本发明涉及测试装置,特别涉及一种中央处理器cpu的性能测试装置。背景技术:1、中央处理器即为cpu,其在进行使用时,一般为了对其性能进行测试,会对其进行连通电源后进行相应的跑分等测试操作,而其在进行测......