获取测试算法故障覆盖率的方法及相关设备与流程

本公开涉及半导体集成电路测试，具体而言，涉及一种获取测试算法故障覆盖率的方法、获取测试算法故障覆盖率的装置、计算机设备、计算机可读存储介质及计算机程序产品。

背景技术：

1、随着技术的发展，存储器密度的增长使存储器的测试面临着更大的挑战。随着半导体工艺尺寸不断缩小，存储器可能存在的故障类型越来越多，使得测试时间和测试成本都在急剧增长。因此，存储器测试方法的研究日益受到重视。在可以接受的测试费用和测试时间的限制下，准确的故障模型和有效的测试算法是至关重要的，存储器测试算法的选择以及测试的实现方法是存储器测试的关键。

2、存储器(例如内存)故障模型的提出是一个持续不断的过程，导致很多测试算法设计的时候，并没有考虑到最新的故障，导致了测试算法的内存故障覆盖能力不明。

3、相关技术中，对测试算法的覆盖能力进行分析的一种方法就是，一些有资深经验的人对测试算法进行手工分析，导致成本较高且效率较低。

技术实现思路

1、本公开的目的在于提供一种获取测试算法故障覆盖率的方法、获取测试算法故障覆盖率的装置、计算机设备、计算机可读存储介质及计算机程序产品，能够至少在一定程度上降低获取测试算法故障覆盖率的成本，提高获取测试算法故障覆盖率的效率。

2、本公开实施例提供一种获取测试算法故障覆盖率的方法，包括：获得待测对象的故障模型的故障特征式；获得测试算法的算法逻辑式；根据所述算法逻辑式和所述故障特征式，确定所述测试算法是否覆盖所述故障模型。

3、本公开实施例提供一种获取测试算法故障覆盖率的装置，包括：获得单元，用于获得待测对象的故障模型的故障特征式；所述获得单元，还用于获得测试算法的算法逻辑式；处理单元，用于根据所述算法逻辑式和所述故障特征式，确定所述测试算法是否覆盖所述故障模型。。

4、本公开实施例提供了一种计算机设备，包括处理器、存储器、输入输出接口；处理器分别与存储器和输入输出接口相连，其中，输入输出接口用于接收数据及输出数据，存储器用于存储计算机程序，处理器用于调用该计算机程序，以使包含该处理器的计算机设备执行本公开任一实施例中的获取测试算法故障覆盖率的方法。

5、本公开实施例提供了一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质存储有计算机程序，该计算机程序适于由处理器加载并执行，以使得具有该处理器的计算机设备执行本公开任一实施例中的获取测试算法故障覆盖率的方法。

6、本公开实施例提供了一种计算机程序产品或计算机程序，该计算机程序产品或计算机程序包括计算机指令，该计算机指令存储在计算机可读存储介质中。计算机设备的处理器从计算机可读存储介质读取该计算机指令，处理器执行该计算机指令，使得该计算机设备执行本公开任一实施例中的各种可选方式中提供的方法。

7、本公开一些实施例提供的获取测试算法故障覆盖率的方法、获取测试算法故障覆盖率的装置、计算机设备、计算机可读存储介质及计算机程序产品，通过获得待测对象的故障模型的故障特征式，并获得测试算法的算法逻辑式，从而可以根据所获得的算法逻辑式和故障特征式确定该测试算法是否覆盖该故障模型，该方式可以自动实现，不需要人为手工分析，因此，提高了效率并降低了成本。

技术特征：

1.一种获取测试算法故障覆盖率的方法，其特征在于，包括：

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，获得待测对象的故障模型的故障特征式，包括：

3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述故障表达式依序包括数据背景、敏化操作和检测操作，所述数据背景表示故障发生前k个存储单元的数据状态，所述敏化操作表示造成故障的操作命令，所述检测操作表示检测故障的操作，k为大于或等于1的正整数；

4.如权利要求1所述的方法，其特征在于，获得测试算法的算法逻辑式，包括：

5.如权利要求4所述的方法，其特征在于，所述算法逻辑式包括1阶级算法逻辑式；

6.如权利要求5所述的方法，其特征在于，所述算法逻辑式包括n阶级算法逻辑式，n为大于1的正整数；

7.如权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述算法逻辑式和所述故障特征式，确定所述测试算法是否覆盖所述故障模型，包括：

8.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述故障模型包括m个，所述测试算法包括n种，m和n均为大于或等于1的正整数；

9.如权利要求8所述的方法，其特征在于，还包括：

10.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述待测对象包括内存。

11.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述测试算法包括推进式类算法。

12.一种获取测试算法故障覆盖率的装置，其特征在于，包括：

13.一种计算机设备，其特征在于，包括：

14.一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序使得计算机设备执行如权利要求1至11中任一项所述的方法。

15.一种计算机程序产品，包括计算机程序，其特征在于，该计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至11中任一项所述的方法。

技术总结本公开提供一种获取测试算法故障覆盖率的方法及相关设备，属于半导体集成电路测试技术领域。该方法包括：获得待测对象的故障模型的故障特征式；获得测试算法的算法逻辑式；根据所述算法逻辑式和所述故障特征式，确定所述测试算法是否覆盖所述故障模型。本公开实施例提供了一种成本较低且效率较高的获取测试算法故障覆盖率的方案。技术研发人员：方辉,韩宝磊,李晓磊,侯正龙受保护的技术使用者：长鑫存储技术有限公司技术研发日：技术公布日：2024/3/24