磁记录介质、磁带盒及磁记录再生装置的制作方法

本发明涉及一种磁记录介质、磁带盒及磁记录再生装置。

背景技术：

1、作为用于记录各种数据的记录介质，广泛使用磁记录介质(例如，参考专利文献1及专利文献2)。

2、专利文献1：日本特开2014-209403号公报

3、专利文献2：日本特开2004-348897号公报

4、对磁记录介质要求发挥优异的电磁转换特性，期望更进一步提高电磁转换特性。

5、磁记录介质通常在非磁性支撑体上具有包含强磁性粉末的磁性层，磁性层的表面形状有可能影响到磁记录介质的性能。关于磁性层的表面形状，在前面所示的日本特开2014-209403号公报(专利文献1)及日本特开2004-348897号公报(专利文献2)中提出有控制磁性层表面的突起的存在状态。针对于此，本发明人以提供电磁转换特性比能够通过以往提出的磁性层表面的突起的存在状态的控制来实现的电磁转换特性更优异的磁记录介质，详细而言，以提供在高温环境下(例如，气氛温度40℃以上，进而60℃以上的严酷的高温环境下)重复行进后的电磁转换特性的下降少的磁记录介质为目标。

技术实现思路

1、即，本发明的一方式的目的在于提供一种在高温环境下重复行进后的电磁转换特性的下降少的磁记录介质。

2、本发明的一方式涉及一种下述[1]的磁记录介质。

3、[1]一种磁记录介质，其具有非磁性支撑体和包含强磁性粉末的磁性层，其中，在上述磁性层的表面上测定的算术平均粗糙度ra(以下，也记载为“磁性层表面ra。)为2.5nm以下，且将周边基底区域的高度设为0nm的突出高度hd与将周边基底区域的高度设为0nm的突出高度hb的突出高度差δ(hd-hb)为0.7nm以上，上述突出高度hd是对在利用扫描型电子显微镜拍摄上述磁性层的表面而得到的背散射电子像的第1二值化处理结束的图像中被确定为暗部区域的区域，利用原子力显微镜测定的突出高度，上述突出高度hb是对在利用扫描型电子显微镜拍摄上述磁性层的表面而得到的背散射电子像的比第1二值化处理更靠高灰度侧进行的第2二值化处理结束的图像中被确定为明部区域的区域，利用原子力显微镜测定的突出高度。

4、在一方式中，上述[1]的磁记录介质可以为以下的磁记录介质。

5、[2]根据[1]所述的磁记录介质，其中，上述突出高度差δ为0.7nm以上且3.0nm以下。

6、[3]根据[1]或[2]所述的磁记录介质，其中，上述算术平均粗糙度ra为0.8nm以上且2.5nm以下。

7、[4]根据[1]至[3]中任一项所述的磁记录介质，其中，上述磁性层包含两种以上的非磁性粉末。

8、[5]根据[4]所述的磁记录介质，其中，上述磁性层的非磁性粉末包含氧化铝粉末。

9、[6]根据[4]或[5]所述的磁记录介质，其中，上述磁性层的非磁性粉末包含炭黑。

10、[7]根据[1]至[6]中任一项所述的磁记录介质，其在上述非磁性支撑体与上述磁性层之间还具有包含非磁性粉末的非磁性层。

11、[8]根据[1]至[7]中任一项所述的磁记录介质，其在上述非磁性支撑体的与具有上述磁性层的表面侧相反的表面侧还具有包含非磁性粉末的背涂层。

12、[9]根据[1]至[8]中任一项所述的磁记录介质，其为磁带。

13、本发明的一方式涉及一种下述[10]的磁带盒。

14、[10]一种磁带盒，其包含[9]所述的磁带。

15、本发明的一方式涉及一种下述[11]的磁记录再生装置。

16、[11]一种磁记录再生装置，其包含权利要求[1]至[9]中任一项所述的磁记录介质。

17、发明效果

18、根据本发明的一方式，能够提供一种在高温环境下重复行进后的电磁转换特性的下降少的磁记录介质。并且，根据本发明的一方式，能够提供一种包含该磁记录介质的磁带盒及磁记录再生装置。

技术特征：

1.一种磁记录介质，其具有非磁性支撑体和包含强磁性粉末的磁性层，其中，

2.根据权利要求1所述的磁记录介质，其中，

3.根据权利要求1或2所述的磁记录介质，其中，

4.根据权利要求1或2所述的磁记录介质，其中，

5.根据权利要求4所述的磁记录介质，其中，

6.根据权利要求4所述的磁记录介质，其中，

7.根据权利要求1或2所述的磁记录介质，其中，在所述非磁性支撑体与所述磁性层之间还具有包含非磁性粉末的非磁性层。

8.根据权利要求1或2所述的磁记录介质，其中，在所述非磁性支撑体的与具有所述磁性层的表面侧相反的表面侧还具有包含非磁性粉末的背涂层。

9.根据权利要求1或2所述的磁记录介质，其中，所述磁记录介质为磁带。

10.一种磁带盒，其包含权利要求9所述的磁带。

11.一种磁记录再生装置，其包含权利要求1至9中任一项所述的磁记录介质。

技术总结本发明提供一种在高温环境下重复行进后的电磁转换特性的下降少的磁记录介质。一种磁记录介质、包含该磁记录介质的磁带盒及磁记录再生装置，所述磁记录介质在磁性层的表面上测定的算术平均粗糙度Ra为2.5nm以下，且将周边基底区域的高度设为0nm的突出高度HD与将周边基底区域的高度设为0nm的突出高度HB的突出高度差Δ即HD‑HB为0.7nm以上，所述突出高度HD是对在利用扫描型电子显微镜拍摄磁性层的表面而得到的背散射电子像的第1二值化处理结束的图像中被确定为暗部区域的区域，利用原子力显微镜测定的突出高度，所述突出高度HB是对在利用扫描型电子显微镜拍摄磁性层的表面而得到的背散射电子像在比第1二值化处理更靠高灰度侧进行的第2二值化处理结束的图像中被确定为明部区域的区域，利用原子力显微镜测定的突出高度。技术研发人员：小柳典子,山下达也受保护的技术使用者：富士胶片株式会社技术研发日：技术公布日：2024/1/15