一种非接触式LED背光不良检测方法和系统与流程

本发明涉及led背光，尤其涉及一种非接触式led背光不良检测方法和系统。

背景技术：

1、显示产品的背光是由多组led组(或称led串，每个led组由多只led串联连接)通过并联的方式拼接而成的led阵列，焊接在基板上。在背光产品焊接完成后，会进行通电测试，如某颗led焊接不良或芯片自身损坏，会造成整个led组无法点亮。

2、当前比较常用的led背光方案中，miniled背光方案是使用巨量转移设备将尺寸很小的(长约150微米)led芯片放置到指定位置的锡膏层上，然后再进行回流焊接。由于焊接过程不可避免的会有不良的情况出现，而且在一串led中有一颗出现焊接不良或损坏就会导致一整串led都不亮。因为miniled背光使用的芯片的尺寸小，间距近，在基板上无法放置测试点，并且不能使用探针接触焊盘，因此无法使用传统的接触式探针测量，导致无法准确定位具体是哪颗led焊接不良或损坏，只能将整个led组中的所有led(一般9～12颗led一组)全部拆除并替换后重新焊接，极大的影响了生产效率，并造成了成本损失。

技术实现思路

1、基于背景技术存在的技术问题，本发明提出了一种非接触式led背光不良检测方法和系统，可以定位不良的位置，直观且高效的完成检测的工作，节省了返修工时以及返修材料的消耗。

2、本发明提出的一种非接触式led背光不良检测方法，包括：

3、将激励信号注入到led阵列的正连接端，所述led阵列包括一至多个并联设置的led组，每个led组包括一至多个串联连接的led；

4、控制感应模块的检测端在被测led组走线的上方依次移动，并获取感应模块上传的待识别图像；

5、对待识别图像中的电信号进行异常识别；

6、若电信号正常，继续控制感应模块在被测led组走线的上方向下一led移动；

7、若电信号异常，则记录电信号异常的位置坐标。

8、进一步地，在控制感应模块的检测端在被测led组走线的上方依次移动，并获取感应模块上传的待识别图像中，具体包括：

9、将led阵列设置于世界坐标系下；

10、对目标led组中led进行依次标定，得到标定位置，根据世界坐标系得到标定位置的标定坐标；

11、沿着led芯片的串联顺序，感应模块依次移动到目标led组中标定位置的上方，获取感应模块上传的待识别图像。

12、进一步地，在对待识别图像中的电信号进行异常识别中，具体为：

13、预设led阵列电信号正常的图像模板；

14、将待识别图像与所述图像模板进行比较，当图像一致时，则电信号正常，当图像不一致时，则电信号异常。

15、进一步地，在将激励信号注入到led阵列的正连接端中，具体为将激励信号依次注入led组的正连接端。

16、一种非接触式led背光不良检测方法，包括：

17、将激励信号注入到led阵列的正连接端，所述led阵列包括一至多个并联设置的led组，每个led组包括一至多个串联连接的led；

18、控制感应模块的检测端在被测led组走线的上方依次移动，获取感应模块上传的电场状态；

19、判断相邻电场状态之间有无变化；

20、当相邻电场状态无变化，则继续控制感应模块在被测led组走线的上方向下一led移动；

21、当相邻电场状态有变化，则记录电场状态异常的位置坐标。

22、进一步地，在获取感应模块上传的电场状态，判断相邻电场状态之间有无变化中，具体包括：

23、将感应模块相邻两次获取的电场状态分别转化为电流信号，并对电流信号放大后转换成电压信号；

24、若两次电压信号由有信号走向有信号，则相邻电场状态之间无变化，判断为正常；

25、若两次电压信号由有信号走向无信号，则相邻电场状态之间有变化，判断为异常。

26、进一步地，在将激励信号注入到led阵列的正连接端中，具体为将激励信号依次注入led组的正连接端。

27、一种非接触式led背光不良检测系统，包括第一注入模块、第一移动获取模块、第一判断模块、第一移动模块和第一记录模块；

28、第一注入模块用于将激励信号注入到led阵列的正连接端，所述led阵列包括一至多个并联设置的led组，每个led组包括一至多个串联连接的led；

29、第一移动获取模块用于控制感应模块的检测端在被测led组走线的上方依次移动，并获取感应模块上传的待识别图像；

30、第一判断模块用于对待识别图像中的电信号进行异常识别，若正常，则进入第一移动模块，若异常，则进入第一记录模块；

31、第一移动模块用于继续控制感应模块在被测led组走线的上方向下一led移动；

32、第一记录模块用于记录电信号异常的位置坐标。

33、一种非接触式led背光不良检测系统，包括第二注入模块、第二移动获取模块、第二判断模块、第二移动模块和第二记录模块；

34、第二注入模块用于将激励信号注入到led阵列的正连接端，所述led阵列包括一至多个并联设置的led组，每个led组包括一至多个串联连接的led；

35、第二移动获取模块用于控制感应模块的检测端在被测led组走线的上方依次移动，获取感应模块上传的电场状态；

36、第二判断模块用于判断相邻电场状态之间有无变化，相邻电场状态无变化，则进入第二移动模块，若相邻电场状态有变化，则进入第二记录模块用；

37、第二移动模块用于继续控制感应模块在被led组走线的上方向下一led移动；

38、第二记录模块用于记录电场状态异常的位置坐标。

39、一种计算机可读储存介质，所述计算机可读储存介质上存储有若干分类程序，所述若干分类程序用于被处理器调用并执行如上所述的led背光不良方法。

40、本发明提供的一种非接触式led背光不良检测方法和系统的优点在于：本发明结构中提供的一种非接触式led背光不良检测方法和系统，仅将激励信号注入到led阵列的正连接端，不需要形成电气回路，使用非接触式检测，不需要被测产品上预留测试点，即可使用感应模块检测并定位不良的位置，可以直观且高效的完成检测的工作，节省了返修工时以及返修材料的消耗，提高了led的返修的效率。

技术特征：

1.一种非接触式led背光不良检测方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的非接触式led背光不良检测方法，其特征在于，在控制感应模块的检测端在被测led组走线的上方依次移动，并获取感应模块上传的待识别图像中，具体包括：

3.根据权利要求1所述的非接触式led背光不良检测方法，其特征在于，在对待识别图像中的电信号进行异常识别中，具体为：

4.根据权利要求1所述的非接触式led背光不良检测方法，其特征在于，在将激励信号注入到led阵列的正连接端中，具体为将激励信号依次注入led组的正连接端。

5.一种非接触式led背光不良检测方法，其特征在于，包括：

6.根据权利要求5所述的非接触式led背光不良检测方法，其特征在于，在获取感应模块上传的电场状态，判断相邻电场状态之间有无变化中，具体包括：

7.根据权利要求5所述的非接触式led背光不良检测方法，其特征在于，在将激励信号注入到led阵列的正连接端中，具体为将激励信号依次注入并联的led组的正连接端。

8.一种非接触式led背光不良检测系统，其特征在于，包括第一注入模块、第一移动获取模块、第一判断模块、第一移动模块和第一记录模块；

9.一种非接触式led背光不良检测系统，其特征在于，包括第二注入模块、第二移动获取模块、第二判断模块、第二移动模块和第二记录模块；

10.一种计算机可读储存介质，其特征在于，所述计算机可读储存介质上存储有若干分类程序，所述若干分类程序用于被处理器调用并执行如权利要求1或4所述的led背光不良方法。

技术总结本发明公开了一种非接触式LED背光不良检测方法和系统，将激励信号注入到LED阵列的正连接端，所述LED阵列包括一至多个并联设置的LED组，每个LED组包括一至多个串联连接的LED；控制感应模块的检测端在被测LED组走线的上方依次移动，并获取感应模块上传的待识别图像；对待识别图像中的电信号进行异常识别；若电信号正常，继续控制感应模块在被测LED组走线的上方向下一LED移动；若电信号异常，则记录电信号异常的位置坐标；该LED背光不良检测方法可以定位不良的位置，直观且高效的完成检测的工作，节省了返修工时以及返修材料的消耗。技术研发人员：彭晓飞,王松柏,高志华,李言受保护的技术使用者：合肥欣奕华智能机器股份有限公司技术研发日：技术公布日：2024/5/16