一种中央处理器CPU的性能测试装置的制作方法

本发明涉及测试装置，特别涉及一种中央处理器cpu的性能测试装置。

背景技术：

1、中央处理器即为cpu,其在进行使用时，一般为了对其性能进行测试，会对其进行连通电源后进行相应的跑分等测试操作，而其在进行测试时，便需要用到相应的测试装置。

2、而测试装置在进行使用时，由于其缺乏有效的自动化平衡调节结构，使得芯片在进行测试时，很容易因人工的摆放不整齐出现偏斜而导致影响后续的电源连通作业，存在着局限性。

3、于是，有鉴于此，针对现有的结构及缺失予以研究改良，提供一种中央处理器cpu的性能测试装置，以期达到更具有实用价值的目的。

技术实现思路

1、本发明提供了一种中央处理器cpu的性能测试装置，解决了现有的由于其缺乏有效的自动化平衡调节结构，使得芯片在进行测试时，很容易因人工的摆放不整齐出现偏斜而导致影响后续的电源连通作业，存在着局限性的问题。

2、本发明提供了一种中央处理器cpu的性能测试装置的目的与功效，具体包括：导轨，所述导轨为纵向设置，且导轨的内部开设有纵向槽，导轨共设有两处，两处导轨呈直线阵列固定连接在基座顶端面的左右两侧位置，导轨中所开设的纵向槽的内部安装有电动推杆a，且基座的顶端面上固定连接有挡板。

3、进一步的，两处所述支架的顶端固定连接有横梁，横梁的顶端面上安装有泵机，且横梁的前端开设有倾斜面，该倾斜面上设置有风槽，风槽与泵机相匹配。

4、进一步的，所述导轨中所开设的纵向槽的内部滑动连接有支架，支架与电动推杆a相连接，且支架共设有两处，每处支架的左右两侧均固定连接有滑块。

5、进一步的，所述基座与导轨共同组成了支撑结构，挡板的内部开设有通槽，该通槽的内部固定连接有观察窗，挡板与观察窗共同组成了封闭结构。

6、进一步的，所述支架的左侧安装有控制器，且基座的顶端开设有凹槽，该凹槽的内部安装有电动推杆b，电动推杆b共设有四处，且四处电动推杆b呈环形阵列安装在基座内部的四角位置。

7、进一步的，所述安装板中远离插柱的一侧固定连接有动触点，且动触点用于与芯片相连接，基座的顶端面上固定连接有支撑架，支撑架为镂空结构，且支撑架共设有四处，四处支撑架呈环形阵列固定连接在基座顶端面的四角位置，四处支撑架的外侧均安装有电机，电机的输出轴上安装有滚轮，电机与滚轮共同组成了收卷结构，且滚轮的外侧安装有牵引绳，牵引绳与滚轮共同组成了牵引结构，且牵引绳中远离滚轮的一侧固定连接有万向球，并通过万向球与底板转动连接，且底板的内部设置有风机，底板的顶端面上呈直线阵列开设有凹槽，该凹槽为出气槽，底板的前端固定连接有水准仪，水准仪与底板共同组成了水平结构，且底板的顶端安装有芯片。

8、进一步的，四处所述电动推杆b的内侧均安装有安装座，安装座的内部开设有插孔，该插孔用于通电，且安装座的外侧固定连接有导动块，安装座通过导动块滑动连接在基座的内侧位置。

9、进一步的，所述安装座的内部安装有安装板，安装板中靠近安装座的一侧固定连接有插柱，每处安装板的外侧四角位置均固定连接有插柱，安装板通过插柱安装在安装座的内侧位置。

10、与现有技术相比，本发明具有如下有益效果：

11、1、本发明中，通过设置有四处支撑架，而支撑架的设置，可以通过启动其外部所安装的电机对滚轮的转动驱动，并通过滚轮对牵引绳以及万向球的连接来实现带动着底板进行相应的偏转调整，并同步的对底板进行偏转调整以带动着芯片进行同步的偏转调整，以达到更加方便于后续进行检测的目的。

12、2、本发明中，通过设置有电动推杆b以及安装座，而在安装座的内部设置有可以进行拆卸的安装板和动触点，使得安装板和动触点在进行安装时，可以根据实际需要来选取不同规格的安装板和动触点安装到安装座的内部进行限位，进而达到更加方便于进行测试的目的。

技术特征：

1.一种中央处理器cpu的性能测试装置，其特征在于，包括：导轨(2)，所述导轨(2)为纵向设置，且导轨(2)的内部开设有纵向槽，导轨(2)共设有两处，两处导轨(2)呈直线阵列固定连接在基座(1)顶端面的左右两侧位置，导轨(2)中所开设的纵向槽的内部安装有电动推杆a(3)，且基座(1)的顶端面上固定连接有挡板(4)。

2.如权利要求1所述一种中央处理器cpu的性能测试装置，其特征在于：所述基座(1)与导轨(2)共同组成了支撑结构，挡板(4)的内部开设有通槽，该通槽的内部固定连接有观察窗(5)，挡板(4)与观察窗(5)共同组成了封闭结构。

3.如权利要求1所述一种中央处理器cpu的性能测试装置，其特征在于：所述导轨(2)中所开设的纵向槽的内部滑动连接有支架(6)，支架(6)与电动推杆a(3)相连接，且支架(6)共设有两处，每处支架(6)的左右两侧均固定连接有滑块(7)。

4.如权利要求3所述一种中央处理器cpu的性能测试装置，其特征在于：两处所述支架(6)的顶端固定连接有横梁(8)，横梁(8)的顶端面上安装有泵机(9)，且横梁(8)的前端开设有倾斜面，该倾斜面上设置有风槽(11)，风槽(11)与泵机(9)相匹配。

5.如权利要求4所述一种中央处理器cpu的性能测试装置，其特征在于：所述支架(6)的左侧安装有控制器(12)，且基座(1)的顶端开设有凹槽，该凹槽的内部安装有电动推杆b(13)，电动推杆b(13)共设有四处，且四处电动推杆b(13)呈环形阵列安装在基座(1)内部的四角位置。

6.如权利要求5所述一种中央处理器cpu的性能测试装置，其特征在于：四处所述电动推杆b(13)的内侧均安装有安装座(14)，安装座(14)的内部开设有插孔，该插孔用于通电，且安装座(14)的外侧固定连接有导动块(15)，安装座(14)通过导动块(15)滑动连接在基座(1)的内侧位置。

7.如权利要求6所述一种中央处理器cpu的性能测试装置，其特征在于：所述安装座(14)的内部安装有安装板(16)，安装板(16)中靠近安装座(14)的一侧固定连接有插柱(17)，每处安装板(16)的外侧四角位置均固定连接有插柱(17)，安装板(16)通过插柱(17)安装在安装座(14)的内侧位置。

8.如权利要求7所述一种中央处理器cpu的性能测试装置，其特征在于：所述安装板(16)中远离插柱(17)的一侧固定连接有动触点(18)，且动触点(18)用于与芯片(27)相连接，基座(1)的顶端面上固定连接有支撑架(19)，支撑架(19)为镂空结构，且支撑架(19)共设有四处，四处支撑架(19)呈环形阵列固定连接在基座(1)顶端面的四角位置，四处支撑架(19)的外侧均安装有电机(20)，电机(20)的输出轴上安装有滚轮(21)，电机(20)与滚轮(21)共同组成了收卷结构，且滚轮(21)的外侧安装有牵引绳(22)，牵引绳(22)与滚轮(21)共同组成了牵引结构，且牵引绳(22)中远离滚轮(21)的一侧固定连接有万向球(23)，并通过万向球(23)与底板(24)转动连接，且底板(24)的内部设置有风机，底板(24)的顶端面上呈直线阵列开设有凹槽，该凹槽为出气槽(25)，底板(24)的前端固定连接有水准仪(26)，水准仪(26)与底板(24)共同组成了水平结构，且底板(24)的顶端安装有芯片(27)。

技术总结本发明提供一种中央处理器CPU的性能测试装置，涉及测试装置技术领域，两处导轨呈直线阵列固定连接在基座顶端面的左右两侧位置，导轨中所开设的纵向槽的内部安装有电动推杆A，且基座的顶端面上固定连接有挡板，解决了现有的由于其缺乏有效的自动化平衡调节结构，使得芯片在进行测试时，很容易因人工的摆放不整齐出现偏斜而导致影响后续的电源连通作业，存在着局限性的问题，通过启动其外部所安装的电机对滚轮的转动驱动，并通过滚轮对牵引绳以及万向球的连接来实现带动着底板进行相应的偏转调整，并同步的对底板进行偏转调整以带动着芯片进行同步的偏转调整，以达到更加方便于后续进行检测的目的。技术研发人员：袁超受保护的技术使用者：岱岸（江苏）装备制造有限公司技术研发日：技术公布日：2024/6/2