一种失调电压的校准方法和电路与流程

本发明实施例涉及电压校准技术，尤其涉及一种失调电压的校准方法和电路。

背景技术：

1、失调电压是运算放大器芯片的重要指标，受电路结构、器件特性、工艺偏差、温度变化、封装应力、时间老化等多方面综合影响，一般符合正态分布特征。每个运算放大器芯片的失调电压各不相同，需要逐个进行校准，校准后的失调电压越小，运放则越精密。

2、早期运算放大器失调电压修调方案，以晶圆级修调为主，缺点是修调后封装应力造成的失调影响无法处理，导致高精密成品芯片良率下降。当前运算放大器失调电压修调方案，越来越多的采用封装后电修调的方式对失调电压(失调电压随温度变化)进行一次性修调。这种方法的缺陷是芯片终测阶段需要常温机台和高温机台两套独立的硬件平台环境，以满足不同温度的测试环境需求，并将终测(校准、筛选)流程拆成时间上平台上完全独立的两个操作阶段，不仅常温硬件平台和高温硬件平台需要重复投入，而且两次硬件平台的物料导入/导出和机台切换准备都需要消耗测试机时，大大增加了测试成本和测试时间。

技术实现思路

1、本发明实施例提供一种失调电压的校准方法和电路，以提高校准测试的效率，节约测试成本和测试时间。

2、第一方面，本发明实施例提供了一种失调电压的校准方法，包括：

3、接收控制指令；

4、根据所述控制指令，在预设第一时刻之前控制目标器件的校准电路工作在常温模式；

5、在所述预设第一时刻至预设第二时刻之间，控制所述校准电路工作在高温模式，以对所述目标器件的失调电压进行双温校准。

6、可选的，所述在预设第一时刻之前控制目标器件的校准电路工作在常温模式，包括：

7、在预设第一时刻之前控制所述校准电路对所述目标器件依次进行检测和补偿，并在控制所述校准电路进行检测以及补偿时控制所述校准电路的加热状态为停止工作状态。

8、可选的，所述在所述预设第一时刻至预设第二时刻之间，控制所述校准电路工作在高温模式，包括：

9、在所述预设第一时刻至预设第二时刻之间，控制所述校准电路的加热状态为工作状态。

10、可选的，所述控制所述校准电路的加热状态为工作状态，包括：

11、控制所述校准电路以预设第一电流或预设第一电压进行加热工作。

12、可选的，所述在所述预设第一时刻至预设第二时刻之间，控制所述校准电路工作在高温模式之后，包括：

13、在所述预设第二时刻至预设第三时刻之间，控制所述校准电路以预设第二电流或预设第二电压进行加热工作，所述预设第二电流小于所述预设第一电流，所述预设第二电压小于所述预设第一电压。

14、可选的，所述目标器件包括运算放大器。

15、第二方面，本发明实施例提供了一种失调电压的校准电路，包括检测模块、补偿模块、存储模块、基准模块、加热模块和控制模块，所述检测模块、所述补偿模块、所述存储模块、所述基准模块和所述加热模块均与所述控制模块电连接，所述控制模块用于执行如第一方面所述的校准方法。

16、可选的，所述基准模块包括电流基准单元和电压基准单元；所述电流基准单元和所述电压基准单元均与所述控制模块电连接。

17、可选的，所述校准电路为目标器件的校准电路，所述加热模块包括多个加热电阻，各所述加热电阻均匀分布在所述目标器件的周围。

18、可选的，所述校准电路为目标器件的校准电路，所述目标器件包括运算放大器，所述运算放大器与所述校准电路相邻且集成设置。

19、本发明实施例提供的失调电压的校准方法和电路，失调电压的校准方法包括：接收控制指令；根据控制指令，在预设第一时刻之前控制目标器件的校准电路工作在常温模式；在预设第一时刻至预设第二时刻之间，控制校准电路工作在高温模式，以对目标器件的失调电压进行双温校准。本发明实施例提供的失调电压的校准方法和电路，通过在不同时刻控制校准电路的工作模式不同，使得目标器件处于常温和高温，以实现校准电路对目标器件进行常温和高温即双温下的校准，无需采用常温机台和高温机台改变校准测试环境，从而提高校准测试的效率，节约测试成本和测试时间。

技术特征：

1.一种失调电压的校准方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的校准方法，其特征在于，所述在预设第一时刻之前控制目标器件的校准电路工作在常温模式，包括：

3.根据权利要求1所述的校准方法，其特征在于，所述在所述预设第一时刻至预设第二时刻之间，控制所述校准电路工作在高温模式，包括：

4.根据权利要求3所述的校准方法，其特征在于，所述控制所述校准电路的加热状态为工作状态，包括：

5.根据权利要求1所述的校准方法，其特征在于，所述在所述预设第一时刻至预设第二时刻之间，控制所述校准电路工作在高温模式之后，包括：

6.根据权利要求5所述的校准方法，其特征在于，所述目标器件包括运算放大器。

7.一种失调电压的校准电路，其特征在于，包括检测模块、补偿模块、存储模块、基准模块、加热模块和控制模块，所述检测模块、所述补偿模块、所述存储模块、所述基准模块和所述加热模块均与所述控制模块电连接，所述控制模块用于执行如权利要求1-6任一所述的校准方法。

8.根据权利要求7所述的校准电路，其特征在于，所述基准模块包括电流基准单元和电压基准单元；所述电流基准单元和所述电压基准单元均与所述控制模块电连接。

9.根据权利要求7所述的校准电路，其特征在于，所述校准电路为目标器件的校准电路，所述加热模块包括多个加热电阻，各所述加热电阻均匀分布在所述目标器件的周围。

10.根据权利要求7所述的校准电路，其特征在于，所述校准电路为目标器件的校准电路，所述目标器件包括运算放大器，所述运算放大器与所述校准电路相邻且集成设置。

技术总结本发明实施例公开了一种失调电压的校准方法和电路。失调电压的校准方法包括：接收控制指令；根据控制指令，在预设第一时刻之前控制目标器件的校准电路工作在常温模式；在预设第一时刻至预设第二时刻之间，控制校准电路工作在高温模式，以对目标器件的失调电压进行双温校准。本实施例提供的失调电压的校准方法和电路，能够提高校准测试的效率，节约测试成本和测试时间。技术研发人员：潘杰,原义栋,沈红伟,温立国受保护的技术使用者：北京智芯微电子科技有限公司技术研发日：技术公布日：2024/6/13