基于eMMC的测试方法、装置、计算机设备及存储介质与流程

本发明涉及emmc研发测试，尤其涉及一种基于emmc的测试方法、装置、计算机设备及存储介质。

背景技术：

1、emmc是embedded multimediacard的简称，即嵌入式多媒体卡，是一种闪存卡的标准，它定义了基于嵌入式多媒体卡的存储系统的物理架构和访问接口及协议。它是对mmc的一个拓展，具有体积小，功耗低，容量大等优点，非常适合用作智能手机、平板电脑、移动互联网设备等消费类电子设备的存储介质。emmc应用场景广泛，涉及到移动电话设备、智能穿戴、车载控制等各种场景。

2、随着客户对于存储设备的可靠性和稳定性要求越来越高，emmc制造商在研发阶段测试阶段无法覆盖各个场景，出厂前未经过严格测试筛选，可能导致emmc在实际使用过程中，会因接地不良导致供电出现抖动，虽然抖动电压未超出标准规定的范围，但抖动频率过高或次数过多也可能导致出现emmc功能异常。现有技术中测试使用的测试平台供电稳定，无法覆盖到电压抖动问题，可能会造成严重损失。

技术实现思路

1、有鉴于此，本发明的目的是为了克服现有技术中的不足，提供一种基于emmc的测试方法、装置、计算机设备及存储介质。

2、本发明提供如下技术方案：

3、第一方面，本公开实施例中提供了一种基于emmc的测试方法，应用于emmc测试平台，所述方法包括:

4、使用电路开发板通过iic接口，对pmic芯片进行控制；

5、通过所述pmic芯片调节电压上升下降速率和输出电压值；

6、根据所述电压上升下降速率和所述输出电压值模拟电压抖动；

7、通过将所述电压抖动插入至预设抖动范围内的多个用例场景，模拟实际用户使用场景。

8、进一步地，所述pmic芯片包括输出寄存器和控制寄存器，所述通过所述pmic芯片调节电压上升下降速率和输出电压值，包括：

9、通过将所述控制寄存器的值设置为预设数字，得到所述电压上升下降速率；

10、利用预设电压公式，通过所述输出寄存器的值设置所述输出电压值。

11、进一步地，所述预设电压公式为：

12、output voltage＝1.800+(vout1[6:0]×0.025)v

13、式中，output voltage为所述输出电压值，vout1[6:0]为所述输出寄存器的值。

14、进一步地，所述用例场景包括第一用例场景和第二用例场景，所述通过将所述电压抖动插入至预设抖动范围内的多个用例场景，模拟实际用户使用场景，包括：

15、第一单块写命令接收到电压抖动插入响应后，将所述电压抖动插入所述第一用例场景，并对所述第一单块写命令的写入数据进行校验；

16、第二单块写命令完成后，将所述电压抖动插入所述第二用例场景，并对所述第二单块写命令的写入数据进行校验。

17、进一步地，所述用例场景包括第三用例场景、第四用例场景和第五用例场景，所述通过将所述电压抖动插入至预设抖动范围内的多个用例场景，模拟实际用户使用场景，还包括：

18、第一多块写命令接收到所述电压抖动插入响应后，将所述电压抖动插入所述第三用例场景，并对所述第一多块写命令的写入数据进行校验；

19、发送第二多块写命令的写入数据，在第一停止写命令接收到所述电压抖动插入响应后，将所述电压抖动插入所述第四用例场景，并对所述第二多块写命令的写入数据进行校验；

20、第三多块写命令完成后，将所述电压抖动插入所述第五用例场景，并对所述第三多块写命令的写入数据进行校验。

21、进一步地，所述用例场景包括第六用例场景、第七用例场景、第八用例场景和第九用例场景，所述通过将所述电压抖动插入至预设抖动范围内的多个用例场景，模拟实际用户使用场景，还包括：

22、随机填充一个第一逻辑块地址，通过第三单块写命令读取所述第一逻辑块地址，所述第三单块写命令接收到所述电压抖动插入响应后，将所述电压抖动插入所述第六用例场景，并对所述第三单块写命令的读取数据进行校验；

23、随机填充多个第二逻辑块地址，通过第四多块写命令读取多个所述第二逻辑块地址，所述第四多块写命令接收到所述电压抖动插入响应后，将所述电压抖动插入所述第七用例场景，并对所述第四多块写命令的读取数据进行校验；

24、随机填充多个第三逻辑块地址，通过第五多块写命令读取多个所述第三逻辑块地址，在第二停止写命令接收到所述电压抖动插入响应后，将所述电压抖动插入所述第八用例场景，并对所述第五多块写命令的写入数据进行校验；

25、随机填充多个第四逻辑块地址，在送擦除命令接收到所述电压抖动插入响应后，将所述电压抖动插入所述第九用例场景，并检验读取数据和写入数据是否被成功擦除。

26、进一步地，所述用例场景包括第十用例场景，所述通过将所述电压抖动插入至预设抖动范围内的多个用例场景，模拟实际用户使用场景，还包括：

27、对命令队列进行依次排列，插入所述电压抖动，并执行所述命令队列中的任务队列。

28、第二方面，本公开实施例中提供了一种基于emmc的测试装置，应用于emmc测试平台，所述装置包括：

29、控制模块，用于使用电路开发板通过iic接口，对pmic芯片进行控制；

30、调节模块，用于通过所述pmic芯片调节电压上升下降速率和输出电压值；

31、模拟模块，用于根据所述电压上升下降速率和所述输出电压值模拟电压抖动；

32、插入模块，用于通过将所述电压抖动插入至预设抖动范围内的多个用例场景，模拟实际用户使用场景。

33、第三方面，本公开实施例中提供了一种计算机设备，所述计算机设备包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现第一方面中所述的基于emmc的测试方法的步骤。

34、第四方面，本公开实施例中提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现第一方面中所述的基于emmc的测试方法的步骤。

35、本申请的有益效果：

36、本申请实施例提供的基于emmc的测试方法，应用于emmc测试平台，方法包括：使用电路开发板通过iic接口，对pmic芯片进行控制；通过所述pmic芯片调节电压上升下降速率和输出电压值；根据所述电压上升下降速率和所述输出电压值模拟电压抖动；通过将所述电压抖动插入至预设抖动范围内的多个用例场景，模拟实际用户使用场景。本申请用emmc测试平台来控制模拟vcc电压抖动，并在emmc各种用例场景中插入电压抖动，可以有效模拟实际用户使用场景。

37、为使本发明的上述目的、特征和优点能更明显和易懂，下文特举较佳实施例，并配合所附附图，做详细说明如下。

技术特征：

1.一种基于emmc的测试方法，其特征在于，应用于emmc测试平台，所述方法包括：

2.根据权利要求1所述的基于emmc的测试方法，其特征在于，所述pmic芯片包括输出寄存器和控制寄存器，所述通过所述pmic芯片调节电压上升下降速率和输出电压值，包括：

3.根据权利要求2所述的基于emmc的测试方法，其特征在于，所述预设电压公式为：

4.根据权利要求1所述的基于emmc的测试方法，其特征在于，所述用例场景包括第一用例场景和第二用例场景，所述通过将所述电压抖动插入至预设抖动范围内的多个用例场景，模拟实际用户使用场景，包括：

5.根据权利要求1所述的基于emmc的测试方法，其特征在于，所述用例场景包括第三用例场景、第四用例场景和第五用例场景，所述通过将所述电压抖动插入至预设抖动范围内的多个用例场景，模拟实际用户使用场景，还包括：

6.根据权利要求1所述的基于emmc的测试方法，其特征在于，所述用例场景包括第六用例场景、第七用例场景、第八用例场景和第九用例场景，所述通过将所述电压抖动插入至预设抖动范围内的多个用例场景，模拟实际用户使用场景，还包括：

7.根据权利要求1所述的基于emmc的测试方法，其特征在于，所述用例场景包括第十用例场景，所述通过将所述电压抖动插入至预设抖动范围内的多个用例场景，模拟实际用户使用场景，还包括：

8.一种基于emmc的测试装置，其特征在于，应用于emmc测试平台，所述装置包括：

9.一种计算机设备，其特征在于，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1-7中任一项所述的基于emmc的测试方法的步骤。

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1-7中任一项所述的基于emmc的测试方法的步骤。

技术总结本发明公开了一种基于eMMC的测试方法、装置、计算机设备及存储介质。该方法应用于eMMC测试平台，方法包括：使用电路开发板通过IIC接口，对PMIC芯片进行控制；通过PMIC芯片调节电压上升下降速率和输出电压值；根据电压上升下降速率和输出电压值模拟电压抖动；通过将电压抖动插入至预设抖动范围内的多个用例场景，模拟实际用户使用场景。本申请用eMMC测试平台来控制模拟VCC电压抖动，并在eMMC各种用例场景中插入电压抖动，可以有效模拟实际用户使用场景。技术研发人员：孙成思,何瀚,王灿,张淼受保护的技术使用者：成都佰维存储科技有限公司技术研发日：技术公布日：2024/2/29