一种微波射频测试装置的制作方法

本发明涉及信息测试领域，尤其涉及一种微波射频测试装置。

背景技术：

1、微波管为在微波波段工作的晶体管，一般微波波段的频率在300mhz-300ghz，属于高频工作的微波射频器件，在测试微波晶体管时，由于微波晶体管的频率高，在测试时极易发热，导致测试不便。

2、为了减少发热量，一般都是少量的微波晶体管一起测试，导致测试效率不高。

技术实现思路

1、为了克服现有技术的不足，本发明的目的在于提供一种微波射频测试装置，其测试微波管方便且效率高。

2、本发明的目的采用以下技术方案实现：

3、一种微波射频测试装置，包括控制箱和位于所述控制箱两侧的测试架，所述测试架上设置有多层具有开口的测试层，所述测试层包括信号源、测试台和检波器，所述信号源和检波器均与所述控制箱电性连接；所述测试台包括驱动组件、温控组件和多个用于安装待测器件的导热安装板，所述驱动组件与所述控制箱电性连接，所述温控组件包括多个第一风机、多个散热筒和多个加热板，所述第一风机安装在所述散热筒的进风口上，所述导热安装板固定在所述加热板上，所述导热安装板与所述开口相对设置，所述加热板固定在所述散热筒上，所述加热板和所述第一风机均与所述驱动组件电性连接。

4、优选的，所述温控组件还包括散热通道和导热板，所述散热通道与所述散热筒的出风口连通，所述加热板通过所述导热板与所述导热安装板连接。

5、优选的，所述测试台还包括盖板和两个侧板，所述盖板固定在两个侧板之间，多个散热筒均固定在所述盖板的下端，多个导热安装板均卡接在所述盖板上。

6、优选的，所述温控组件还包括温度传感器，所述温度传感器固定在所述加热板上，所述温度传感器与所述控制箱电性连接。

7、优选的，所述控制箱包括工控机和与所述工控机电性连接的电源，所述驱动组件、所述信号源和所述检波器均与所述工控机电性连接。

8、优选的，所述驱动组件包括驱动板和与所述驱动板电性连接的插接座、fpga板及散热铜条，所述fpga板通过所述插接座与所述工控机电性连接，所述驱动板通过所述散热铜条与所述电源电性连接。

9、优选的，所述驱动组件还包括第一散热片和第二风机，所述第一散热片和第二风机均设置在所述驱动板上，所述第二风机与所述散热铜条相对设置。

10、优选的，所述测试架还包括顶板和与所述顶板垂直连接的背板，所述顶板上设置有与所述控制箱可拆卸连接的活动夹，所述背板上设置有用于与待测器件信号连接的接口，所述接口与所述驱动组件电性连接。

11、优选的，所述顶板上还设置有多个第三风机，所述背板上还设置有多个第四风机，多个第三风机分别与所述信号源和所述测试台相对设置，所述第四风机与所述检波器相对设置。

12、优选的，所述测试层还包括与待测器件信号连接的功率分配器和衰减器，所述功率分配器与所述信号源信号连接，所述衰减器与所述检波器电性连接。

13、相比现有技术，本发明的有益效果在于：

14、本申请公开的微波射频测试装置，其公开的测试台包括温控组件，该温控组件包括多个第一风机、多个散热筒和多个加热板，所述第一风机和所述散热筒能给所述导热安装板降温，而能给待测器件降温；所述加热板给所述导热安装板升温，而能给待测器件升温。而能对待测器件的温度进行控制，减少了高温对测试的影响，使测试更方便。

15、另外，所述开口即利于散热，也利于把待测器件安装在所述导热安装板上，所述测试台上设置有多个导热安装板，而能同时测试多个待测器件，从而提高了测试效率。

技术特征：

1.一种微波射频测试装置，其特征在于：包括控制箱和位于所述控制箱两侧的测试架，所述测试架上设置有多层具有开口的测试层，所述测试层包括信号源、测试台和检波器，所述信号源和检波器均与所述控制箱电性连接；所述测试台包括驱动组件、温控组件和多个用于安装待测器件的导热安装板，所述驱动组件与所述控制箱电性连接，所述温控组件包括多个第一风机、多个散热筒和多个加热板，所述第一风机安装在所述散热筒的进风口上，所述导热安装板固定在所述加热板上，所述导热安装板与所述开口相对设置，所述加热板固定在所述散热筒上，所述加热板和所述第一风机均与所述驱动组件电性连接。

2.根据权利要求1所述的微波射频测试装置，其特征在于：所述温控组件还包括散热通道和导热板，所述散热通道与所述散热筒的出风口连通，所述加热板通过所述导热板与所述导热安装板连接。

3.根据权利要求2所述的微波射频测试装置，其特征在于：所述测试台还包括盖板和两个侧板，所述盖板固定在两个侧板之间，多个散热筒均固定在所述盖板的下端，多个导热安装板均卡接在所述盖板上。

4.根据权利要求3所述的微波射频测试装置，其特征在于：所述温控组件还包括温度传感器，所述温度传感器固定在所述加热板上，所述温度传感器与所述控制箱电性连接。

5.根据权利要求1所述的微波射频测试装置，其特征在于：所述控制箱包括工控机和与所述工控机电性连接的电源，所述驱动组件、所述信号源和所述检波器均与所述工控机电性连接。

6.根据权利要求5所述的微波射频测试装置，其特征在于：所述驱动组件包括驱动板和与所述驱动板电性连接的插接座、fpga板及散热铜条，所述fpga板通过所述插接座与所述工控机电性连接，所述驱动板通过所述散热铜条与所述电源电性连接。

7.根据权利要求6所述的微波射频测试装置，其特征在于：所述驱动组件还包括第一散热片和第二风机，所述第一散热片和第二风机均设置在所述驱动板上，所述第二风机与所述散热铜条相对设置。

8.根据权利要求1所述的微波射频测试装置，其特征在于：所述测试架还包括顶板和与所述顶板垂直连接的背板，所述顶板上设置有与所述控制箱可拆卸连接的活动夹，所述背板上设置有用于与待测器件信号连接的接口，所述接口与所述驱动组件电性连接。

9.根据权利要求8所述的微波射频测试装置，其特征在于：所述顶板上还设置有多个第三风机，所述背板上还设置有多个第四风机，多个第三风机分别与所述信号源和所述测试台相对设置，所述第四风机与所述检波器相对设置。

10.根据权利要求1所述的微波射频测试装置，其特征在于：所述测试层还包括与待测器件信号连接的功率分配器和衰减器，所述功率分配器与所述信号源信号连接，所述衰减器与所述检波器电性连接。

技术总结本发明公开了一种微波射频测试装置，包括控制箱和位于所述控制箱两侧的测试架，所述测试架上设置有多层具有开口的测试层，所述测试层包括信号源、测试台和检波器，所述信号源和检波器均与所述控制箱电性连接；所述测试台包括驱动组件、温控组件和多个用于安装待测器件的导热安装板，所述驱动组件与所述控制箱电性连接，所述温控组件包括多个第一风机、多个散热筒和多个加热板，所述第一风机安装在所述散热筒的进风口上，所述导热安装板固定在所述加热板上，所述导热安装板与所述开口相对设置，所述加热板固定在所述散热筒上，所述加热板和所述第一风机均与所述驱动组件电性连接。其测试微波管方便且效率高。技术研发人员：曹佶,赵宝忠,林向前受保护的技术使用者：浙江杭可仪器有限公司技术研发日：技术公布日：2024/9/12