一种硬盘测试辅助装置、方法及存储介质与流程

本发明涉及计算机，具体涉及一种硬盘测试辅助装置、方法及存储介质。

背景技术：

1、对硬盘进行的高温老化测试是评价硬盘可靠性的重要部分。其中，待测试硬盘在自身可支持的最高smart(self-monitoring analysis and reporting technology，自我监测分析与报告技术)温度条件下，能够运行一定时间保持无异常，则高温老化测试通过；其中，smart温度是指在运行过程中硬盘内部的温度。

2、而由于不同硬盘之间的元器件功耗参数存在差异，即使在同一外部环境下，不同型号的硬盘，甚至同种型号的不同个体硬盘，其对应的smart温度都不相同甚至差异很大。因此，在批量硬盘样品测试中很难保证每个样品都运行在其对应的smart温度下，最终影响硬盘高温老化测试的准确性。

技术实现思路

1、鉴于上述问题，提出了本技术以便提供一种克服上述问题或者至少部分地解决上述问题的一种硬盘测试辅助装置、方法及存储介质。本技术的技术方案如下：

2、根据本技术实施例的第一方面，提供一种硬盘测试辅助装置，包括结构组件以及控制组件：

3、所述结构组件包括：硬盘盒、可调节格栅、传动机构，以及所述控制组件包括控制器与微型电机；

4、所述硬盘盒，用于安装固定待测试硬盘；

5、所述硬盘盒的进风端设有所述可调节格栅，所述可调节格栅通过所述传动机构与所述微型电机相连，所述微型电机发生转动时，通过所述传动机构带动所述可调节格栅发生转动，改变所述可调节格栅的开口间距；

6、所述控制器，用于获取所述待测试硬盘的实时自我检测分析与报告技术smart温度。

7、可选地，所述控制组件还包括按键与显示单元；

8、所述按键，用于切换所述装置的工作模式，所述工作模式包括实时显示模式与温度设定模式，当长按时进入所述温度设定模式，并根据摁动信息设置第一温度阈值，当在预设时间内未接收操作指令，切换至所述实时显示模式；

9、所述显示单元，用于根据所述工作模式显示对应的温度信息，当所述工作模式为所述温度设定模式时，闪烁并显示所述第一温度阈值，当所述工作模式为所述实时显示模式时，停止闪烁并显示所述实时smart温度；

10、所述微型电机，用于当所述实时smart温度低于所述第一温度阈值，逆时针转动并通过所述传动机构带动所述可调节格栅转动，减小所述开口间距，当所述实时smart温度高于所述第一温度阈值，顺时针转动并通过所述传动机构带动所述可调节格栅转动，增大所述开口间距，当所述实时smart温度与所述第一温度阈值相等，不发生转动。

11、可选地，所述传动机构包括齿轮、连杆、连杆齿、格栅卡扣；

12、所述齿轮与所述微型电机同轴连接，所述微型电机带动所述齿轮在竖直平面发生转动；

13、所述连杆在竖直方向上固定有所述连杆齿，在水平方向上固定有所述格栅卡扣；

14、其中，所述连杆齿与所述齿轮咬合连接，所述格栅卡扣，用于推动所述可调节格栅发生转动。

15、可选地，所述可调节格栅还包括格栅页、格栅转动轴、带有开孔的上壁与下壁；

16、所述格栅转动轴贯穿所述格栅页，伸入所述上壁与所述下壁的开孔中，使所述格栅页根据所述格栅卡扣发生转动；

17、其中，当所述格栅页转动至所述上壁与所述下壁组成的平面，所述格栅页完全关闭。

18、根据本技术实施例的第二方面，提供一种硬盘测试辅助方法，应用于硬盘测试辅助装置，所述硬盘测试辅助装置包括结构组件与控制组件，其中，所述结构组件包括：硬盘盒、可调节格栅、传动机构，以及所述控制组件包括控制器与微型电机，所述方法包括：

19、根据所述控制组件获取待测试硬盘的实时自我检测分析与报告技术smart温度与预设的第一温度阈值；

20、根据所述实时smart温度与所述第一温度阈值，控制所述微型电机通过所述传动机构，带动所述可调节格栅发生转动，改变所述可调节格栅的开口间距。

21、可选地，所述控制组件还包括按键与显示单元，所述按键用于切换所述装置的工作模式以及设置所述第一温度阈值，所述工作模式包括实时显示模式与温度设定模式，所述根据所述控制组件获取待测试硬盘的实时自我检测分析与报告技术smart温度之前，还包括：

22、通过所述按键切换所述装置的工作模式以及设置所述第一温度阈值，包括：

23、通过长按所述按键进入所述温度设定模式，并根据所述按键的摁动信息设置所述第一温度阈值；

24、通过在预设时间内停止对所述按键发送操作指令，切换至所述实时显示模式；

25、其中，所述根据所述按键的摁动信息设置所述第一温度阈值，包括：

26、当所述按键的摁动信息为单次摁动时，根据所述按键的单次摁动次数使所述第一温度阈值逐次增加；

27、当所述按键的摁动信息为长按时，根据所述按键的长按时间使所述第一温度阈值连续增加；

28、获取与当前所述工作模式相对应的温度信息，并通过所述显示单元显示所述温度信息；

29、其中，当所述工作模式为所述温度设定模式时，控制所述显示单元闪烁并显示所述第一温度阈值；

30、当所述工作模式为所述实时显示模式时，控制所述显示单元停止闪烁并显示所述实时smart温度；

31、其中，当所述第一温度阈值增加至第二温度阈值时，将所述第一温度阈值设置为0摄氏度，并根据所述按键的摁动信息继续增加。

32、可选地，所述控制组件还包括齿轮、连杆、连杆齿、格栅卡扣，所述齿轮与所述微型电机同轴连接，所述控制所述微型电机通过所述传动机构，带动所述可调节格栅发生转动，包括：

33、控制所述微型电机转动带动所述齿轮在竖直平面上发生转动；

34、通过固定于所述连杆上的所述连杆齿带动所述连杆在水平方向平移运动，所述连杆齿与所述齿轮咬合连接；

35、通过在水平方向与所述连杆固定连接的所述格栅卡扣推动所述可调节格栅，使所述可调节格栅发生转动。

36、可选地，所述根据所述实时smart温度与所述第一温度阈值，控制所述微型电机通过所述传动机构，带动所述可调节格栅发生转动，改变所述可调节格栅的开口间距，包括：

37、当所述实时smart温度低于所述第一温度阈值，控制所述微型电机逆时针转动，通过所述传动机构带动所述可调节格栅转动，减小所述开口间距；

38、当所述实时smart温度高于所述第一温度阈值，控制所述微型电机顺时针转动，通过所述传动机构带动所述可调节格栅转动，增大所述开口间距；

39、当所述实时smart温度与所述第一温度阈值相等，所述微型电机不发生转动。

40、可选地，所述通过长按所述按键进入温度设定模式之前，还包括：

41、通过所述显示装置显示待测试硬盘的实时smart温度；

42、控制所述可调节格栅转动至与其所在平面垂直的角度。

43、根据本技术实施例的第三方面，提供一种非易失性可读存储介质，当所述非易失性可读存储介质中的指令由电子设备的处理器执行时，使得所述电子设备能够执行如第一方面所述的硬盘辅助测试方法。

44、本技术实施例提供的技术方案可以包括以下有益效果：

45、本技术实施例公开的硬盘测试辅助装置包括结构组件与控制组件，结构组件包括：硬盘盒、可调节格栅、传动机构，以及控制组件包括控制器与微型电机；硬盘盒，用于安装固定待测试硬盘；硬盘盒的进风端设有可调节格栅，可调节格栅通过传动机构与微型电机相连，微型电机发生转动时，通过传动机构带动可调节格栅发生转动，改变所可调节格栅的开口间距；控制器，用于获取待测试硬盘的实时自我检测分析与报告技术smart温度。本技术通过硬盘测试辅助装置中控制组件获取待测试硬盘的实时smart温度，并预先设置第一温度阈值，通过控制组件带动传动机构，对可调节格栅的开口间距进行调节，进而调整待测试硬盘中的进风量，起到对硬盘smart温度调整的作用，从而通过自动调节硬盘个体的smart温度，使得在批量高温老化测试中，针对每个硬盘个体都能运行在测试要求的smart温度下，不受外界环境温度及测试服务器风速的影响，保证硬盘高温老化测试的准确性。