内建自测试方法和设备与流程

本公开涉及但不限于一种内建自测试方法和设备。

背景技术：

1、半导体存储器是电子设备最重要的组成部分，存储器对于电子设备的性能和稳定性都起着至关重要的作用。所以，必须要保证这些电子设备中使用的存储器的可靠性，针对存储器的测试很有必要。

2、然而，现有的测试方法中，需要访问不同的地址，并对不同的地址都需要执行读写操作，会导致测试的时间比较长，测试效率降低。

技术实现思路

1、本公开提供一种内建自测试方法，存储器包括多个存储区域，所述方法包括：

2、获取待写入数据的存储区域的第一初始地址；

3、对所述第一初始地址的至少一位地址进行屏蔽，以激活多个所述存储区域，记被激活的多个所述存储区域的地址为第一压缩写地址；

4、根据所述第一压缩写地址向对应的所述存储区域中写入测试数据；

5、获取待读出数据的所述存储区域的第二初始地址；

6、对所述第二初始地址的至少一位地址进行屏蔽，以激活多个所述存储区域，记被激活的多个所述存储区域的地址为第一压缩读地址；

7、根据所述第一压缩读地址对多个所述存储区域对应的所述测试数据进行读取，且在读出过程中对所述测试数据进行压缩处理，以使所述存储器读出的压缩数据位数等于一个所述存储区域读出的未压缩数据的位数；

8、根据所述测试数据和预设压缩处理规则计算理想读出数据，比较所述存储器的读出数据和所述理想读出数据，获得测试结果。

9、在一些实施例中，对所述第一初始地址的至少一位地址进行屏蔽，具体包括：

10、获取压缩写指令，并基于所述压缩写指令将所述第一初始地址中至少一位地址本身及其反相信号强制为相同的特定值，以激活对应的多个所述存储区域。

11、在一些实施例中，对所述第二初始地址的至少一位地址进行屏蔽，具体包括：

12、获取压缩读指令，并基于所述压缩读指令将所述第二初始地址中至少一位地址本身及其反相信号强制为相同的特定值，以激活对应的多个所述存储区域。

13、在一些实施例中，每个存储区域包括多个存储阵列；

14、根据第一压缩写地址向对应的存储区域中写入测试数据，具体包括：

15、在每个第一压缩写地址对应的存储区域内，根据当前行地址开启当前字线，开启当前字线上的存储阵列内的当前列选择线，以向目标值个存储单元中写入测试数据，更新下一列选择线，直至向当前字线上所有存储单元写入测试数据。

16、在一些实施例中，每个存储区域包括多个存储阵列；

17、根据第一压缩读地址对多个存储区域对应的测试数据进行读取，具体包括：

18、在每个第一压缩读地址对应的存储区域内，根据当前行地址开启当前字线，开启当前字线上的存储阵列内的当前列选择线，以向目标值个存储单元中读出测试数据，更新下一列选择线，直至从当前字线上所有存储单元读出测试数据。

19、在一些实施例中，在写入数据时同时被激活的存储区域的数量大于在读出数据时同时被激活的存储区域的数量。

20、在一些实施例中，在根据所述测试数据和所述压缩处理的规则计算理想读出数据，比较所述存储器的读出数据和所述理想读出数据，获得测试结果之前，所述方法还包括：

21、获取待写入数据的存储区域的第三初始地址；

22、对所述第三初始地址的至少一位地址进行屏蔽，以激活多个所述存储区域，记被激活的多个所述存储区域的地址为第二压缩写地址；

23、根据所述第二压缩写地址向对应的所述存储区域中写入测试数据；

24、获取待读出数据的所述存储区域的第四初始地址；

25、对所述第四初始地址的至少一位地址进行屏蔽，以激活多个所述存储区域，记被激活的多个所述存储区域的地址为第二压缩读地址；

26、根据所述第二压缩读地址对多个所述存储区域对应的所述测试数据进行读取，且在读出过程中对所述测试数据进行压缩处理，以使所述存储器读出的压缩数据位数等于一个所述存储区域读出的未压缩数据的位数。

27、本公开另一实施例提供一种内建自测试装置，存储器包括多个存储区域，所述装置包括：

28、写入模块，用于获取待写入数据的存储区域的第一初始地址；对所述第一初始地址的至少一位地址进行屏蔽，以激活多个所述存储区域，记被激活的多个所述存储区域的地址为第一压缩写地址；根据所述第一压缩写地址向对应的所述存储区域中写入测试数据；

29、读出模块，用于获取待读出数据的所述存储区域的第二初始地址；对所述第二初始地址的至少一位地址进行屏蔽，以激活多个所述存储区域，记被激活的多个所述存储区域的地址为第一压缩读地址；根据所述第一压缩读地址对多个所述存储区域对应的所述测试数据进行读取，且在读出过程中对所述测试数据进行压缩处理，以使所述存储器读出的压缩数据位数等于一个所述存储区域读出的未压缩数据的位数；

30、输出模块，用于根据所述测试数据和预设压缩处理规则计算理想读出数据，比较所述存储器的读出数据和所述理想读出数据，获得测试结果。

31、在一些实施例中，写入模块，用于获取压缩写指令，并基于所述压缩写指令将所述第一初始地址中至少一位地址本身及其反相信号强制为相同的特定值，以激活对应的多个所述存储区域。

32、本公开另一实施例提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质中存储有计算机执行指令，所述计算机执行指令被处理器执行时用于实现上述实施例中所涉及的内建自测试方法。

33、本公开提供的内建自测试方法和设备，对第一初始地址的至少一位地址进行屏蔽，以激活多个存储区域，并向激活的存储区域中写入测试数据，实现数据写压缩，缩短数据写入时间。对第二初始地址的至少一位地址进行屏蔽，以激活多个存储区域，并从激活的存储区域中读出测试数据，实现数据读压缩，缩短数据读出时间，并对读出测试数据进行压缩处理，以适应存储器的数据读出位数，无需改变现有存储器的结构。通过缩短数据写入时间和数据读出时间，可以缩短测试时间，提升测试效率。

技术特征：

1.一种内建自测试方法，其特征在于，存储器包括多个存储区域，所述方法包括：

2.根据权利要求1所述的内建自测试方法，其特征在于，对所述第一初始地址的至少一位地址进行屏蔽，具体包括：

3.根据权利要求2所述的内建自测试方法，其特征在于，对所述第二初始地址的至少一位地址进行屏蔽，具体包括：

4.根据权利要求1至3中任意一项所述的内建自测试方法，其特征在于，每个存储区域包括多个存储阵列；

5.根据权利要求1至3中任意一项所述的内建自测试方法，其特征在于，每个存储区域包括多个存储阵列；

6.根据权利要求1至3中任意一项所述的内建自测试方法，其特征在于，在写入数据时同时被激活的存储区域的数量大于在读出数据时同时被激活的存储区域的数量。

7.根据权利要求1至3中任意一项所述的内建自测试方法，其特征在于，在获取待读出数据的所述存储区域的第二初始地址之前，所述方法还包括：

8.一种内建自测试装置，其特征在于，存储器包括多个存储区域，所述装置包括：

9.根据权利要求8所述的内建自测试装置，其特征在于，所述写入模块，具体用于：

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质中存储有计算机执行指令，所述计算机执行指令被处理器执行时用于实现如权利要求1至7任一项所述的内建自测试方法。

技术总结本公开提供一种内建自测试方法和设备，包括：获取待写入数据的存储区域的第一初始地址，对所述第一初始地址的至少一位地址进行屏蔽，以激活多个所述存储区域，根据所述第一压缩写地址向对应的所述存储区域中写入测试数据，获取待读出数据的所述存储区域的第二初始地址，对所述第二初始地址的至少一位地址进行屏蔽，以激活多个所述存储区域，根据所述第一压缩读地址对多个所述存储区域对应的所述测试数据进行读取，且在读出过程中对所述测试数据进行压缩处理，根据所述测试数据和预设压缩处理规则计算理想读出数据，比较所述存储器的读出数据和所述理想读出数据，获得测试结果。通过如此设置，提高测试效率。技术研发人员：孙圆圆,王佳受保护的技术使用者：长鑫存储技术有限公司技术研发日：技术公布日：2024/3/27