绝缘子的检测系统、检测方法和检测装置与流程

本申请涉及无损检测领域，具体而言，涉及一种绝缘子的检测系统、检测方法、检测装置、计算机可读存储介质和电子设备。

背景技术：

1、绝缘子是电力系统中不可或缺的重要器件之一。绝缘子的结构简单，但其在电力系统中的重要性不亚于其他任何设备和器件。因为输电线路的绝缘子串都是并联运行的，如果其中任何一串绝缘子出现问题，都可能导致输电线路的故障，甚至长时间的停电事故。这不仅会威胁到电力系统的持续可靠运行，还会给人们的日常生活带来诸多不便，并给国民经济造成一定的损失。如果运行中的任何一片绝缘子出现缺陷或零值故障，就有可能引发严重的掉串事故，损失可能无法估量。

2、现有的绝缘子检测装置在实际使用时，通常采用超声波探伤仪对绝缘子内部进行探伤。然而，这种操作方式通常是手动进行的，不仅操作繁琐，而且探伤检测效率低下。此外，这种操作方式存在一定的潜在风险性。

技术实现思路

1、本申请的主要目的在于提供一种绝缘子的检测系统、检测方法、检测装置、计算机可读存储介质和电子设备，以至少解决现有技术中对绝缘子手动探伤检测效率低下的问题。

2、为了实现上述目的，根据本申请的一个方面，提供了一种绝缘子的检测系统，包括：激光发生器；第一透镜，位于所述激光发生器的一侧，用于将所述激光发生器发出的激光进行折射；旋转反射器，位于所述第一透镜远离所述激光发生器的一侧，用于将所述第一透镜折射的激光反射至绝缘子以照射所述绝缘子的全部表面，使得所述绝缘子将所述激光进行反射；激光探测器，位于所述激光发生器远离所述第一透镜的一侧，用于接收所述绝缘子反射的激光，并对所述激光进行分析，得到所述绝缘子的结构信息。

3、可选地，所述检测系统还包括第二透镜，所述第二透镜位于所述绝缘子和所述激光探测器之间，用于将所述绝缘子反射的所述激光反射至所述激光探测器。

4、根据本申请的另一方面，提供了一种绝缘子的检测方法，采用所述的检测系统，所述检测方法包括：控制所述检测系统的激光发生器向所述检测系统的第一透镜发出激光，所述第一透镜将所述激光折射至所述检测系统的旋转反射器；控制所述旋转反射器以预设速度进行旋转，将所述激光以不同角度反射至所述第一透镜，以使所述第一透镜将多个所述激光折射至绝缘子，且折射激光覆盖所述绝缘子的全部表面，所述绝缘子将多个所述折射激光反射至所述检测系统的激光探测器，以使所述激光探测器对所述绝缘子的反射激光进行分析，得到所述绝缘子的结构信息，以完成对所述绝缘子的检测。

5、可选地，所述第一透镜将多个所述激光折射至绝缘子，且折射激光覆盖所述绝缘子的全部表面，包括：第一控制步骤：在控制所述激光发生器发出激光且所述检测系统的所述旋转反射器仪以预设速度进行旋转的情况下，控制所述检测系统移动至第n预设位置(n＝1，2，...，n)，以使所述激光覆盖所述绝缘子的全部表面，且对所述绝缘子从上至下进行照射；第一判断步骤：控制所述激光探测器对多个所述激光进行分析，得到多个所述激光的振幅，并判断多个所述振幅是否满足第一预设条件，所述激光的光谱图像具有第一波峰、第二波峰、第一波谷和第二波谷，所述第一波峰和所述第一波谷为第一周期，所述第二波峰和所述第二波谷为第二周期，所述光谱图像由第一周期和第二周期交替形成，所述第一周期为所述光谱图像的起始振幅为所述第一周期的振幅，所述第一预设条件包括：所述第一波峰的振幅大于所述第二波峰的振幅；第一循环步骤：在判断结果指示为否的情况下，重复执行所述第一控制步骤和所述第一判断步骤，直至所述判断结果指示为是为止。

6、可选地，所述检测系统的所述激光探测器对所述绝缘子的反射激光进行分析，包括：获取多个所述反射激光的波峰振幅，并根据多个所述波峰振幅，得到多个所述波峰振幅的平均值；根据所述平均值和多个第一波峰的振幅，得到多个所述第一波峰与所述平均值的差值；至少根据所述差值，得到多个所述第一波峰的特征向量，所述激光的光谱图像具有所述第一波峰和第二波峰，所述第一波峰的振幅大于所述第二波峰的振幅；根据多个所述特征向量，得到所述特征向量的平均值；根据所述特征向量与所述特征向量的平均值，得到第一偏差，所述第一偏差表征所述绝缘子的结构信息。

7、可选地，所述特征向量的平均值满足第一公式：其中，hk为特征向量，hx为特征向量的平均值，hk为hk的模。

8、可选地，所述第一偏差满足第二公式：其中，hk为特征向量，hx为特征向量的平均值，pk表示所述第一偏差，hn为hk的模，hxn为hx的模。

9、根据本申请的另一方面，提供了一种绝缘子的检测装置，包括：第一控制模块，用于控制所述检测装置的激光发生器向所述检测装置的第一透镜发出激光，所述第一透镜将所述激光折射至旋转反射器；第二控制模块，用于所述旋转反射器以预设速度进行旋转，将所述激光以不同角度反射至所述第一透镜，以使所述第一透镜将多个所述激光折射至绝缘子，且折射激光覆盖所述绝缘子的全部表面，所述绝缘子将多个所述折射激光反射至所述检测系统的激光探测器，以使所述激光探测器对所述绝缘子的反射激光进行分析，得到所述绝缘子的结构信息，以完成对所述绝缘子的检测。

10、根据本申请的另一方面，提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质包括存储的程序，其中，在所述程序运行时控制所述计算机可读存储介质所在设备执行任意一种所述的绝缘子的检测方法。

11、根据本申请的另一方面，提供了一种电子设备，包括：一个或多个处理器，存储器，以及一个或多个程序，其中，所述一个或多个程序被存储在所述存储器中，并且被配置为由所述一个或多个处理器执行，所述一个或多个程序包括用于执行任意一种所述的绝缘子的检测方法。

12、应用本申请的技术方案，上述绝缘子的检测系统，系统包括激光发生器、第一透镜、旋转反射器和激光探测器，上述激光发射器将激光发射至第一透镜，第一透镜将上述激光折射至旋转反射器，旋转反射器可以通过旋转将激光以不同角度反射至绝缘子上，对绝缘子进行全方位的检测，以使对绝缘子的检测更加全面精准，解决了现有技术中对绝缘子手动探伤检测效率低下的问题。

技术特征：

1.一种绝缘子的检测系统，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的检测系统，其特征在于，所述检测系统还包括第二透镜，所述第二透镜位于所述绝缘子和所述激光探测器之间，用于将所述绝缘子反射的所述激光反射至所述激光探测器。

3.一种绝缘子的检测方法，其特征在于，采用权利要求1或2所述的检测系统，所述检测方法包括：

4.根据权利要求3所述的检测方法，其特征在于，所述第一透镜将多个所述激光折射至绝缘子，且折射激光覆盖所述绝缘子的全部表面，包括：

5.根据权利要求3所述的检测方法，其特征在于，所述检测系统的所述激光探测器对所述绝缘子的反射激光进行分析，包括：

6.根据权利要求5所述的检测方法，其特征在于，所述特征向量的平均值满足第一公式：其中，hk为特征向量，hx为特征向量的平均值，hk为hk的模。

7.根据权利要求5所述的检测方法，其特征在于，所述第一偏差满足第二公式：

8.一种绝缘子的检测装置，其特征在于，包括：

9.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质包括存储的程序，其中，在所述程序运行时控制所述计算机可读存储介质所在设备执行权利要求3至7中任一项所述的绝缘子的检测方法。

10.一种电子设备，其特征在于，包括：一个或多个处理器，存储器，以及一个或多个程序，其中，所述一个或多个程序被存储在所述存储器中，并且被配置为由所述一个或多个处理器执行，所述一个或多个程序包括用于执行权利要求3至7中任一项所述的绝缘子的检测方法。

技术总结本申请提供了一种绝缘子的检测系统、检测方法和检测装置，该系统包括：激光发生器；第一透镜，位于激光发生器的一侧，用于将激光发生器发出的激光进行折射；旋转反射器，位于第一透镜远离激光发生器的一侧，用于将第一透镜折射的激光反射至绝缘子以照射绝缘子的全部表面，使得绝缘子将激光进行反射；激光探测器，位于激光发生器远离第一透镜的一侧，用于接收绝缘子反射的激光，并对激光进行分析，得到绝缘子的结构信息。旋转反射器可以通过旋转将激光以不同角度反射至绝缘子上，对绝缘子进行全方位的检测，以使对绝缘子的检测更加全面精准，解决了现有技术中对绝缘子手动探伤检测效率低下的问题。技术研发人员：梁炳钧,刘鸿,梁煜健,周熺,罗航宇,黎旭刚,谢逸轩,柏海,梁健民,关畅受保护的技术使用者：广东电网有限责任公司技术研发日：技术公布日：2024/11/18