一种控制芯片的测试电路及测试装置的制作方法

本发明涉及芯片测试领域，特别是涉及一种控制芯片的测试电路及测试装置。

背景技术：

1、随着mcu（microcontroller unit，微控制单元）芯片的广泛应用，用户对于mcu芯片的可靠性要求越来越高，因此针对mcu的安全稳定性的老化试验也越来越多，包括aec-q100等汽车用芯片的老化试验等。在老化试验的过程中，mcu芯片需要运行大量程序，其工作电流也会很大，不良的mcu芯片的工作电流有可能在程序运行过程中产生异常，这种电流异常的mcu芯片在功能上的表现可能是正常的，但对于电路而言这样的异常电流存在一定的安全隐患。

2、现有技术中主要存在两种方案来避免这种异常电流造成的安全隐患，第一种方案是在试验过程中提前设置一个mcu芯片的工作电流的过流阈值，当mcu芯片的工作电流超出这一过流阈值时切断mcu芯片的供电回路来实现保护，但是这种方案仅仅设置了一个过流阈值，而mcu芯片的程序运行过程会包括很多个不同的阶段，在不同的程序运行阶段，其工作电流是不一致的，电流值有大有小，单个的过流阈值无法同时对mcu芯片在各个程序运行阶段可能存在的异常电流进行保护。第二种方案是通过使用自恢复保险丝和熔断保险丝等器件来实现对mcu芯片的保护，但是这种器件在需要循环使用的场景下，如被测mcu芯片需要不断更换的情况下，保险丝也需要随之不断的进行更换，非常不便利。

技术实现思路

1、本发明的目的是提供一种控制芯片的测试电路及测试装置，对于不同的程序阶段，阈值调整模块会输出相应的过流阈值，从而实现对各个程序阶段的过流的检测，在过流发生时，能快速保护电路，也能有效确定导致过流的故障的程序段，利于后续工程人员排查，节省排除故障时间，利用一个测试电路就可以实现对各个控制芯片的测试过程，方便快捷，能够循环重复使用，可以广泛应用于不同的控制芯片。

2、为解决上述技术问题，本发明提供了一种控制芯片的测试电路，包括：

3、采样模块，与待测的所述控制芯片串联连接，用于检测待测的控制芯片的工作电流；

4、开关模块，第一端与供电电源连接，第二端与待测的所述控制芯片连接；

5、阈值调整模块，输入端与待测的所述控制芯片连接，用于基于所述控制芯片的运行信息确定当前程序阶段对应的过流阈值；

6、比较模块，第一输入端与所述采样模块的输出端连接，第二输入端与所述阈值调整模块的输出端连接，输出端与所述开关模块的控制端连接，用于当所述控制芯片的工作电流大于所述控制芯片的当前程序阶段对应的过流阈值时，控制所述开关模块关断。

7、可选地，所述阈值调整模块为可编程电阻器，所述可编程电阻器的输入端与待测的所述控制芯片连接，输出端与所述比较模块的第二输入端连接，用于基于所述控制芯片的运行信息确定当前程序阶段对应的过流阈值，并将所述过流阈值转换为阈值电压。

8、可选地，所述采样模块包括：

9、采样电阻，第一端与供电电源连接，第二端与所述开关模块的第一端连接；

10、放大模块，第一输入端与所述采样电阻的第一端连接，第二输入端与所述采样电阻的第二端连接，输出端与所述比较模块的第一输入端连接，用于放大所述采样电阻两端的电压差。

11、可选地，所述开关模块包括：

12、第一开关，第二端与待测的所述控制芯片连接，用于当所述控制芯片的工作电流大于所述控制芯片的当前程序阶段对应的过流阈值时，基于所述比较模块的控制关断；

13、第一电阻，第一端分别与所述采样电阻的第二端和所述第一开关的第一端连接，第二端分别与所述第一开关的控制端和所述比较模块的输出端连接。

14、可选地，所述开关模块还包括：

15、第二电阻，第一端与所述比较模块的输出端连接；

16、第三电阻，第一端接地；

17、第二开关，控制端分别与所述第二电阻的第二端和所述第三电阻的第二端连接，第一端接地，第二端分别与所述第一开关的控制端和所述第一电阻的第二端连接，用于当所述控制芯片的工作电流大于所述控制芯片的当前程序阶段对应的过流阈值时，基于所述比较模块的控制导通，以控制所述第一开关关断。

18、可选地，所述开关模块还包括：

19、第一电容，第一端分别与所述第一电阻的第一端和所述第一开关的第一端连接，第二端接地。

20、可选地，所述比较模块包括：

21、比较器，同相输入端与所述采样模块的输出端连接，反相输入端与所述阈值调整模块的输出端连接，用于当所述控制芯片的工作电流大于所述控制芯片的当前程序阶段对应的过流阈值时，输出高电平以控制所述开关模块关断；

22、第一触发器，输入端与所述比较器的输出端连接，输出端与所述开关模块的控制端连接。

23、可选地，还包括：

24、第四电阻，第一端分别与供电电源和所述第一触发器的输入端连接；

25、第五电阻，第一端分别与所述第四电阻的第二端、所述第一触发器的触发端和所述比较器的输出端连接，第二端接地。

26、可选地，所述第一触发器的输出端还与所述控制芯片连接；

27、所述第一触发器还用于当所述比较器的输出信号为高电平时，输出中断信号至所述控制芯片，以触发所述控制芯片的中断机制。

28、为解决上述技术问题，本发明还提供了一种控制芯片的测试装置，包括待测的控制芯片和如前述所述的控制芯片的测试电路，所述控制芯片的测试电路的输出端与所述控制芯片的供电端连接。

29、本发明提供了一种控制芯片的测试电路，包括采样模块、开关模块、阈值调整模块和比较模块，采样模块用来检测控制芯片当前的工作电流，阈值调整模块根据控制芯片当前的控制程序阶段确定与当前程序阶段对应的过流阈值，比较模块通过比较采样模块的采样结果和阈值调整模块当前输出的过流阈值，判断待测的控制芯片在当前的控制程序阶段是否出现工作电流的过流情况，并在控制芯片出现过流的情况下通过控制开关模块关断来切断供电电源对控制芯片的供电回路，实现对控制芯片的过流保护。对于不同的程序阶段，阈值调整模块会输出相应的过流阈值，从而实现对各个程序阶段的过流的检测，在过流发生时，能快速保护电路，也能有效确定导致过流的故障的程序段，利于后续工程人员排查，节省排除故障时间，利用一个测试电路就可以实现对各个控制芯片的测试过程，方便快捷，能够循环重复使用，可以广泛应用于不同的控制芯片。

30、本发明还提供了一种控制芯片的测试装置，具有与上述控制芯片的测试电路相同的有益效果。

技术特征：

1.一种控制芯片的测试电路，其特征在于，包括：

2.如权利要求1所述的控制芯片的测试电路，其特征在于，所述阈值调整模块为可编程电阻器，所述可编程电阻器的输入端与待测的所述控制芯片连接，输出端与所述比较模块的第二输入端连接，用于基于所述控制芯片的运行信息确定当前程序阶段对应的过流阈值，并将所述过流阈值转换为阈值电压。

3.如权利要求1所述的控制芯片的测试电路，其特征在于，所述采样模块包括：

4.如权利要求3所述的控制芯片的测试电路，其特征在于，所述开关模块包括：

5.如权利要求4所述的控制芯片的测试电路，其特征在于，所述开关模块还包括：

6.如权利要求5所述的控制芯片的测试电路，其特征在于，所述开关模块还包括：

7.如权利要求1至6任一项所述的控制芯片的测试电路，其特征在于，所述比较模块包括：

8.如权利要求7所述的控制芯片的测试电路，其特征在于，还包括：

9.如权利要求7所述的控制芯片的测试电路，其特征在于，所述第一触发器的输出端还与所述控制芯片连接；

10.一种控制芯片的测试装置，其特征在于，包括待测的控制芯片和如权利要求1至9任一项所述的控制芯片的测试电路，所述控制芯片的测试电路的输出端与所述控制芯片的供电端连接。

技术总结本发明公开了一种控制芯片的测试电路及测试装置，涉及芯片测试领域，比较模块通过比较采样模块的采样结果和阈值调整模块当前输出的过流阈值，判断待测的控制芯片在当前的控制程序阶段是否出现工作电流的过流情况，并在控制芯片出现过流的情况下通过控制开关模块关断来切断供电电源对控制芯片的供电回路，实现对控制芯片的过流保护。对于不同的程序阶段，阈值调整模块会输出相应的过流阈值，从而实现对各个程序阶段的过流的检测，在过流发生时，能快速保护电路，也能有效确定导致过流的故障的程序段，利于后续工程人员排查，节省排除故障时间，利用一个测试电路就可以实现对各个控制芯片的测试过程，方便快捷，能够循环重复使用。技术研发人员：肖佐楠,刘闯,王廷平,郑茳,匡启和受保护的技术使用者：苏州国芯科技股份有限公司技术研发日：技术公布日：2024/7/18