像素电路、显示面板、测试方法、控制器及显示装置与流程

本发明涉及显示，更具体地，涉及一种像素电路、显示面板、测试方法、控制器及显示装置。

背景技术：

1、自动光学检测(auto optical inspection，aoi)在硅基oled(organlc lightemitting diode，有机发光二极管)中有着较为重要的作用，主要用于对模组点屏异常的快速排查。现有的aoi模式分为两种：五点aoi和两点aoi，相比于五点aoi，两点aoi的搭建更加简便，不容易出错，因此对于两点aoi的改进与运用显得更加重要。

2、然而传统的两点aoi模式下的点屏方式只能确定oled阴极电压，可能出现输入的点屏测试电压与oled两端的真实跨压不一致的情况。在此情况下对oled进行aoi点屏测试的结果也是不准确的，难以实现显示异常等情况的准确排查。

3、因此，亟需一种新的技术方案以解决上述技术问题。

技术实现思路

1、在技术实现要素：部分中引入了一系列简化形式的概念，这将在具体实施方式部分中进一步详细说明。本发明的发明内容部分并不意味着要试图限定出所要求保护的技术方案的关键特征和必要技术特征，更不意味着试图确定所要求保护的技术方案的保护范围。

2、第一方面，本发明提出了一种像素电路，包括：

3、驱动单元，经由第一节点与发光器件电连接，驱动单元用于向发光器件提供驱动信号；

4、测试信号输入模块，经由第一节点与发光器件的阳极电连接，测试信号输入模块用于为发光器件的阳极提供测试电压；

5、保护单元，经由第一节点分别与测试信号输入模块和发光器件的阳极电连接，其中，保护单元包括串联的电阻和第一晶体管，第一晶体管用于在第一测试控制信号的作用下导通或截止。

6、在一些实施方式中，第一晶体管的栅极用于接收第一测试控制信号，电阻的一端与第一晶体管的第一电极电连接，另一端接地，第一晶体管的第二电极与第一节点电连接，其中，第一电极是第一晶体管的源极和漏极中的一者，第二电极是第一晶体管的源极和漏极中的另一者。

7、在一些实施方式中，电阻和第一晶体管的栅极同层设置，其中，电阻的电阻率大于第一晶体管的栅极的电阻率。

8、在一些实施方式中，测试信号输入模块包括测试引线，测试引线的一端用于与驱动电路电连接，另一端经由第一节点与发光器件的阳极电连接，其中，驱动电路用于提供测试电压，测试引线包括多个弯曲段和/或弯折段。

9、在一些实施方式中，测试信号输入模块包括复位单元，复位单元的第一端与第一节点电连接，复位单元的第二端和第三端均用于连接驱动电路，其中，驱动电路用于向复位单元提供测试电压。

10、在一些实施方式中，复位单元包括第二晶体管，第二晶体管的栅极用于接入第二测试控制信号，以使第二晶体管在第二测试控制信号的作用下导通或截止，第二晶体管的第二电极与驱动电路电连接，第二晶体管的第一电极经由第一节点与发光器件的阳极电连接，第二晶体管的第二电极用于在复位单元截止的情况下接收测试电压，第二晶体管的第二电极在复位单元导通的情况下接地。

11、在一些实施方式中，多个发光器件连接于相同的保护单元；和/或，多个发光器件连接于相同的测试引线。

12、在一些实施方式中，驱动单元包括：

13、第三晶体管，用于在第一控制信号的控制下导通或截止；

14、第四晶体管，第四晶体管的栅极用于接入第二控制信号，以使第四晶体管在第二控制信号的控制下导通或截止，第四晶体管的第一电极与驱动电路电连接；

15、驱动晶体管，驱动晶体管的栅极与第三晶体管的第一电极电连接，用于在第三晶体管导通的情况下接收第一控制信号，驱动晶体管的第一电极与发光器件的阳极电连接，驱动晶体管的第二电极与第四晶体管的第二电极电连接，驱动晶体管用于在第一控制信号和第二控制信号的控制下驱动发光器件发光。

16、第二方面，还提出了一种显示面板，包括多个如上所述的像素电路；

17、发光器件，发光器件与像素电路电连接。

18、在一些实施方式中，包括驱动电路，驱动电路与像素电路的测试信号输入模块和保护单元电连接。

19、显示面板包括：

20、显示区域和非显示区域，非显示区域围绕显示区域；

21、在多个发光器件连接于相同的保护单元的情况下，像素电路的驱动单元设置于显示区域，像素电路的保护单元设置于非显示区域；

22、驱动电路设置于非显示区域。

23、在一些实施方式中，显示区域包括多个子显示区域，子显示区域包括多个发光器件；

24、在测试信号输入模块包括测试引线的情况下，不同的子显示区域连接不同的保护单元，和/或，不同的子显示区域连接不同的测试引线。

25、第三方面，还提出了一种显示面板的测试方法，用于测试如上所述的显示面板，测试方法包括：

26、根据自动光学检测指令，向显示面板的像素电路提供第一测试控制信号；

27、以及根据自动光学检测指令，通过测试信号输入模块向发光器件的阳极提供测试电压，以对发光器件进行自动光学检测；

28、其中，在第一测试控制信号的作用下，控制第一晶体管导通或截止，以开启或关闭保护单元。

29、在一些实施方式中，在测试信号输入模块包括复位单元，复位单元包括第二晶体管的情况下，

30、根据自动光学检测指令，通过测试信号输入模块向发光器件的阳极提供测试电压，以对发光器件进行自动光学检测，包括：

31、根据自动光学检测指令，向第二晶体管的栅极提供第二测试控制信号，向第二晶体管的第一电极提供测试电压，以控制第二晶体管导通或截止；

32、其中，在第二晶体管截止的情况下，测试电压经过第二晶体管传输至发光器件的阳极；

33、在第二晶体管导通的情况下，将与第二晶体管的第一电极电连接的第一节点接地。

34、第四方面，还提出了一种控制器，包括：

35、存储器，存储有计算机程序；

36、处理器，用于调用存储器中的计算机程序，计算机程序用于执行如上所述的测试方法。

37、第五方面，还提出了一种显示装置，包括如上所述的显示面板和/或如上所述的控制器。

38、根据上述技术方案，在正常模式下，利用驱动单元驱动发光器件发光。在自动光学测试模式下，利用测试信号输入模块向发光器件的阳极提供测试电压，以电压外灌的方式直接让测试电压作用在发光器件的阳极，完全跳过驱动单元，减少了自动光学测试模式下驱动晶体管分压对发光器件两端电压的影响。由此，可以有效避免驱动晶体管对发光器件两端实际电压的不良影响，使得发光器件的发光特性更多地取决于测试电压的特性，保证了发光器件的阳极电压可控。便于得出准确的自动光学测试结果。此外，保护单元在第一测试控制信号的作用下开启时，保护单元能够对发光器件进行保护，避免发生突发电压的异常波动导致的损伤，实现对发光器件的保护。

技术特征：

1.一种像素电路，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的像素电路，其特征在于，所述第一晶体管的栅极用于接收所述第一测试控制信号，所述电阻的一端与所述第一晶体管的第一电极电连接，另一端接地，所述第一晶体管的第二电极与所述第一节点电连接，其中，所述第一电极是所述第一晶体管的源极和漏极中的一者，所述第二电极是所述第一晶体管的源极和漏极中的另一者。

3.根据权利要求1或2所述的像素电路，其特征在于，所述电阻和所述第一晶体管的栅极同层设置，其中，所述电阻的电阻率大于所述第一晶体管的栅极的电阻率。

4.根据权利要求1所述的像素电路，其特征在于，所述测试信号输入模块包括测试引线，所述测试引线的一端用于与驱动电路电连接，另一端经由所述第一节点与所述发光器件的阳极电连接，其中，所述驱动电路用于提供测试电压，所述测试引线包括多个弯曲段和/或弯折段。

5.根据权利要求1所述的像素电路，其特征在于，所述测试信号输入模块包括复位单元，所述复位单元的第一端与所述第一节点电连接，所述复位单元的第二端和第三端均用于连接驱动电路，其中，所述驱动电路用于向所述复位单元提供所述测试电压。

6.根据权利要求5所述的像素电路，其特征在于，所述复位单元包括第二晶体管，所述第二晶体管的栅极用于接入第二测试控制信号，以使所述第二晶体管在所述第二测试控制信号的作用下导通或截止，所述第二晶体管的第二电极与所述驱动电路电连接，所述第二晶体管的第一电极经由所述第一节点与所述发光器件的阳极电连接，所述第二晶体管的第二电极用于在所述复位单元截止的情况下接收所述测试电压，所述第二晶体管的第二电极在所述复位单元导通的情况下接地。

7.根据权利要求4所述的像素电路，其特征在于，多个所述发光器件连接于相同的所述保护单元；和/或，多个所述发光器件连接于相同的所述测试引线。

8.根据权利要求1所述的像素电路，其特征在于，所述驱动单元包括：

9.一种显示面板，其特征在于，包括多个根据权利要求1至8中任一项所述的像素电路；

10.根据权利要求9所述的显示面板，其特征在于，包括驱动电路，所述驱动电路与所述像素电路的测试信号输入模块和保护单元电连接；

11.根据权利要求10所述的显示面板，其特征在于，所述显示区域包括多个子显示区域，所述子显示区域包括多个所述发光器件；

12.一种显示面板的测试方法，其特征在于，用于测试根据权利要求9至11中任一项所述的显示面板，所述测试方法包括：

13.根据权利要求12所述的测试方法，其特征在于，在所述测试信号输入模块包括复位单元，所述复位单元包括第二晶体管的情况下，

14.一种控制器，其特征在于，包括：

15.一种显示装置，其特征在于，包括根据权利要求9至11中任一项所述的显示面板和/或根据权利要求14所述的控制器。

技术总结本发明提供一种像素电路、显示面板、测试方法、控制器及显示装置，涉及显示技术领域，像素电路包括驱动单元，经由第一节点与发光器件电连接，驱动单元用于向发光器件提供驱动信号；测试信号输入模块，经由第一节点与发光器件的阳极电连接，测试信号输入模块用于为发光器件的阳极提供测试电压；保护单元，经由第一节点分别与测试信号输入模块和发光器件的阳极电连接，保护单元包括串联的电阻和第一晶体管，第一晶体管用于在第一测试控制信号的作用下导通或截止。可以有效避免驱动晶体管对发光器件两端实际电压的不良影响，使得发光器件的发光特性更多地取决于测试电压的特性，保证了发光器件的阳极电压可控。技术研发人员：王林虎,杨盛际,白枭,郭致成,朱云,冯一恒,伏林瑞,和永红,黄悦,刘倩,朱志坚受保护的技术使用者：京东方科技集团股份有限公司技术研发日：技术公布日：2024/11/14