光学检测方法与光学检测系统与流程

本发明涉及一种光学检测方法与光学检测系统，特别指一种检测光学补偿膜的光学检测方法与光学检测系统。

背景技术：

1、现有技术中，位相差膜(retardation film)普遍应用于电视、计算机或智能型手机等电子装置的显示模块中，以控制光线的偏振状态并提高影像质量。其中，位相差膜所具有的位相差值的均匀度是高质量显示的重要因素。然而，目前用以检测其光学性质如位相差值的系统所能达到的检测范围相当有限，导致检测耗时，不利于在产在线进行实时检测。

2、因此，如何提出一种可解决上述问题的光学检测方法与光学检测系统，是目前业界亟欲投入研发资源解决的问题之一。

技术实现思路

1、鉴于现有技术中的问题，本发明提供一种光学检测方法以解决上述问题。

2、因此，本发明所要解决的技术问题在于提供一种光学检测方法，该光学检测方法包含：

3、设置发光单元阵列与光学膜片组，该光学膜片组位于该发光单元阵列上方，其中该光学膜片组包含扩散片、下偏振片、标准片以及上偏振片并沿着该发光单元阵列的出光方向依序堆栈，且该下偏振片与该上偏振片分别具有吸收轴，其中该下偏振片的该吸收轴与该上偏振片的该吸收轴相互平行；

4、设置待测膜片于该标准片与该上偏振片之间，其中该待测膜片具有慢轴，且该慢轴与该上偏振片的该吸收轴之间具有实质上45度的夹角；

5、驱使该发光单元阵列发射多个光线通过该光学膜片组；

6、驱使影像传感器接收通过该光学膜片组的该多个光线并获取影像；

7、驱使处理器基于该影像获取该多个光线的多个强度值，其中该处理器信号连接于该影像传感器，且该影像具有多个像素对应于该多个强度值；以及

8、驱使该处理器基于该多个强度值获取关联于该待测膜片的多个对应的位相差值。

9、作为可选的技术方案，基于该多个强度值获取该多个位相差值包含基于该待测膜片的位相差值范围采用关系式获取该多个位相差值。

10、作为可选的技术方案，该标准片具有另一慢轴，且该另一慢轴与该上偏振片的该吸收轴之间具有+45度的夹角。

11、作为可选的技术方案，当该待测膜片的该位相差值范围近似于四分之一波片，且该标准片为四分之一波片时，该关系式为其中λ为待分析波长，i为该影像的该多个像素其中之一对应的该强度值，r0，ref为该标准片的参考位相差值，a1与b1为关联于该位相差值范围的多个常数，且r0为该待测膜片于该多个像素其中之一处所具有的位相差值。

12、作为可选的技术方案，当该待测膜片的该位相差值范围近似于二分之一波片，且该标准片为零位相差波片时，该关系式为其中λ为待分析波长，i为该影像的该多个像素其中之一对应的该强度值，a2与b2为关联于该位相差值范围的多个常数，且r0为该待测膜片于该多个像素其中之一处所具有的位相差值。

13、作为可选的技术方案，该标准片具有另一慢轴，且该另一慢轴与该上偏振片的该吸收轴之间具有-45度的夹角。

14、作为可选的技术方案，当该待测膜片的该位相差值范围近似于四分之三波片，且该标准片为四分之一波片时，该关系式为其中λ为待分析波长，i为该影像的该多个像素其中之一对应的该强度值，r0，ref为该标准片的参考位相差值，a3与b3为关联于该位相差值范围的多个常数，且r0为该待测膜片于该多个像素其中之一处所具有的位相差值。

15、本发明还提供一种光学检测方法，该光学检测系统包含：

16、发光单元阵列，配置以发射多个光线；

17、光学膜片组，该光学膜片组位于该发光单元阵列上方且包含扩散片、下偏振片、标准片以及上偏振片并沿着该发光单元阵列的出光方向依序堆栈，其中该下偏振片与该上偏振片分别具有吸收轴，其中该下偏振片的该吸收轴与该上偏振片的该吸收轴实质上相互平行；

18、影像传感器，配置以接收通过该光学膜片组的该多个光线并获取影像；以及

19、处理器，信号连接于该影像传感器且配置以基于该影像获取多个位相差值，其中该影像具有多个像素对应于该多个位相差值。

20、作为可选的技术方案，该标准片具有慢轴，且该慢轴与该上偏振片的该吸收轴之间具有+45度的夹角。

21、作为可选的技术方案，该标准片具有慢轴，且该慢轴与该上偏振片的该吸收轴之间具有-45度的夹角。

22、相比于现有技术，本发明的一些实施方式的光学检测方法与光学检测系统中，使用发光单元阵列发射光线通过光学膜片组与待测膜片，并使用影像传感器获取影像，可以一次获得大面积的待测膜片的二维位相差信息，节省检测扫描的时间，且便于通过处理器预设的算法快速分析位相差的均匀程度，因此可以在产线进行实时检测，随时调整制程。

23、以下结合附图和具体实施例对本发明进行详细描述，但不作为对本发明的限定。

技术特征：

1.一种光学检测方法，其特征在于，该光学检测方法包含：

2.如权利要求1所述的光学检测方法，其特征在于，基于该多个强度值获取该多个位相差值包含基于该待测膜片的位相差值范围采用关系式获取该多个位相差值。

3.如权利要求2所述的光学检测方法，其特征在于，该标准片具有另一慢轴，且该另一慢轴与该上偏振片的该吸收轴之间具有+45度的夹角。

4.如权利要求3所述的光学检测方法，其特征在于，当该待测膜片的该位相差值范围近似于四分之一波片，且该标准片为四分之一波片时，该关系式为其中λ为待分析波长，i为该影像的该多个像素其中之一对应的该强度值，r0，ref为该标准片的参考位相差值，a1与b1为关联于该位相差值范围的多个常数，且r0为该待测膜片于该多个像素其中之一处所具有的位相差值。

5.如权利要求2所述的光学检测方法，其特征在于，当该待测膜片的该位相差值范围近似于二分之一波片，且该标准片为零位相差波片时，该关系式为其中λ为待分析波长，i为该影像的该多个像素其中之一对应的该强度值，a2与b2为关联于该位相差值范围的多个常数，且r0为该待测膜片于该多个像素其中之一处所具有的位相差值。

6.如权利要求2所述的光学检测方法，其特征在于，该标准片具有另一慢轴，且该另一慢轴与该上偏振片的该吸收轴之间具有-45度的夹角。

7.如权利要求6所述的光学检测方法，其特征在于，当该待测膜片的该位相差值范围近似于四分之三波片，且该标准片为四分之一波片时，该关系式为其中λ为待分析波长，i为该影像的该多个像素其中之一对应的该强度值，r0，ref为该标准片的参考位相差值，a3与b3为关联于该位相差值范围的多个常数，且r0为该待测膜片于该多个像素其中之一处所具有的位相差值。

8.一种光学检测系统，其特征在于，该光学检测系统包含：

9.如权利要求8所述的光学检测系统，其特征在于，该标准片具有慢轴，且该慢轴与该上偏振片的该吸收轴之间具有+45度的夹角。

10.如权利要求8所述的光学检测系统，其特征在于，该标准片具有慢轴，且该慢轴与该上偏振片的该吸收轴之间具有-45度的夹角。

技术总结本发明公开一种光学检测方法包括设置发光单元阵列与光学膜片组。光学膜片组包括扩散片、下偏振片、标准片以及上偏振片依序堆栈于发光单元阵列上方。下偏振片与上偏振片分别具有实质上相互平行的吸收轴。方法还包括设置待测膜片于标准片与上偏振片之间。待测膜片具有慢轴。慢轴与上偏振片的吸收轴之间具有实质上45度的夹角。方法还包括驱使发光单元阵列发射光线通过光学膜片组。方法还包括驱使影像传感器接收通过光学膜片组的光线并获取影像。方法还包括驱使处理器基于影像获取光线的强度值，并基于强度值获取关联于待测膜片的位相差值。本发明可以一次获得大面积的待测膜片的二维位相差信息，节省检测扫描的时间等。技术研发人员：陈煜达受保护的技术使用者：明基材料有限公司技术研发日：技术公布日：2024/7/25