待测物体进行不同声学检测的便捷性。

2、第一方面，本发明实施例提供了一种声学参数测量设备，声学参数测量设备包括：检测管，具有侧壁，侧壁上设置至少一个检测孔，检测管沿轴线相背的两端分别具有第一开口和第二开口；第一发声模块，设于第一开口处，第一发声模块具有第一扬声器；以及第二发声模块，可拆卸地连接在第二开口处，第二发声模块具有第二扬声器；控制电路，第一扬声器和第二扬声器分别与控制电路电连接；其中，控制电路电连接的参考麦克风，而检测管被配置供待测麦克风穿过伸入检测孔。

3、进一步地，声学参数测量设备还包括控制电路，控制电路被配置为向第一扬声器发送第一检测信号以使第一扬声器发出第一检测声音信号，并向第二扬声器发送第一抵消信号以使第二扬声器发出第一抵消声音信号；控制电路还被配置为向第二扬声器发出第二检测信号以使第二扬声器发出第二检测声音信号，并向第一扬声器发出第二抵消信号以使第一扬声器发出第二抵消声音信号。

4、进一步地，控制电路包括信号延迟器件，信号延迟器件为第一滤波器或延迟组件。

5、进一步地，第一检测声音信号和第一抵消声音信号叠加后形成第一参考信号，第二检测声音信号和第二抵消声音信号叠加后形成第二参考信号；参考麦克风采集第一参考信号和第二参考信号，控制电路根据第一参考信号生成第一抵消信号，控制电路根据第二参考信号生成第二抵消信号。

6、进一步地，参考麦克风包括第一参考麦克风和第二参考麦克风，第一参考麦克风靠近第一发声模块设置并接收第二参考信号，第二参考麦克风靠近第二发声模块设置并接收第一参考信号。

7、进一步地，控制电路还包括第二滤波器。

8、进一步地，第二滤波器为最小均方滤波器。

9、进一步地，控制电路向第一扬声器发送第一检测信号，并向第二扬声器发送第一抵消信号时，信号延迟器件被配置为使第一抵消信号延迟输出，第二滤波器被配置为修正第一抵消信号；控制电路向第二扬声器发出第二检测信号，并向第一扬声器发出第二抵消信号时，信号延迟器件被配置为使第二抵消信号延迟输出，第二滤波器被配置为修正第二抵消信号。

10、进一步地，第一发声模块还包括设置在第一扬声器远离第二扬声器一侧的第一吸音材料；以及/或者第二发声模块还包括设置在第二扬声器远离第一扬声器一侧的第二吸音材料。

11、进一步地，至少一个检测孔到第一扬声器的距离与到第二扬声器的距离相等。

12、进一步地，检测管的内径为6cm，长度为50cm。

13、第二方面，本发明实施例还提供了一种声学材料测量设备，声学材料测量设备包括：检测管，具有侧壁，侧壁上设置至少一个检测孔，检测管沿轴线相背的两端分别具有第一开口和第二开口；第一发声模块设置在第一开口处，第一发声模块具有第一扬声器；以及第一检测模块，可拆卸地连接在第二开口处，第一检测模块具有反射结构，第一检测模块用于容置待测声学材料。

14、进一步地，反射结构设置在第二开口处并封闭第二开口。

15、进一步地，第一扬声器产生初始声音信号，初始声音信号穿过待测声学材料后被反射结构反射并再次穿过待测声学材料形成检测声音信号；声学材料测量设备还包括检测麦克风，检测麦克风接收初始声音信号和检测声音信号。

16、进一步地，检测孔的形状与检测麦克风的形状相匹配，检测麦克风穿过检测孔设置在检测管内。

17、进一步地，侧壁具有多个检测孔，多个检测孔到第一开口的距离均不相同，声学材料测量设备包括两个检测麦克风，两个检测麦克风分别设置在不同的检测孔中。

18、进一步地，检测麦克风设置在第一发声模块和第一检测模块之间。

19、进一步地，第一发声模块还包括设置在第一扬声器远离第一检测模块一侧的第一吸音材料。

20、进一步地，检测管的内径为10cm。

21、本发明实施例公开了一种声学参数测量设备和声学材料测量设备。检测管和设置在检测管第一开口处的第一发声模块可以复用于声学参数测量设备和声学材料测量设备。通过更换连接在检测管第二开口处的模块组成不同的测量设备，在第二开口设置第一检测模块即可构成声学参数测量设备从而实现对待测麦克风的声学参数测量，在第二开口设置第二发声模块即可构成声学材料测量设备实现对待测声学材料的声学参数的测量。本发明通过提供具有检测管和第一发声模块的结构，使得在更换部分模块后可以对多种待测产品进行不同的声学测量，降低了检测占用空间大小、检测难度和检测成本。

技术特征：

1.一种声学参数测量设备，其特征在于，所述声学参数测量设备包括：

2.根据权利要求1所述的声学参数测量设备，其特征在于，所述控制电路(10)被配置为向所述第一扬声器(21)发送第一检测信号以使所述第一扬声器(21)发出第一检测声音信号，并向所述第二扬声器(31)发送第一抵消信号以使所述第二扬声器(31)发出第一抵消声音信号；

3.根据权利要求2所述的声学参数测量设备，其特征在于，所述控制电路(10)包括信号延迟器件(8)，所述信号延迟器件(8)为第一滤波器或延迟组件。

4.根据权利要求3所述的声学参数测量设备，其特征在于，所述第一检测声音信号和所述第一抵消声音信号叠加后形成第一参考信号，所述第二检测声音信号和所述第二抵消声音信号叠加后形成第二参考信号；

5.根据权利要求4所述的声学参数测量设备，其特征在于，所述参考麦克风(4)包括第一参考麦克风(41)和第二参考麦克风(42)，所述第一参考麦克风(41)靠近所述第一发声模块(2)设置并接收所述第二参考信号，所述第二参考麦克风(42)靠近所述第二发声模块(3)设置并接收所述第一参考信号。

6.根据权利要求5所述的声学参数测量设备，其特征在于，所述控制电路(10)还包括第二滤波器(9)。

7.根据权利要求6所述的声学参数测量设备，其特征在于，所述第二滤波器(9)为最小均方滤波器。

8.根据权利要求7所述的声学参数测量设备，其特征在于，所述控制电路(10)向所述第一扬声器(21)发送第一检测信号，并向所述第二扬声器(31)发送第一抵消信号时，所述信号延迟器件(8)被配置为使所述第一抵消信号延迟输出，所述第二滤波器(9)被配置为修正所述第一抵消信号；

9.根据权利要求8所述的声学参数测量设备，其特征在于，所述第一发声模块(2)还包括设置在所述第一扬声器(21)远离所述第二扬声器(31)一侧的第一吸音材料(22)；以及/或者

10.根据权利要求1所述的声学参数测量设备，其特征在于，至少一个所述检测孔(111)到所述第一扬声器(21)的距离与到所述第二扬声器(31)的距离相等。

11.根据权利要求1所述的声学参数测量设备，其特征在于，所述检测管(1)的内径为6cm，长度为50cm。

12.一种声学材料测量设备，其特征在于，所述声学材料测量设备包括：

13.根据权利要求12所述的声学材料测量设备，其特征在于，所述反射结构(61)设置在所述第二开口(13)处并封闭所述第二开口(13)。

14.根据权利要求12所述的声学材料测量设备，其特征在于，所述第一扬声器(21)产生初始声音信号，所述初始声音信号穿过所述待测声学材料(52)后被所述反射结构(61)反射并再次穿过待测声学材料(52)形成检测声音信号；

15.根据权利要求14所述的声学材料测量设备，其特征在于，所述检测孔(111)的形状与所述检测麦克风(7)的形状相匹配，所述检测麦克风(7)穿过所述检测孔(111)设置在所述检测管(1)内。

16.根据权利要求15所述的声学材料测量设备，其特征在于，所述侧壁(11)具有多个检测孔(111)，多个检测孔(111)到所述第一开口(12)的距离均不相同，所述声学材料测量设备包括两个检测麦克风(7)，两个所述检测麦克风(7)分别设置在不同的所述检测孔(111)中。

17.根据权利要求16所述的声学材料测量设备，其特征在于，所述检测麦克风(7)设置在所述第一发声模块(2)和所述第一检测模块(6)之间。

18.根据权利要求12-17中任一项所述的声学材料测量设备，其特征在于，所述第一发声模块(2)还包括设置在所述第一扬声器(21)远离所述第一检测模块(6)一侧的第一吸音材料(22)。

19.根据权利要求15所述的声学材料测量设备，其特征在于，所述检测管(1)的内径为10cm。

技术总结本发明实施例公开了一种声学参数测量设备和声学材料测量设备。检测管和设置在检测管第一开口处的第一发声模块可以复用于声学参数测量设备和声学材料测量设备，通过更换连接在检测管第二开口处的模块组成不同的测量设备，在第二开口设置第一检测模块即可构成声学参数测量设备从而实现对待测麦克风的声学参数测量，在第二开口设置第二发声模块即可构成声学材料测量设备实现对待测声学材料的声学参数的测量。本发明通过提供具有检测管和第一发声模块的结构，使得在更换部分模块后可以对多种待测产品进行不同的声学测量，降低了检测占用空间大小、检测难度和检测成本。技术研发人员：林宇宣,黄教汎,廖冠淳,萧哲宜,郑咏声,赖昕碒受保护的技术使用者：昆山联滔电子有限公司技术研发日：技术公布日：2024/8/5