基于行列扫描的ILV故障测试电路及测试方法

本发明属于集成电路测试与可测性设计领域。背景技术：1、随着集成电路技术的发展，晶体管特征尺寸不断缩小，已逼近其物理极限。为了延续摩尔定律，单体三维集成电路(monolithic 3-d integra......

2024-07-31 33

#测试#行列#电路