-
一种用于大规模存储器内建自测试的分组方法、装置、设备及存储介质
本技术涉及数字电路设计,尤其涉及一种用于大规模存储器内建自测试的分组方法、装置、设备及存储介质。背景技术:1、在电子设计自动化领域(eda),存储器内自建内测试(mbist,memory built-......
-
内建控制主机的电动脚踏车的制作方法
本发明是有关一种电动脚踏车,尤其是指一种电动脚踏车内建可播放多媒体应用程序的控制主机及操控系统,可与外部的显示单元通信连结,以进行多媒体画面播放与操作控制。背景技术:1、有关于电动脚踏车(e-bike......
-
一种TCAM存储器的内建自测试方法与流程
本发明公开了一种tcam存储器的内建自测试方法,涉及芯片可测性设计、芯片生产测试。背景技术:1、tcam是ternary content addressable memory的缩写,即三态内容寻址存储......
-
内建自测试系统及电子设备的制作方法
本公开涉及半导体,特别是涉及一种内建自测试系统及电子设备。背景技术:1、集成电路测试的目的是检测生产制造中产生的缺陷,内建自测试(built in selftest,bist)是可测试性设计的一种重要......
-
一种嵌入式Flash内建自测试及故障扇区修复方法与流程
本发明涉及计算控制芯片和soc集成电路领域,半导体器件测试领域,尤其是指一种嵌入式flash内建自测试及故障扇区修复方法。背景技术:1、随着集成电路工艺的发展与进步,嵌入式flash已经成为计算控制芯......
-
一种启动时进行引脚内建自测试的芯片的制作方法
【】本发明涉及芯片dft(design for testability,可测试性设计)设计,特别涉及一种启动时进行引脚内建自测试(pad bist)的芯片。背景技术0、背景技术:1、针对芯片pad(焊......
-
内建自测试方法、内建自测试装置及半导体存储器与流程
本公开涉及半导体存储器,尤其涉及一种内建自测试方法、内建自测试装置及半导体存储器。背景技术:1、目前,动态随机存取存储器技术发展迅速,为保证动态随机存取存储器准确存储数据,需要对半导体存储器进行测试。......
-
存储器内建自测试方法及其装置与流程
本公开实施例涉及半导体,尤其涉及存储器内建自测试方法及其装置。背景技术:1、目前,普遍通过在芯片内部设置存储器内建自测试(memory bulid-in-selftest,mbist)结构,以增加芯片......
-
内建自测试方法和设备与流程
本公开涉及但不限于一种内建自测试方法和设备。背景技术:1、半导体存储器是电子设备最重要的组成部分,存储器对于电子设备的性能和稳定性都起着至关重要的作用。所以,必须要保证这些电子设备中使用的存储器的可靠......
-
存储控制器内建自测试的系统的制作方法
本申请涉及存储器,特别涉及一种存储控制器内建自测试的系统。背景技术:1、本部分旨在为权利要求书中陈述的本申请的实施方式提供背景或上下文。此处的描述不因为包括在本部分中就承认是已被公开的现有技术。2、在......
-
内建动态老炼控制的集成电路、系统及方法
本发明属于集成电路设计及测试,涉及一种内建动态老炼控制的集成电路、系统及方法。背景技术:1、动态老炼是集成电路可靠性筛选中的重要环节,是剔除早期失效、提高电路可靠性的有效手段。动态老炼的实质是通过对集......
-
一种内建电场的磷化物析氢催化剂及其制备方法与应用
本发明属于催化剂,具体涉及一种内建电场的磷化物析氢催化剂及其制备方法与应用。背景技术:1、众所周知,为了使全球环境得到改善,人们已经把目光转向太阳能、风能、生物质能、氢能等新型可再生能源。其中,氢能因......