一种液晶屏Mura缺陷检测方法与流程

本发明涉及液晶屏检测，具体为一种液晶屏mura缺陷检测方法。

背景技术：

1、液晶屏的传统的缺陷检测主要是针对液晶屏蔽的外观缺陷和功能性缺陷进行检测，外观缺陷包括屏幕表面有无划痕、凹凸、气泡、杂质等。功能性检验则主要针对液晶屏的显示效果、色彩准确性、对比度、亮度等进行测试。

2、随着液晶屏的技术的发展，液晶屏的形状已经越来越多样化，除了传统的矩形外，出现了各种异形的液晶屏，如圆弧形的液晶屏，菱形液晶屏等。

3、液晶屏的mura缺陷是指在液晶屏在高温通电时同一光源且相同底色的画面下，因视觉感受到不同程度的颜色差异，为一种显示不均的现象。

4、现有的缺陷检测方法存在以下问题：

5、1、常用的普通的阈值+形态学的方法，或者灰阶处理的方法，无法实现对液晶屏的mura缺陷的检测，由于mura缺陷的灰度范围和背景中复杂纹理处于同一灰阶范围，难以通过常规手段分割提取。

6、2、现有的mura缺陷的检测方法无法针对不规则的液晶屏进行检测。

7、3、现有的mura缺陷检测算法的识别效率低、误判漏判率高等问题。

技术实现思路

1、本发明的目的在于提供一种基于液晶屏mura缺陷检测方法，可对液晶屏的mura缺陷进行检测，且适用于不规则的液晶屏。为实现上述目的，本发明采用以下技术方案：

2、本发明公开了一种液晶屏缺陷检测方法，采集液晶屏待检测图像p，并依据以下步骤进行检测：

3、s1.产品定位及预处理

4、将液晶屏的待检测图像p进行处理，区分定位每个产品的图像外轮廓，得到每个产品的边缘区域；将待检测图像p进行颜色通道区分，通过颜色通道定位产品色基底；

5、s2.进行以下缺陷检测

6、a.hsv通道检测

7、预设不同基底下色调值h、饱和度s和亮度v不同的阈值范围，将待检测图像p转化成hsv通道，分别判定待检测区域图像p的色调值h、饱和度s和亮度v是否落入阈值范围，若落入阈值范围，则判定液晶屏存在mura缺陷。

8、b.线性拟合检测

9、将待检测图像p的其中一种颜色通道的图像进行处理取出缺陷范围，去除非定位区域内的缺陷，提取出缺陷点，对缺陷点进行线性拟合，若缺陷点面积大于拟合后的直线面积的设定百分比则判定存在mura缺陷。

10、c.灰度检测

11、将待检测图像p的其中一种颜色通道的图像进行处理，提取出像素点，将提取出像素点进行灰度处理，若其灰度值与纵向上多个像素点的灰度平均值的差值在设定阈值范围内，则进行缺陷标定；根据步骤s1定位的产品的边缘区域，在缺陷标定区域内剔除非边缘且小于预设像素的点；余下的边缘区域的点所连成区域判定为mura缺陷。

12、s3.输出步骤s2中检测到的所有mura缺陷；若不存在步骤s2中的所有缺陷，则判定液晶屏无mura缺陷。

13、进一步的，步骤s1中产品定位的方法包括：s11.灰度二值化，将采集到的液晶屏检测图像进行灰度二值化处理。s12.去除噪点，将经过灰度二值化处理的图片，将灰度值高于第一设定值a的数据点取出，进行开运算，去除噪点。s13.找图像外轮廓，将步骤s12得到的图像进行闭运算，将多个产品连成面，提取出单个连成的面以定位单个产品，得到每个产品的图像外轮廓；设定距离图像外轮廓一定距离的区域范围为产品的边缘区域。

14、优选的，产品色基底包括白色基底和黄色基底，步骤s1中定位产品色基底的方法为：将检测图像p图片分成rgb三通道图，计算红色通道平均值a，绿色通道平均值b，蓝色通道平均值c，预设第二设定值b，当时，则判断为白色基底，否则为黄色基底。

15、优选的，hsv通道检测具体包括：预设白色基底的色调值h、饱和度s和亮度v的重度缺陷的阈值范围为hb1、sb1、vb1，中度缺陷的阈值范围为hb2、sb2、vb2；预设黄色基底的色调值h、饱和度s和亮度v的重度缺陷的阈值范围为hh1、sh1、vh1，中度缺陷的阈值范围为hh2、sh2、vh2；其中重度缺陷的阈值大于中度缺陷的阈值；将待检测图像p转化成hsv通道，按以下过程进行判定：a1.确定待检测图像p为的色基底，确定采用该种色基底的重度缺陷和中度缺陷的阈值范围。a2.判定其是否存在落入重度缺陷的阈值范围的像素点；标定出所有重度缺陷像素点。a3.在重度缺陷像素点以外的像素点中判定是否还存在落入中度缺陷的阈值范围的像素点，标定出所有中度缺陷像素点。

16、进一步的，步骤s2中线性拟合检测包括：

17、b1.加强图像对比，将待检测图像p的蓝色通道的图像做模糊处理，采用直方图均匀化，加强图像对比。b2.取出缺陷范围，将步骤b1得到的图像进行黑帽运算取出缺陷范围，取出缺陷范围进行进一步的去噪，将图片进行开运算处理，去除非定位区域内的缺陷，提取出缺陷点。b3.线性拟合，对提取出的缺陷点进行降噪，并进行线性拟合，若缺陷点面积大于拟合后的直线面积的设定百分比则判断为存在轻度mura缺陷。

18、其中，步骤b1中模糊处理的公式为：

19、其中，p(x,y)为坐标点(x，y)点的灰度值，p(i,j)为坐标点(i，j)点的灰度值；n为掩膜的单边的像素点数。

20、一实施例中，步骤b3中设定的百分比为50％。

21、优选的，步骤s2中灰度检测包括：c1.将待检测图像p的蓝色通道的图像进行模糊处理，去除非定位区域内的像素点。c2.预先设置灰度平均值差值阈值k，若选定像素点的灰度平均值与纵向上多个像素点的灰度平均值的差值大于阈值k，则进行缺陷标定。c3.通过待检测图像p上所有像素点的分析后，将标定的点提取出来；将标定点通过开运算和闭运算，剔除小于设定像素的缺陷标定点，同时根据步骤s1确定的每个产品的边缘区域，剔除非边缘区域的缺陷标定点；余下的缺陷标定点所连成为区域为mura缺陷范围。

22、一实施例中，所述设定像素为5000。

23、由于采用了上述方法，本发明具有以下有益效果：本发明可对液晶屏的mura缺陷进行检测，且可以适用规则的液晶屏和不规则形状的液晶屏，识别效率和准确率高。

技术特征：

1.一种液晶屏mura缺陷检测方法，其特征在于，采集液晶屏待检测图像p，并进行以下步骤：

2.如权利要求1所述的液晶屏mura缺陷检测方法，其特征在于：步骤s1中产品定位的方法包括：

3.如权利要求1所述的液晶屏mura缺陷检测方法，其特征在于：所述产品色基底包括白色基底和黄色基底，步骤s1中定位产品色基底的方法为：

4.如权利要求3所述的液晶屏mura缺陷检测方法，其特征在于：hsv通道检测具体包括：

5.如权利要求1所述的液晶屏mura缺陷检测方法，其特征在于：进行线性拟合检测或者灰度检测时，选取的待检测图像p的颜色通道均为蓝色通道。

6.如权利要求1所述的液晶屏mura缺陷检测方法，其特征在于：步骤s2中线性拟合检测包括：

7.如权利要求6所述的液晶屏mura缺陷检测方法，其特征在于：步骤b1中模糊处理的公式为：

8.如权利要求6所述的液晶屏mura缺陷检测方法，其特征在于：步骤b3中设定的百分比为50％。

9.如权利要求1所述的液晶屏mura缺陷检测方法，其特征在于：步骤s2中灰度检测包括：

10.如权利要求9所述的液晶屏mura缺陷检测方法，其特征在于：所述设定像素为5000像素。

技术总结本发明公开了一种液晶屏Mura缺陷检测方法，采集液晶屏检测图像P，并进行以下步骤：S1.产品定位及预处理,将待检测图像P进行处理，得到每个产品的定位区域，以及每个产品的边缘区域；将待检测图像P进行颜色通道区分，通过颜色通道定位产品色基底；S2.进行以下缺陷检测：a.HSV通道检测；b.线性拟合检测，c.灰度检测；S3.输出步骤S2的所有缺陷；若不存在步骤S2中的所有缺陷，则判定液晶屏无Mura缺陷。本发明可对液晶屏的Mura缺陷进行检测，且可以适用规则的液晶屏和不规则形状的液晶屏，识别效率和准确率高。技术研发人员：林志阳,王世锐,黄杰鸿,康丹玲受保护的技术使用者：厦门特仪科技有限公司技术研发日：技术公布日：2024/5/19