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触控显示屏的电磁干扰检测方法、装置、设备及存储介质与流程

  • 国知局
  • 2024-08-30 15:02:11

本发明涉及智慧测控领域,尤其涉及一种触控显示屏的电磁干扰检测方法、装置、设备及存储介质。

背景技术:

1、在现代科技快速发展的环境下,触控显示屏作为人机交互的重要界面之一,在消费电子、工业控制和医疗设备等领域广泛应用。然而,触控显示屏的性能容易受到周围环境中电磁干扰的影响,这些干扰可能导致触控精度下降、触控延迟增加以及误触率上升,直接影响到用户体验和设备的可靠性。

2、现有的触控显示屏电磁干扰检测技术主要集中在减少干扰对显示内容和信号传输的影响,而对于触控性能的干扰监测和补偿仍然相对不足。目前的方法缺乏针对不同电磁干扰类型的全面评估机制,无法有效地预测和补偿干扰条件下的触控性能变化。此外,现有的研究大多数停留在定性分析或局部干预阶段,缺乏整体性的系统分析和优化策略,无法有效应对复杂多变的现实应用场景中的电磁干扰问题。因此,需要开展更深入的研究,建立全面的触控性能评估体系和智能化的干扰监测与补偿技术,以提升触控显示屏在各种环境条件下的稳定性和可靠性。

技术实现思路

1、本发明提供了一种触控显示屏的电磁干扰检测方法、装置、设备及存储介质。

2、本发明第一方面提供了一种触控显示屏的电磁干扰检测方法,所述触控显示屏的电磁干扰检测方法包括:

3、预设若干种电磁干扰信号类型,计算每种电磁干扰信号类型的干扰强度指数;所述每种电磁干扰信号类型对应不同的电磁强度、频率范围和持续时间;

4、根据预设的电磁干扰信号类型,依次对所述触控显示屏进行干扰触控测试,得到所述触控显示屏在每种干扰强度指数下,对应的触控性能指标;所述触控性能指标包括:触控延迟、误触率和触控精度;

5、基于预设的回归算法,得到所述干扰强度指数与所述触控性能指标的第一映射关系;

6、实时监测触控显示屏的环境电磁干扰,得到当前电磁干扰数据,并根据所述第一映射关系,预测所述触控显示屏的当前触控性能指标;

7、根据所述当前触控性能指标,对所述触控显示屏进行反补偿。

8、可选的,在本发明第一方面的第一种实现方式中,所述预设若干种电磁干扰信号类型,计算每种电磁干扰信号类型的干扰强度指数;所述每种电磁干扰信号类型对应不同的电磁强度、频率范围和持续时间,包括:

9、预设所述电磁干扰信号的干扰参数;

10、所述干扰参数包括:干扰功率、干扰频率和干扰持续时间;

11、根据所述干扰参数计算所述干扰强度指数;

12、所述干扰强度指数的计算公式为:

13、;

14、其中是干扰强度指数;是干扰功率;f是干扰频率;t是干扰持续时间;、、和是调整因子,用于平衡各干扰参数在干扰强度指数中的相对重要性。

15、可选的,在本发明第一方面的第二种实现方式中,所述根据预设的电磁干扰信号类型,依次对所述触控显示屏进行干扰触控测试,得到所述触控显示屏在每种干扰强度指数下,对应的触控性能指标,包括:

16、所述触控性能指标包括:触控延迟、误触率和触控精度;

17、在每种所述电磁干扰类型下,按照预设的触控点坐标、触控持续时间和滑动路径的进行所述干扰触控测试;

18、记录从用户触控动作到系统响应的时间差,得到所述触控延迟;

19、统计在每种所述电磁干扰类型下,所述触控显示屏误识别的触控次数与总触控次数的比例,计算所述误触率;

20、计算在每种所述干扰强度指数下所述触控显示屏的实际触控坐标与目标触控坐标的平均坐标偏差,评估所述触控精度;

21、根据所述触控显示屏的触控延迟、误触率和触控精度,生成所述触控性能指标。

22、可选的,在本发明第一方面的第三种实现方式中,所述计算所述触控显示屏的实际触控坐标与目标触控坐标的平均坐标偏差,评估所述触控精度,包括:

23、检测并记录每次触控测试实际触控到的坐标,得到实际触控坐标;

24、预设每次触控测试的目标触控坐标;

25、计算所有触控测试在x轴上的平均偏差以及在y轴上的平均偏差;

26、通过欧几里得距离公式,计算平均坐标偏差;

27、所述欧几里得距离公式为:;

28、其中,为对应第j次触控测试的干扰强度指数下的平均坐标偏差;

29、根据所述平均坐标偏差,比较预设的阈值,评估所述触控显示屏在各干扰强度指数下,对应的触控精度。

30、可选的,在本发明第一方面的第四种实现方式中,所述基于预设的回归算法,得到所述干扰强度指数与所述触控性能指标的第一映射关系,包括:

31、将所述干扰强度指数与所述触控性能指标输入预设的回归算法;

32、所述回归算法的表达式为:

33、;

34、其中,a是特征变量,即干扰强度指数;b是目标变量,即触控性能指标;截距项;是斜率系数;是误差项,表示不可观测的随机扰动;

35、基于最小二乘法对所述干扰强度指数和所述触控性能指标进行拟合,计算所述截距项和所述斜率系数,得到所述第一映射关系;

36、所述截距项和所述斜率系数基于最小二乘法的计算式为:

37、;;

38、其中,和分别是特征变量a和目标变量b的平均值。

39、可选的,在本发明第一方面的第五种实现方式中,所述实时监测触控显示屏的环境电磁干扰,得到当前电磁干扰数据,并根据所述第一映射关系,预测所述触控显示屏的当前触控性能指标,包括:

40、通过内置的传感器,实时监测触控显示屏的环境电磁干扰,获取所述环境电磁干扰的电磁强度、频率范围和持续时间;

41、根据所述环境电磁干扰的电磁强度、频率范围和持续时间,基于所述干扰强度指数的计算公式,计算当前干扰强度指数;

42、将所述当前干扰强度指数输入预设所述回归算法,根据所述第一映射关系,预测所述触控显示屏的当前触控性能指标。

43、可选的,在本发明第一方面的第六种实现方式中,所述根据所述当前触控性能指标,对所述触控显示屏进行反补偿,包括:

44、根据所述触控显示屏的当前触控性能指标,基于第一映射关系,预测当前的触控延迟、当前的误触率和当前的触控精度;

45、将所述当前的触控延迟,与无干扰条件下所述触控显示屏的平均触控延迟做差,得到延迟差;

46、根据所述延迟差,对所述触控显示屏的采样频率进行反补偿调节;若延迟差越大,则对应调节更高的采样频率;

47、将所述当前的误触率,与无干扰条件下所述触控显示屏的平均误触率做差,得到误触水平;

48、根据所述误触水平,对所述触控显示屏的灵敏度进行反补偿调节;误触水平越高,则对应调节更低的灵敏度;

49、根据所述当前的触控精度,匹配当前的平均坐标偏差;

50、将当前检测到的实际触控的坐标减去当前的平均坐标偏差,得到当前的优化坐标;

51、根据所述当前的优化坐标,生成触控响应。

52、本发明第二方面提供了一种触控显示屏的电磁干扰检测装置,所述触控显示屏的电磁干扰检测装置包括:设置模块、电磁干扰发生器、获取模块和处理模块;各部分通信连接;

53、可选的,在本发明第二方面的第一种实现方式中,所述设置模块,用于预设若干种电磁干扰信号类型,计算每种电磁干扰信号类型的干扰强度指数;所述每种电磁干扰信号类型对应不同的电磁强度、频率范围和持续时间;

54、可选的,在本发明第二方面的第二种实现方式中,所述电磁干扰发生器:根据预设的电磁干扰信号类型,依次对所述触控显示屏进行干扰触控测试,

55、可选的,在本发明第二方面的第三种实现方式中,获取模块,用于得到所述触控显示屏在每种干扰强度指数下,对应的触控性能指标;所述触控性能指标包括:触控延迟、误触率和触控精度;实时监测触控显示屏的环境电磁干扰,得到当前电磁干扰数据,

56、可选的,在本发明第二方面的第四种实现方式中,处理模块,用于基于预设的回归算法,得到所述干扰强度指数与所述触控性能指标的第一映射关系;根据所述第一映射关系,预测所述触控显示屏的当前触控性能指标;根据所述当前触控性能指标,对所述触控显示屏进行反补偿,并执行如上述的触控显示屏的电磁干扰检测方法。

57、本发明第三方面提供了一种触控显示屏的电磁干扰检测设备,包括:存储器和至少一个处理器,所述存储器中存储有指令;所述至少一个处理器调用所述存储器中的所述指令,以使得所述触控显示屏的电磁干扰检测设备执行上述的触控显示屏的电磁干扰检测方法。

58、本发明的第四方面提供了一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质中存储有指令,当其在计算机上运行时,使得计算机执行上述的触控显示屏的电磁干扰检测方法。

59、本发明提供的技术方案中,有益效果:通过预设多种电磁干扰信号类型并计算干扰强度指数,系统能够对不同干扰条件下的触控性能进行全面评估。这种方法不仅考虑了电磁干扰的强度、频率和持续时间,还能精确测量触控延迟、误触率和触控精度等关键性能指标。引入实时监测电磁干扰数据的功能,系统能够即时感知当前环境中的电磁干扰强度和特征。结合预设的回归算法,可以准确预测触控显示屏在不同电磁干扰下的实际性能表现,从而及时采取补偿措施,保证用户体验的稳定性和可靠性。根据预测的触控性能指标,系统实施智能化的反补偿调节。例如,根据当前触控延迟和误触率与无干扰状态的对比,动态调整触控显示屏的采样频率和灵敏度,以最大限度地减少干扰对用户操作的影响。基于计算得到的平均坐标偏差,系统能够实现对实际触控坐标的精确优化,从而提高触控精度。这种方法不仅仅局限于传统的干扰抑制,而是通过数据驱动的方式进行精细化优化,有效应对复杂多变的实际应用场景。

60、综上,本发明能够有效检测和提升触控显示屏在各种电磁干扰环境下的稳定性和性能可靠性,从而显著改善用户体验和系统可靠性。

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