一种电子器件的老化测试系统及测试方法与流程

本发明实施例涉及测试，尤其涉及一种电子器件的老化测试系统及测试方法。

背景技术：

1、芯片老化试验的最终目的是预测产品的使用寿命，评估或预测制造商生产的产品的耐久性；随着半导体技术的快速发展和芯片复杂性的逐年增加，芯片测试贯穿了整个设计开发和生产过程，越来越具有挑战性。老化测试是一项重要的测试，用于在交付之前消除早期故障产品。

2、现有的老化测试系统存在老化测试效率较低的问题，成为业内亟待解决的技术问题。

技术实现思路

1、本发明实施例提供一种电子器件的老化测试系统及测试方法，以解决现有的老化测试系统存在老化测试效率较低的问题。

2、为实现上述技术问题，本发明采用以下技术方案：

3、本发明实施例提供了一种电子器件的老化测试系统，包括：

4、电源模块，用于连接目标器件，并向所述目标器件供电；

5、数据采集模块，用于连接所述目标器件，并采集所述目标器件的参数信息；

6、控制模块，与所述数据采集模块连接，所述控制模块用于根据所述目标器件的参数信息，生成第一控制信号；

7、电源控制器，连接于所述电源模块和所述控制模块之间，所述电源控制器包括第一同步串行i2c接口，所述控制模块通过所述第一同步串行i2c接口与所述电源控制器连接，所述第一同步串行i2c接口用于向所述电源控制器实时传输所述第一控制信号，所述第一控制信号用于实时调节所述电源模块向所述目标器件传输的电压值。

8、可选的，所述电子器件的老化测试系统，还包括：

9、第一连接线，所述第一连接线包括同步串行i2c总线；

10、所述控制模块包括第二同步串行i2c接口，所述第一连接线连接于所述第二同步串行i2c接口和所述第一同步串行i2c接口之间，所述第一连接线用于通过同步串行i2c总线将所述第一控制信号传输至所述电源控制器。

11、可选的，所述控制模块，还包括：

12、通用输入输出单元，所述通用输入输出单元与所述电源控制器连接，所述通用输入输出单元用于根据所述目标器件的参数信息，生成关断控制信号，或导通控制信号；关断控制信号用于控制所述电源模块关断，所述导通控制信号用于控制所述电源模块导通；

13、在所述通用输入输出单元生成所述关断控制信号之后，并在所述通用输入输出单元生成所述导通控制信号之前，所述电源控制器用于响应于所述第一控制信号，调节所述电源模块的电压值。可选的，所述电源控制器包括寄存器，所述寄存器与所述第一同步串行i2c接口连接，所述寄存器用于根据所述第一控制信号，实现不同的老化测试电压值的设置；

14、所述电源模块用于输出设置后的所述老化测试电压值。

15、可选的，所述电子器件的老化测试系统，还包括：

16、第二连接线，所述第二连接线包括通用异步收发传输线uart，所述第二连接线连接于所述数据采集模块和所述目标器件之间，所述第二连接线用于传输所述目标器件的参数信息。

17、可选的，所述电子器件的老化测试系统，还包括：

18、第三传输模块，所述第三传输模块包括usb转串口单元；所述第三传输模块与所述数据采集模块连接；

19、上位机，与所述第三传输模块连接，所述上位机用于通过所述第三传输模块获取所述目标器件的参数信息。

20、可选的，所述电子器件的老化测试系统，还包括：

21、老化试验座，用于固定所述目标器件；

22、测试电路板，所述测试电路板用于设置所述老化试验座、所述电源模块、所述数据采集模块、所述控制模块和所述电源控制器。

23、根据本发明的另一方面，本实施例提供一种电子器件的老化测试方法，包括：

24、通过电源模块连接目标器件，并向所述目标器件供电；

25、通过数据采集模块连接所述目标器件，并采集所述目标器件的参数信息；

26、通过控制模块根据所述目标器件的参数信息，生成第一控制信号；

27、通过电源控制器的第一同步串行i2c接口向所述电源控制器实时传输所述第一控制信号，以实时调节所述电源模块向所述目标器件传输的电压值。

28、可选的，在所述通过电源控制器的第一同步串行i2c接口向所述电源控制器实时传输所述第一控制信号，以实时调节所述电源模块向所述目标器件传输的电压值之后，还包括：

29、通过所述电源模块向所述目标器件传输调节后的所述电压，所述目标器件在所述调节后的所述电压驱动下，运行预设时间；

30、通过所述数据采集模块采集运行预设时间后的所述目标器件的参数信息；

31、通过上位机对所述目标器件的参数信息进行老化分析，并输出老化分析结果。

32、可选的，在所述通过所述数据采集模块采集运行预设时间后的所述目标器件的参数信息之后，还包括：

33、通过所述控制模块控制所述电源控制器的寄存器，根据所述第一控制信号，实现不同的老化测试电压值的设置；

34、通过所述电源模块输出设置后的所述老化测试电压值至所述目标器件。

35、本发明实施例提供的电子器件的老化测试系统，通过设置数据采集模块采集目标器件的参数信息。并通过控制模块根据目标器件的参数信息，生成第一控制信号。第一控制信号用于实时调节电源模块向所述目标器件传输的电压值。第一控制信号通过电源控制器的第一同步串行i2c接口向电源模块传输。第一同步串行i2c接口能快速向电源控制器实时传输第一控制信号，以便电源控制器能实时并精确控制老化测试试验施加至目标器件的测试电压值，便于提高对目标器件进行老化测试的效率。

技术特征：

1.一种电子器件的老化测试系统，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的老化测试系统，其特征在于，所述电子器件的老化测试系统，还包括：

3.根据权利要求2所述的老化测试系统，其特征在于，所述控制模块，还包括：

4.根据权利要求1所述的老化测试系统，其特征在于，

5.根据权利要求1所述的老化测试系统，其特征在于，所述电子器件的老化测试系统，还包括：

6.根据权利要求1所述的老化测试系统，其特征在于，所述电子器件的老化测试系统，还包括：

7.根据权利要求1所述的老化测试系统，其特征在于，所述电子器件的老化测试系统，还包括：

8.一种电子器件的老化测试方法，其特征在于，包括：

9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，在所述通过电源控制器的第一同步串行i2c接口向所述电源控制器实时传输所述第一控制信号，以实时调节所述电源模块向所述目标器件传输的电压值之后，还包括：

10.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，在所述通过所述数据采集模块采集运行预设时间后的所述目标器件的参数信息之后，还包括：

技术总结本发明实施例公开一种电子器件的老化测试系统及测试方法。该电子器件的老化测试系统包括电源模块，用于连接目标器件，并向目标器件供电；数据采集模块，用于连接目标器件，并采集目标器件的参数信息；控制模块，与数据采集模块连接，控制模块用于根据目标器件的参数信息，生成第一控制信号；电源控制器，连接于电源模块和控制模块之间，电源控制器包括第一同步串行I<supgt;2</supgt;C接口，控制模块通过第一同步串行I<supgt;2</supgt;C接口与电源控制器连接，第一同步串行I<supgt;2</supgt;C接口用于向电源控制器实时传输第一控制信号，第一控制信号用于实时调节所述电源模块向所述目标器件传输的电压值。本实施例提供的技术方案解决现有的老化测试系统存在老化测试效率较低的问题。技术研发人员：马玉琪受保护的技术使用者：上海思朗万维计算技术有限责任公司技术研发日：技术公布日：2024/11/14