基于激光测距的房屋变形量测装置及方法与流程

本申请涉及变形监测，特别是涉及一种基于激光测距的房屋变形量测装置及方法。

背景技术：

1、房屋在长时间的使用后，由于地质及气候的影响会使得房屋发生变形，房屋变形包括沉降、水平位移和倾斜等，若是不能准确地测量房屋的变形量，也就无法保证房屋的安全性。

2、在测量房屋的变形量方面有许多常用的方法，例如用水准仪法量测沉降、用静力水准仪法量测相对沉降、用全站仪法量测水平位移、用倾角仪法量测倾斜等等。

3、但是现有的各种测量方法均有其不足之处，如水准仪法只能人工测读、静力水准仪法只能量测相对沉降、全站仪法仪器设备比较贵且受气候影响不利于全天候量测、倾角仪受温度影响难以准确量测倾角，导致现有的测量方法不能准确获取房屋倾斜、沉降和变形的相关监测值，且监测值的精度较低，难以根据监测值去判断房屋的变形量。

技术实现思路

1、基于此，有必要针对现有的测量方法不能准确获取房屋倾斜、沉降和变形的相关监测值，且监测值的精度较低，难以根据监测值去判断房屋的变形量的问题，提供一种基于激光测距的房屋变形量测装置及方法。

2、一方面，本申请提供一种基于激光测距的房屋变形量测装置，所述基于激光测距的房屋变形量测装置包括：

3、测量组件，所述测量组件包括基准杆、多个激光反射板和多个激光传感器，所述基准杆固定连接于水平面，所述激光传感器固定连接于基准杆，所述激光反射板设置于被测房屋墙面，所述激光反射板与激光传感器一一对应；

4、处理组件，所述处理组件用于接收测量组件的测量数据并以测量数据为基础，计算被测房屋的相关变形量。

5、另一方面，本申请还提供一种基于激光测距的房屋变形量测方法，所述基于激光测距的房屋变形量测方法包括：

6、固定基准杆；

7、固定激光传感器与激光反射板，调节激光传感器和激光反射板的高度，使得激光传感器与激光反射板对应；

8、启动激光传感器，测量激光传感器到激光反射板的距离，根据测量距离计算房屋的变形量。

9、本申请涉及一种基于激光测距的房屋变形量测装置及方法，所述基于激光测距的房屋变形量测装置及方法首先固定基准杆，之后固定激光传感器与激光反射板，调节激光传感器和激光反射板的高度，使得激光传感器与激光反射板对应，最后启动激光传感器，接收激光反射板的反射光线，根据测量数据计算房屋的变形量，本申请所述的基于激光测距的房屋变形量测方法能够以激光传感器和激光反射板的测量数据为基准，计算房屋倾斜、沉降和变形的具体数值，且有较高的监测精度。

技术特征：

1.一种基于激光测距的房屋变形量测装置，其特征在于，所述基于激光测距的房屋变形量测装置包括：

2.根据权利要求1所述的基于激光测距的房屋变形量测装置，其特征在于，所述激光反射板包括第一反射板、第二反射板和第三反射板，所述第一反射板、第二反射板和第三反射板中的至少一个激光反射板的反射面为折面。

3.一种基于激光测距的房屋变形量测方法，其特征在于，应用于权利要求1或2所述的基于激光测距的房屋变形量测装置，所述基于激光测距的房屋变形量测方法包括：

4.根据权利要求3所述的基于激光测距的房屋变形量测方法，其特征在于，所述固定基准杆和固定激光传感器与激光反射板，调节激光传感器和激光反射板的高度，使得每一个激光传感器与每一个激光反射板相对设置，包括：

5.根据权利要求4所述的基于激光测距的房屋变形量测装置，其特征在于，所述启动激光传感器，接收激光反射板的反射激光，根据测量数据计算房屋的变形量，包括：

6.根据权利要求5所述的基于激光测距的房屋变形量测装置，其特征在于，所述以激光传感器与房屋被测墙面之间的距离为基础，计算房屋的变形量，包括：

7.根据权利要求6所述的基于激光测距的房屋变形量测装置，其特征在于，所述以激光传感器与房屋被测墙面之间的距离为基础，计算房屋的变形量，还包括：

8.根据权利要求7所述的基于激光测距的房屋变形量测装置，其特征在于，所述以激光传感器与房屋被测墙面之间的距离为基础，计算房屋的变形量，还包括：

9.根据权利要求8所述的基于激光测距的房屋变形量测装置，其特征在于，所述以激光传感器与房屋被测墙面之间的距离为基础，计算房屋的变形量，还包括：

10.根据权利要求9所述的基于激光测距的房屋变形量测装置，其特征在于，所述以激光传感器与房屋被测墙面之间的距离为基础，计算房屋的变形量，还包括：

技术总结本申请涉及一种基于激光测距的房屋变形量测装置及方法，所述基于激光测距的房屋变形量测装置及方法首先固定基准杆，之后固定激光传感器与激光反射板，调节激光传感器和激光反射板的高度，使得激光传感器与激光反射板对应，最后启动激光传感器，测量激光传感器到激光反射板的距离，根据测量距离计算房屋的变形量，本申请所述的基于激光测距的房屋变形量测方法能够以激光传感器和激光反射板的测量数据为基准，计算房屋倾斜、沉降和变形的具体数值，且有较高的监测精度。技术研发人员：吴加昊,简晓红,吴为民,毛春裕,陈礼鹏,范瑞超,范启辰,王哲杰受保护的技术使用者：浙江瑞邦科特检测有限公司技术研发日：技术公布日：2024/9/2