屏幕芯片参数调节方法及自动调参系统、电子设备和存储介质与流程

本公开涉及显示，尤其涉及一种屏幕芯片参数调节方法及自动调参系统、电子设备和存储介质。

背景技术：

1、发光二极管显示屏幕中包括芯片。芯片可以按照芯片参数点亮灯珠。由于屏幕个体差异，屏幕芯片的初始参数不一定适合所有屏幕。由于屏幕的芯片参数与屏幕不相适应，如果芯片参数未经调试，屏幕在点亮后可能会带有缺陷。或者，由于初始参数设置错误，也可以导致屏幕在点亮后带有缺陷。

2、在相关技术中，需要专业人员手动调节芯片参数，但是，调节过程繁琐，效率低下。

技术实现思路

1、有鉴于此，本公开提出了一种屏幕芯片参数调节方案。

2、根据本公开的一方面，提供了一种屏幕芯片参数调节方法，包括：获取第一图像，所述第一图像包含带有缺陷的屏幕；对所述第一图像进行图像识别，得到所述屏幕的缺陷类型和缺陷区域；根据所述缺陷类型，在数据库中检索出至少一条记录，单个所述记录包括：用于消除屏幕缺陷的参数调节量；根据所述至少一条记录，调节所述缺陷区域对应的芯片参数，得到第一参数。

3、在一种可能的实现方式中，所述屏幕包括多块第一灯板，所述根据所述至少一条记录，调节所述缺陷区域对应的芯片参数，得到第一参数，包括：确定所述至少一条记录中参数调节量的离散程度，在所述离散程度不大于预设离散阈值的情况下，使用所述至少一条记录中参数调节量确定目标参数调节量，并使用所述目标参数调节量调整所述缺陷区域对应的第一灯板的芯片参数，得到所述第一参数。

4、在一种可能的实现方式中，所述根据所述至少一条记录，调节所述屏幕的参数，得到第一参数，还包括：在所述离散程度大于所述预设离散阈值的情况下，显示所述至少一条记录。

5、在一种可能的实现方式中，所述对所述第一图像进行图像识别，得到所述屏幕的缺陷类型和缺陷区域，包括：将所述第一图像输入缺陷识别模型，得到所述缺陷类型和缺陷区域；所述缺陷识别模型的训练过程，包括：获取包含第一样本屏幕的缺陷的第一图像样本，所述第一图像样本包含缺陷类型标注、和缺陷区域标注；将所述第一图像样本输入至待训练的缺陷识别模型，得到第一样本缺陷类型和第一样本缺陷区域；基于所述缺陷类型标注和所述第一样本缺陷类型的第一差异，以及所述缺陷区域标注与所述第一样本缺陷区域的第二差异，调整所述待训练的缺陷识别模型的参数，直至满足停止调参条件。

6、在一种可能的实现方式中，所述方法还包括：获取包含第二样本屏幕的缺陷的第二图像样本，所述第二样本屏幕带有至少一种缺陷，所述第二样本屏幕包括多块第二灯板；确定所述第二图像样本中各缺陷的第二样本缺陷类型；获取各所述缺陷对应的第二灯板的第二参数；经过调试，获取缺陷消除后第二灯板的第三参数；将所述第三参数与对应的第二参数的差值作为参数调节量；将所述第二样本缺陷类型、所述第二样本缺陷类型对应的第二图像样本、参数调节量，作为一条记录存储到所述数据库。

7、在一种可能的实现方式中，所述缺陷识别模型包括：r-cnn模型、sdd模型、或yolo模型。

8、在一种可能的实现方式中，所述根据所述至少一条记录，调节所述缺陷区域对应的芯片参数，得到第一参数，包括：根据所述至少一条记录，确定目标参数调节量，使用所述目标参数调节量调节所述芯片参数，得到所述第一参数；所述方法还包括：将所述第一图像、所述缺陷类型、所述缺陷区域，以及所述目标参数调节量作为新的记录，更新到所述数据库。

9、根据本公开的另一方面，提供了一种屏幕芯片自动调参系统，包括：

10、图像采集模块，用于获取第一图像，所述第一图像包含带有缺陷的屏幕；

11、缺陷识别模型，用于对所述第一图像进行图像识别，得到所述屏幕的缺陷类型和缺陷区域；

12、检索模块，用于根据所述缺陷类型，在数据库中检索出至少一条记录，单个所述记录包括：用于消除屏幕缺陷的参数调节量；

13、调参模块，根据所述至少一条记录，调节所述缺陷区域对应的芯片参数，得到第一参数。

14、在一种可能的实现方式中，所述屏幕包括多块第一灯板，所述系统还包括：显示模块；

15、调参模块，还用于：

16、确定所述至少一条记录中参数调节量的离散程度；

17、在所述离散程度不大于预设离散阈值的情况下，使用所述至少一条记录中参数调节量确定目标参数调节量，并使用所述目标参数调节量调整所述缺陷区域对应的第一灯板的芯片参数，得到所述第一参数；

18、显示模块，用于在所述离散程度不大于预设离散阈值的情况下，显示所述目标参数调节量、所述缺陷类型，以及带有所述缺陷类型、缺陷区域的第一图像。

19、在一种可能的实现方式中，显示模块，用于在所述离散程度大于所述预设离散阈值的情况下，显示所述至少一条记录。

20、在一种可能的实现方式中，所述缺陷识别模块，包括：输入模块和缺陷识别模型；

21、所述输入模块，用于将所述第一图像输入所述缺陷识别模型，得到所述缺陷类型和缺陷区域；

22、所述缺陷识别模型的训练过程，包括：

23、获取包含第一样本屏幕的缺陷的第一图像样本，所述第一图像样本包含缺陷类型标注、和缺陷区域标注；

24、将所述第一图像样本输入至待训练的缺陷识别模型，得到第一样本缺陷类型和第一样本缺陷区域；

25、基于所述缺陷类型标注和所述第一样本缺陷类型的第一差异，以及所述缺陷区域标注与所述第一样本缺陷区域的第二差异，调整所述待训练的缺陷识别模型的参数，直至满足停止调参条件。

26、在一种可能的实现方式中，所述自动调参系统还包括：记录生成模块；

27、所述记录生成模块用于：

28、获取包含第二样本屏幕的缺陷的第二图像样本，所述第二样本屏幕带有至少一种缺陷，所述第二样本屏幕包括多块第二灯板；

29、确定所述第二图像样本中各缺陷的第二样本缺陷类型；

30、获取各所述缺陷对应的第二灯板的第二参数；

31、经过调试，获取缺陷消除后第二灯板的第三参数；

32、将所述第三参数与对应的第二参数的差值作为参数调节量；

33、将所述第二样本缺陷类型、所述第二样本缺陷类型对应的第二图像样本、参数调节量，作为一条记录存储到所述数据库。

34、在一种可能的实现方式中，所述缺陷识别模型为包括：r-cnn模型、sdd模型、或yolo模型。

35、在一种可能的实现方式中，所述调参模块用于：

36、根据所述至少一条记录，确定目标参数调节量，使用所述目标参数调节量调节所述芯片参数，得到所述第一参数；

37、所述装置还包括，记录更新模块用于：

38、将所述第一图像、所述缺陷类型、所述缺陷区域，以及所述目标参数调节量作为新的记录，更新到所述数据库。

39、根据本公开的另一方面，提供了一种显示设备，包括多个显示单元及至少一个上述屏幕芯片自动调参系统。

40、在一种可能的实现方式中，所述显示单元包括显示面板，所述显示面板包括液晶显示面板、微发光二极管显示面板、发光二极管显示面板、迷你发光二极管显示面板、量子点发光二极管显示面板、有机发光二极管显示面板、阴极射线管显示面板、数字光处理显示面板、场发射显示面板、电浆显示面板、电泳显示面板、电润湿显示面板以及小间距显示面板中至少一种。

41、根据本公开的另一方面，提供了一种电子设备，包括：处理器；用于存储处理器可执行指令的存储器；其中，所述处理器被配置为在执行所述存储器存储的指令时，实现上述方法。

42、根据本公开的另一方面，提供了一种非易失性计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序指令，其中，所述计算机程序指令被处理器执行时实现上述方法。

43、根据本公开的另一方面，提供了一种计算机程序产品，包括计算机可读代码，或者承载有计算机可读代码的非易失性计算机可读存储介质，当所述计算机可读代码在电子设备的处理器中运行时，所述电子设备中的处理器执行上述方法。

44、在本公开实施例中，获取第一图像，所述第一图像包含带有缺陷的屏幕；对所述第一图像进行图像识别，得到所述屏幕的缺陷类型和缺陷区域；根据所述缺陷类型，在数据库中检索出至少一条记录，单个所述记录包括：用于消除屏幕缺陷的参数调节量；根据所述至少一条记录，调节所述缺陷区域对应的芯片参数，得到第一参数。这样一来可以自动地调节芯片参数，消除屏幕的缺陷，大大节约人力成本，相比于人工调节，提高了效率。而且，可以并行执行或流水线执行本公开的方法，进一步提高了调节芯片参数、消除屏幕缺陷的效率。

45、根据下面参考附图对示例性实施例的详细说明，本公开的其它特征及方面将变得清楚。