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一种用于陶瓷电容器破坏性物理分析的装置的制作方法

  • 国知局
  • 2024-08-05 13:56:27

本技术属于陶瓷电容器测试领域,具体涉及一种用于陶瓷电容器破坏性物理分析的装置。

背景技术:

1、陶瓷电容器制造完成后,会存在一定比例的缺陷器件,这些缺陷可能是器件本身固有的,也可能是制造工艺控制不当产生的,且陶瓷电容器在设备运行阶段经常会出现失效,而破坏性物理分析(dpa),可用对陶瓷电容器件的设计、结构、材料和质量等进行测定,特别是关键工艺质量分析和监控,对提升陶瓷电容器的可靠水平具有其他试验和检验手段无法代替的作用,可达到提高元器件生产过程控制和提高产品可靠性的目的;因此亟需一种可适用于陶瓷电容器破坏性物理分析的装置。

技术实现思路

1、本实用新型的目的是克服现有技术的缺点,提供一种用于陶瓷电容器破坏性物理分析的装置。

2、本实用新型采用如下技术方案:

3、一种用于陶瓷电容器破坏性物理分析的装置,包括固定机构和下料机构;

4、固定机构,用于固定陶瓷电容器,包括固定管体、形成在固定管体中用于固定陶瓷电容器及填充树脂的固定孔和可拆卸设置在固定管体底部的密封件;

5、下料机构,使固定孔中与树脂固化成型的陶瓷电容器脱离固定管体,包括基座、设置在机座上用于安装固定管体的安装孔、可相对安装孔上下移动的下料杆和设置在机座上驱动下料杆向下移动的移动组件。

6、进一步的,所述下料机构还包括设置在机座上用于安装下料杆的安装座,所述安装座包括与基座连接的连接部、与连接部连接位于安装孔上方的定位部和设置在定位部中与安装孔相对供下料杆上下移动的移动腔。

7、进一步的,所述连接部呈弧形设置。

8、进一步的,所述移动组件包括设置在基座上向上延伸的定位杆和可转动设置在定位杆上端可下压下料杆的转动压杆。

9、进一步的,所述移动组件还包括设置在定位杆与转动压杆之间的连接件,所述连接件包括设置在定位杆上端的第一连接孔、设置在转动压杆上与第一连接孔相对的第二连接孔、穿过第一连接孔与第二连接孔的连接螺栓和与连接螺栓配合的蝶形螺母。

10、进一步的,所述下料杆包括下料杆体、设置在下料杆体顶部的承压部和设置在下料杆体底部的挤压部,所述挤压部的直径小于固定孔的直径。

11、进一步的,所述基座包括基座本体和可拆卸设置在基座本体上的垫高块,所述垫高块上形成有与安装孔相对的让位孔。

12、进一步的,所述基座还包括设置在基座本体上用于限制垫高块安装位置的限位板,所述限位板形状与垫高块的形状一致。

13、进一步的,所述密封件包括密封板和设置在密封板上可嵌入固定孔中的插块,所述密封板的直径大于固定孔的直径。

14、由上述对本实用新型的描述可知,与现有技术相比,本实用新型的有益效果是:本申请通过限定装置的结构,以实现对体积小的陶瓷电容器进行固定,且进一步限定下料机构的结构,将固定管体中与陶瓷电容器固化后的树脂挤出,无需破坏固定管体的结构,就可取出与陶瓷电容器固化后的树脂进行破坏性物理分析,整体操作简单,且各部分机构都可循环利用,减少资源的浪费。

技术特征:

1.一种用于陶瓷电容器破坏性物理分析的装置,其特征在于:包括固定机构和下料机构;

2.根据权利要求1所述的一种用于陶瓷电容器破坏性物理分析的装置,其特征在于:所述下料机构还包括设置在机座上用于安装下料杆的安装座,所述安装座包括与基座连接的连接部、与连接部连接位于安装孔上方的定位部和设置在定位部中与安装孔相对供下料杆上下移动的移动腔。

3.根据权利要求2所述的一种用于陶瓷电容器破坏性物理分析的装置,其特征在于:所述连接部呈弧形设置。

4.根据权利要求1所述的一种用于陶瓷电容器破坏性物理分析的装置,其特征在于:所述移动组件包括设置在基座上向上延伸的定位杆和可转动设置在定位杆上端可下压下料杆的转动压杆。

5.根据权利要求4所述的一种用于陶瓷电容器破坏性物理分析的装置,其特征在于:所述移动组件还包括设置在定位杆与转动压杆之间的连接件,所述连接件包括设置在定位杆上端的第一连接孔、设置在转动压杆上与第一连接孔相对的第二连接孔、穿过第一连接孔与第二连接孔的连接螺栓和与连接螺栓配合的蝶形螺母。

6.根据权利要求1所述的一种用于陶瓷电容器破坏性物理分析的装置,其特征在于:所述下料杆包括下料杆体、设置在下料杆体顶部的承压部和设置在下料杆体底部的挤压部,所述挤压部的直径小于固定孔的直径。

7.根据权利要求1所述的一种用于陶瓷电容器破坏性物理分析的装置,其特征在于:所述基座包括基座本体和可拆卸设置在基座本体上的垫高块,所述垫高块上形成有与安装孔相对的让位孔。

8.根据权利要求7所述的一种用于陶瓷电容器破坏性物理分析的装置,其特征在于:所述基座还包括设置在基座本体上用于限制垫高块安装位置的限位板,所述限位板形状与垫高块的形状一致。

9.根据权利要求1所述的一种用于陶瓷电容器破坏性物理分析的装置,其特征在于:所述密封件包括密封板和设置在密封板上可嵌入固定孔中的插块,所述密封板的直径大于固定孔的直径。

技术总结一种用于陶瓷电容器破坏性物理分析的装置,包括固定机构和下料机构;固定机构用于固定陶瓷电容器,包括固定管体、形成在固定管体中用于固定陶瓷电容器及填充树脂的固定孔和可拆卸设置在固定管体底部的密封件;下料机构使固定孔中与树脂固化成型的陶瓷电容器脱离固定管体,包括基座、设置在机座上用于安装固定管体的安装孔、可相对安装孔上下移动的下料杆和设置在机座上驱动下料杆向下移动的移动组件;本申请通过限定装置的结构,以实现对体积小的陶瓷电容器进行固定,且进一步限定下料机构的结构,将固定管体中与陶瓷电容器固化后的树脂挤出,无需破坏固定管体的结构,就可取出与陶瓷电容器固化后的树脂进行破坏性物理分析,整体操作简单。技术研发人员:张亚杰,胡亚楠,吴同参,陈骑昆,傅莉莉受保护的技术使用者:福建火炬电子科技股份有限公司技术研发日:20231212技术公布日:2024/7/18

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