一种闪存芯片测试机的制作方法

本技术涉及芯片测试机，特别涉及一种闪存芯片测试机。

背景技术：

1、闪存指是移动数码产品的理想存储介质，是现在最常用的断电不丢失信息的半导体存储芯片，其具有体积小、功耗低、不易受物理破坏的优点，目前为了验证存储器产品的正确性，在产品出厂前一般会进行测试，为提升测试效率需要一种闪存芯片测试机辅助检测作业。

2、现有的芯片测试机为了保证芯片与测试电路板上的触点精确对位通电，多配置有对芯片实施限位卡放的卡槽装配结构，这些卡槽装配结构为实现对芯片的校准定位，其内侧空间的尺寸多与芯片相等与芯片之间的活动余量较小，这就造成难以直接依靠手指将测试完成后芯片取出卸料，造成芯片于卡槽装配结构内部的取卸操作较为麻烦、不便。

技术实现思路

1、有鉴于此，本实用新型提供一种闪存芯片测试机，以解决卡槽装配结构为实现对芯片的校准定位，其内侧空间的尺寸多与芯片相等与芯片之间的活动余量较小，这就造成难以直接依靠手指将测试完成后芯片取出卸料，造成芯片于卡槽装配结构内部的取卸操作较为麻烦、不便的问题。

2、本实用新型提供了一种闪存芯片测试机，具体包括：测试机台和闪存芯片，所述测试机台的顶端通过螺丝锁紧固定有一处测试电路板，且测试机台的顶端后侧位置竖撑安装有一处显示装置，显示装置与测试电路板电性连接用于显示测试数据；所述测试电路板上固定设置有一处矩形结构的定位卡槽，且定位卡槽的前侧呈开口结构；所述测试电路板的顶端位于定位卡槽内侧的部分上固定设置有一处对接台，对接台的顶端设置有多排触点，且待测试的闪存芯片滑动插置于定位卡槽中；所述闪存芯片底部的众多触点下滑与多排触点抵靠对接在一起；所述定位卡槽的顶部空间中滑动安装有一处压板，且压板的中心处竖撑焊接有一处六棱滑轴；所述定位卡槽顶板的中心位置支撑焊接有一处定位环，六棱滑轴通过弹簧顶推与定位环和定位卡槽的顶板贯穿滑动配合；所述定位卡槽的后侧空间中滑动安装有一处推板；所述推板上对称向后焊接有两处滑轴，两处滑轴与定位卡槽的后侧板贯穿滑动配合，且两处滑轴的后端焊接有一处向左水平支撑的推杆，推板向前滑移与闪存芯片的后端抵靠接触。

3、进一步的，所述测试机台的左右侧壁上对称贯穿开设有四处竖向布置的滑槽，且测试机台左右侧壁的中间位置对称焊接有两处竖向定位轴，两处竖向定位轴位于四处滑槽之间。

4、进一步的，两处所述竖向定位轴上对称滑动安装有两处托架，托架整体由一处凵状水平框和焊接于凵状水平框首端的纵向托杆共同组成。

5、进一步的，两处所述托架上的两处凵状水平框对应与四处滑槽滑动配合，且两处托架上的两处纵向托杆滑动位于定位卡槽内部的左右两侧位置。

6、进一步的，测试时所述闪存芯片内插装配于定位卡槽中时，滑动撑托于两处托架的顶端。

7、进一步的，所述测试机台呈方形结构，其左右两侧底部对称焊接有两处触底支撑框。

8、有益效果是：

9、1、本实用新型，通过六棱滑轴上弹簧的推力，压板可将闪存芯片稳定的下压定位于对接台上实施通电检测，减小闪存芯片松动不稳，造成接触不良并发生断电影响检测作业的机率，六棱滑轴上弹簧的弹力为两处竖向定位轴上两处弹簧总推力的四倍，这可以保证六棱滑轴的下压推力足以对抗两处竖向定位轴上两处弹簧的反推力，对闪存芯片实施正常下压定位。

10、2、本实用新型，推板向前推移可将闪存芯片从定位卡槽中轻松的推出卸料，且通过推杆可方便对推板实施推移驱动，进而本实用新型，通过定位卡槽中内置的推板对闪存芯片实施推出卸料，相较于现有技术中直接依靠手指对测试完成后闪存芯片实施取卸的操作，对闪存芯片的取卸较为方便简单且高效。

11、3、本实用新型，两处托架通过弹簧顶推支撑保持，可支撑托起从定位卡槽中内外抽插拆装的闪存芯片，使闪存芯片在抽插拆装的过程中与对接台分离，避免闪存芯片和对接台上的触点互相抵靠接触并产生相对滑移磨损，间接导致闪存芯片通电不良损坏。

技术特征：

1.一种闪存芯片测试机，其特征在于，包括：测试机台(1)和闪存芯片(4)，所述测试机台(1)的顶端通过螺丝锁紧固定有一处测试电路板(2)，且测试机台(1)的顶端后侧位置竖撑安装有一处显示装置(3)，显示装置(3)与测试电路板(2)电性连接用于显示测试数据；所述测试电路板(2)上固定设置有一处矩形结构的定位卡槽(201)，且定位卡槽(201)的前侧呈开口结构；所述测试电路板(2)的顶端位于定位卡槽(201)内侧的部分上固定设置有一处对接台(203)，对接台(203)的顶端设置有多排触点，且待测试的闪存芯片(4)滑动插置于定位卡槽(201)中；所述闪存芯片(4)底部的众多触点下滑与多排触点抵靠对接在一起；所述定位卡槽(201)的顶部空间中滑动安装有一处压板(5)，且压板(5)的中心处竖撑焊接有一处六棱滑轴(501)；所述定位卡槽(201)顶板的中心位置支撑焊接有一处定位环(202)，六棱滑轴(501)通过弹簧顶推与定位环(202)和定位卡槽(201)的顶板贯穿滑动配合；所述定位卡槽(201)的后侧空间中滑动安装有一处推板(6)；所述推板(6)上对称向后焊接有两处滑轴，两处滑轴与定位卡槽(201)的后侧板贯穿滑动配合，且两处滑轴的后端焊接有一处向左水平支撑的推杆(601)，推板(6)向前滑移与闪存芯片(4)的后端抵靠接触。

2.如权利要求1所述一种闪存芯片测试机，其特征在于：所述测试机台(1)的左右侧壁上对称贯穿开设有四处竖向布置的滑槽，且测试机台(1)左右侧壁的中间位置对称焊接有两处竖向定位轴(204)，两处竖向定位轴(204)位于四处滑槽之间。

3.如权利要求2所述一种闪存芯片测试机，其特征在于：两处所述竖向定位轴(204)上对称滑动安装有两处托架(205)，托架(205)整体由一处凵状水平框和焊接于凵状水平框首端的纵向托杆共同组成。

4.如权利要求3所述一种闪存芯片测试机，其特征在于：两处所述托架(205)上的两处凵状水平框对应与四处滑槽滑动配合，且两处托架(205)上的两处纵向托杆滑动位于定位卡槽(201)内部的左右两侧位置。

5.如权利要求4所述一种闪存芯片测试机，其特征在于：测试时所述闪存芯片(4)内插装配于定位卡槽(201)中时，滑动撑托于两处托架(205)的顶端。

6.如权利要求1所述一种闪存芯片测试机，其特征在于：所述测试机台(1)呈方形结构，其左右两侧底部对称焊接有两处触底支撑框。

技术总结本技术提供一种闪存芯片测试机，涉及芯片测试机领域，包括：测试机台和闪存芯片，所述测试机台的顶端通过螺丝锁紧固定有一处测试电路板，且测试机台的顶端后侧位置竖撑安装有一处显示装置；所述测试电路板上固定设置有一处矩形结构的定位卡槽，且定位卡槽的前侧呈开口结构；所述测试电路板的顶端位于定位卡槽内侧的部分上固定设置有一处对接台，推板向前推移可将闪存芯片从定位卡槽中轻松的推出卸料，且通过推杆可方便对推板实施推移驱动，进而本技术，通过定位卡槽中内置的推板对闪存芯片实施推出卸料，相较于现有技术中直接依靠手指对测试完成后闪存芯片实施取卸的操作，对闪存芯片的取卸较为方便简单且高效。技术研发人员：王玉伟,邹小玲,孙丹归,郑双桥受保护的技术使用者：深圳市卓然电子有限公司技术研发日：20230908技术公布日：2024/3/31