芯片测试方法、装置、电子设备和存储介质与流程

本申请涉及芯片，特别涉及一种芯片测试方法、装置、电子设备和存储介质。

背景技术：

1、在设计soc（system on chip，片上系统）等芯片的过程中，为保证芯片的可靠性，需要将芯片或芯片中数据控制和传输的通路作为待测对象（design under test，dut）进行测试。

2、目前，一般通过将测试数据写入或读出待测对象进行测试，而测试数据一般使用仿真器的随机数产生函数生成，或通过伪随机多项式生成，造成每次生成测试数据都要依赖随机种子，测试失败时也无法快速定位错误，且复现和调试困难。

技术实现思路

1、本申请实施例的提供了一种芯片测试方法、装置、电子设备和存储介质，基于预设三角函数对待测对象存储空间中的目标存储地址进行三角函数运算，基于三角函数运算结果和预设目标数据宽度生成测试数据，用以在快速生成测试数据的同时提升测试通用性。

2、第一方面，提供一种芯片测试方法，包括：基于对待测对象的测试内容，确定所述待测对象的存储空间中的目标存储地址；基于预设三角函数对所述目标存储地址进行三角函数运算，并基于三角函数运算结果和预设目标数据宽度生成所述测试数据；基于当前测试模式将所述测试数据写入所述待测对象，并从所述待测对象中读出与所述测试数据对应的第一结果数据；基于所述测试数据和所述第一结果数据确定测试结果；其中，所述当前测试模式为包括写测试、读测试和读写测试中的一种。

3、第二方面，提供一种芯片测试装置，包括：第一确定模块，用于基于对待测对象的测试内容，确定所述待测对象的存储空间中的目标存储地址；生成模块，用于基于预设三角函数对所述目标存储地址进行三角函数运算，并基于三角函数运算结果和预设目标数据宽度生成所述测试数据；写入读出模块，用于基于当前测试模式将所述测试数据写入所述待测对象，并从所述待测对象中读出与所述测试数据对应的第一结果数据；第二确定模块，用于基于所述测试数据和所述第一结果数据确定测试结果；其中，所述当前测试模式为包括写测试、读测试和读写测试中的一种。

4、第三方面，提供一种电子设备，包括处理器和存储器，所述存储器中存储有可执行程序，所述处理器执行所述可执行程序以进行如第一方面所述的芯片测试方法。

5、第四方面，提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质内存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如第一方面所述的芯片测试方法。

6、通过应用以上技术方案，先基于对待测对象的测试内容，确定待测对象的存储空间中的目标存储地址，再基于预设三角函数对目标存储地址进行三角函数运算，并基于三角函数运算结果和预设目标数据宽度生成测试数据，然后基于当前测试模式将测试数据写入待测对象，并从待测对象中读出与测试数据对应的第一结果数据，最后基于测试数据和第一结果数据确定测试结果。以此基于存储位置并通过简单的三角函数运算生成测试数据，在实现快速生成测试数据的同时提升了数据的随机性，并且由于不需要依赖随机种子，测试失败时可快速定位错误，易于复现和调试，从而提升了通用性。

技术特征：

1.一种芯片测试方法，其特征在于，包括：

2.如权利要求1所述的芯片测试方法，其特征在于，基于三角函数运算结果和预设目标数据宽度生成所述测试数据，包括：

3.如权利要求2所述的芯片测试方法，其特征在于，还包括：

4.如权利要求2所述的芯片测试方法，其特征在于，如果所述当前测试模式为所述读写测试或存在多个对象同时对所述待测对象进行测试，所述测试数据是基于所述写入次数对所述求模运算结果进行线性运算后生成的。

5.如权利要求1所述的芯片测试方法，其特征在于，所述预设三角函数为包括正弦函数、余弦函数和正切函数中的任一种，以将所述目标存储地址映射到[-1,1]的数值范围，或[-∞,+∞）的数值范围。

6.如权利要求1所述的芯片测试方法，其特征在于，基于当前测试模式将所述测试数据写入所述待测对象，并从所述待测对象中读出与所述测试数据对应的第一结果数据，包括：

7.如权利要求1所述的芯片测试方法，其特征在于，基于所述测试数据和所述第一结果数据确定测试结果，包括：

8.一种芯片测试装置，其特征在于，包括：

9.一种电子设备，其特征在于，包括处理器和存储器，所述存储器中存储有可执行程序，所述处理器执行所述可执行程序以进行如权利要求1-7任一项所述的芯片测试方法。

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质内存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1-7任一项所述的芯片测试方法。

技术总结本申请公开了一种芯片测试方法、装置、电子设备和存储介质，该方法包括：基于对待测对象的测试内容，确定待测对象的存储空间中的目标存储地址；基于预设三角函数对目标存储地址进行三角函数运算，并基于三角函数运算结果和预设目标数据宽度生成测试数据；基于当前测试模式将测试数据写入待测对象，并从待测对象中读出与测试数据对应的第一结果数据；基于测试数据和第一结果数据确定测试结果。以此基于存储位置并通过简单的三角函数运算生成测试数据，在实现快速生成测试数据的同时提升了数据的随机性，并且由于不需要依赖随机种子，测试失败时可快速定位错误，易于复现和调试，从而提升了通用性。技术研发人员：王俊杰受保护的技术使用者：南京芯驰半导体有限公司技术研发日：技术公布日：2024/7/29