一种基于闪存检测的测试装置的制作方法

本技术涉及半导体，具体涉及一种基于闪存检测的测试装置。

背景技术：

1、通常对卡片式存储单元的生产过程是先将晶元键合焊接在电路基板上，形成键合存储单元构成的拼板；然后对拼板上的各键合存储单元进行封装，形成由已封装存储单元构成的闪存拼板，最后对闪存拼板进行切割而制成最终的闪存产品。

2、目前，针对已封装的闪存拼板，通常采用手工测试的方法，或者采用测试工具对闪存拼板上的单个闪存颗粒进行测试，筛选具有不良闪存颗粒的闪存拼板，存在测试效率较低的问题，而往往出现不良闪存颗粒的闪存拼板时都已是批量问题，且塑封后已无法再进行返工,造成金线、芯片、塑封料等材料的浪费，导致产品成本增加，测试效果较低。

3、有鉴于此，确有必要提供一种解决上述问题的技术方案。

技术实现思路

1、本实用新型的目的在于：提供一种基于闪存检测的测试装置，来解决上述测试工具存在测试效率低且测试效果不佳的问题。

2、为了实现上述目的，本实用新型采用以下技术方案：

3、一种基于闪存检测的测试装置，包括基板，以及设置在所述基板一面的外接部件及测试盘，所述外接部件用于与计算机设备连接，所述测试盘具有若干个用于闪存检测的测试端，所述测试盘可通过所述测试端对单颗的所述闪存批量检测或者同时对所述闪存拼板上的闪存检测，所述基板另一面与所述测试盘相应位置设置有识别部件，与所述测试盘配合，用于识别所述测试端上的闪存信息进而判定不良状态的闪存。

4、作为所述测试装置的一种改进，所述基板包括第一端面和第二端面，所述第一端面与所述第二端面相对分布，所述外接部件和所述测试盘均位于所述第一端面，所述识别部件位于所述第二端面上。

5、作为所述测试装置的一种改进，所述外接部件包括控制器、连接头、线性稳压器和电压转换器，所述控制器和所述连接头均设置有多个，所述控制器间隔均匀的呈直线分布，所述连接头沿所述基板的长度边缘依次设置，所述控制器通过对应的线性稳压器及电压转换器与所述测试盘连接。

6、作为所述测试装置的一种改进，所述测试盘上设置有若干组弹性顶针，所述单组弹性顶针则作为单个测试端，若干组弹性顶针分别均匀分布在所述测试盘的两侧。

7、作为所述测试装置的一种改进，两侧的若干组所述弹性顶针均间间隔均匀排布且整体呈方形。

8、作为所述测试装置的一种改进，所述识别部件包括读取器，所述读取器设置有若干个，分别与若干组弹性顶针一一对应设置，用于读取相应所述弹性顶针上闪存的信息。

9、作为所述测试装置的一种改进，所述基板一侧设置有供电接口，用于连接外部电源，对所述外接部件、测试盘和识别部件进行供电。

10、相比于现有技术，本实用新型的有益效果在于：

11、本实用新型具有若干测试端的测试盘，能够同时与闪存拼板的所有闪存接触并进行测试，并且通过识别部件读取获得闪存的数据信息，达到显示经过测试得出的不良闪存的id信息，通过id信息能够精准的找出测试的不良闪存，将闪存在塑封前测试出闪存颗粒的id及不良状态，便于不良闪存的维修，而可直接对闪存拼板所有闪存同时测试，达到整板测试的目的，更加高效便捷，能够及时的发现不良状态的闪存颗粒并进行维修，降低成本。

技术特征：

1.一种基于闪存检测的测试装置，其特征在于，包括基板，以及设置在所述基板一面的外接部件及测试盘，所述外接部件用于与计算机设备连接，所述测试盘具有若干个用于闪存检测的测试端，所述测试盘可通过所述测试端对单颗的所述闪存批量检测或者同时对所述闪存拼板上的闪存检测，所述基板另一面与所述测试盘相应位置设置有识别部件，与所述测试盘配合，用于识别所述测试端上的闪存信息进而判定不良状态的闪存。

2.根据权利要求1所述的一种基于闪存检测的测试装置，其特征在于，所述基板包括第一端面和第二端面，所述第一端面与所述第二端面相对分布，所述外接部件和所述测试盘均位于所述第一端面，所述识别部件位于所述第二端面上。

3.根据权利要求2所述的一种基于闪存检测的测试装置，其特征在于，所述外接部件包括控制器、连接头、线性稳压器和电压转换器，所述控制器和所述连接头均设置有多个，所述控制器间隔均匀的呈直线分布，所述连接头沿所述基板的长度边缘依次设置，所述控制器通过对应的线性稳压器及电压转换器与所述测试盘连接。

4.根据权利要求2所述的一种基于闪存检测的测试装置，其特征在于，所述测试盘上设置有若干组弹性顶针，所述单组弹性顶针则作为单个测试端，若干组弹性顶针分别均匀分布在所述测试盘的两侧。

5.根据权利要求4所述的一种基于闪存检测的测试装置，其特征在于，两侧的若干组所述弹性顶针均间间隔均匀排布且整体呈方形。

6.根据权利要求4所述的一种基于闪存检测的测试装置，其特征在于，所述识别部件包括读取器，所述读取器设置有若干个，分别与若干组弹性顶针一一对应设置，用于读取相应所述弹性顶针上闪存的信息。

7.根据权利要求1所述的一种基于闪存检测的测试装置，其特征在于，所述基板一侧设置有供电接口，用于连接外部电源，对所述外接部件、测试盘和识别部件进行供电。

技术总结本技术提供了一种基于闪存检测的测试装置，包括基板，以及设置在所述基板一面的外接部件及测试盘，所述外接部件用于与计算机设备连接，所述测试盘具有若干个用于闪存检测的测试端，所述测试盘可通过所述测试端对单颗的所述闪存批量检测或者同时对所述闪存拼板上的闪存检测，所述基板另一面与所述测试盘相应位置设置有识别部件，与所述测试盘配合，用于识别所述测试端上的闪存信息进而判定不良状态的闪存。本技术能与闪存拼板所有闪存接触测试，并读取闪存ID信息，通过ID信息能精准找出不良闪存，将闪存在塑封前识别出闪存ID及不良状态，便于不良闪存的维修，可直接对闪存拼板所有闪存测试，达到整板测试的目的，高效便捷。技术研发人员：张治强受保护的技术使用者：广东长兴半导体科技有限公司技术研发日：20230619技术公布日：2024/1/15