一种DDR5内存模组测试电路、装置及方法与流程

本发明涉及ddr5测试，尤其涉及一种ddr5内存模组测试电路、装置及方法。

背景技术：

1、随着计算机技术的发展，对内存的容量以及各方面的要求越来越高，ddr5为第5代双倍数据速率同步动态随机存取内存，又称ddr5 sdram，是一种高带宽电脑存储器规格，与ddr4相比，ddr5标准性能更强，功耗更低，目前广泛应用于计算机设备中。ddr5内存模组有多种类型，例如常见的sodimm、udimm、rdimm等，而不同类型的ddr5内存模组的pin脚存在差异，因此目前在对ddr5内存模组做测试时，每测试一种类型的ddr5内存模组都需要手动去更换到带有相应类型测试插座的装置上，非常麻烦，若是需要批量对不同类型的ddr5内存模组进行测试时，测试效率变得非常低。

技术实现思路

1、本发明实施例提供一种ddr5内存模组测试电路、装置及方法，解决现有技术测试不同类型的ddr5内存模组需要更换不同测试装置的问题。

2、第一方面，本发明实施例提供了一种ddr5内存模组测试电路，其包括：

3、电源模块，连接于所述插座模块，用于为所述插座模块供电；

4、主控模块，连接于所述插座模块，用于接收上位机的指令并输出不同的驱动控制信号；

5、开关模块，连接于所述主控模块和所述插座模块，用于根据所述不同的驱动控制信号来选择开启所述不同类型的ddr5插座的电源，以使所述主控模块根据所述指令对已上电的所述ddr5插座上的所述ddr5内存模组进行测试。

6、在本发明实施例提供的ddr5内存模组测试电路中，所述开关模块包括驱动单元和开关器件，所述驱动单元连接于所述主控模块和所述开关器件，所述开关器件连接于所述插座模块，其中，所述驱动单元用于接收所述驱动控制信号来驱动所述开关器件输出开关信号以打开所述不同类型的ddr5插座的电源。

7、在本发明实施例提供的ddr5内存模组测试电路中，所述驱动单元包括驱动芯片，所述开关器件包括多个继电器，所述驱动芯片的输入端连接于所述主控模块的输出端，所述驱动芯片的输出端连接于每个所述继电器的线圈负极触点，每个所述继电器的线圈正极触点均连接第一电源，每个所述继电器的公共端触点分别连接于所述不同类型的ddr5插座的电源控制端，每个所述继电器的常开触点均连接第二电源。

8、在本发明实施例提供的ddr5内存模组测试电路中，所述驱动芯片为uln2003a芯片。

9、在本发明实施例提供的ddr5内存模组测试电路中，所述不同类型的ddr5插座包括sodimm插座、udimm插座、rdimm插座。

10、第二方面，发明实施例提供一种ddr5内存模组测试装置，该装置包括机箱和ddr5内存模组测试电路，所述ddr5内存模组测试电路设于所述机箱；其中，所述ddr5内存模组测试电路为本发明实施例提供的任意一种所述的ddr5内存模组测试电路。

11、在本发明实施例提供的ddr5内存模组测试装置中，所述ddr5插座设于所述机箱朝上的一侧，所述ddr5内存模组测试装置还包括辅助插拔机构，所述辅助插拔机构设于机箱上且与所述ddr5插座相邻，其中，所述辅助插拔机构用于将所述ddr5内存模组沿竖直方向朝向所述ddr5插座进行按压，以使所述ddr5内存模组嵌入所述ddr5插座中。

12、在本发明实施例提供的ddr5内存模组测试装置中，所述辅助插拔机构包括第一按压模组和第二按压模组，所述第一按压模组和所述第二按压模组分别与所述ddr5插座长边方向上相对的两侧相邻设置，其中，所述第一按压模组和所述第二按压模组用于对所述ddr5内存模组朝上的一侧的两边缘进行按压，以使所述ddr5内存模组嵌入所述ddr5插座中。

13、在本发明实施例提供的ddr5内存模组测试装置中，所述机箱朝上的一侧间隔设置有第一连接部和第二连接部，所述ddr5插座设于所述第一连接部和所述第二连接部之间，所述第一按压模组和所述第二按压模组均包括按压臂和滚轴，两个所述按压臂分别转动安装于所述第一连接部和所述第二连接部，两个所述滚轴分别转动安装于两个所述按压臂相向的一侧，其中，两个所述按压臂用于相向转动以带动两个所述滚轴朝所述ddr5内存模组的顶部进行抵压，以使所述ddr5内存模组嵌入所述ddr5插座中。

14、在本发明实施例提供的ddr5内存模组测试装置中，所述ddr5内存模组测试装置还包括扫描装置，所述扫描装置设于所述机箱上且与所述ddr5插座相邻，所述ddr5内存模组上设有标识，其中，所述扫描装置用于扫描所述标识。

15、第三方面，本发明实施例提供一种ddr5内存模组测试方法，该方法包括：控制主控模块驱动开关模块选择开启插座模块上其中一种类型的ddr5插座的电源；控制所述主控模块对所述ddr5插座上的ddr5内存模组执行测试以得到测试数据；根据所述测试数据得到测试结果并显示。

16、本发明实施例提供一种ddr5内存模组测试电路、装置及方法，该电路包括插座模块、主控模块、电源模块及开关模块；所述插座模块设有不同类型的ddr5插座，所述不同类型的ddr5插座用于插接不同类型的ddr5内存模组；所述主控模块连接于所述插座模块，用于接收上位机的指令并输出不同的驱动控制信号；所述电源模块连接于所述插座模块，用于为所述插座模块供电；所述开关模块连接于所述主控模块和所述插座模块，用于根据所述不同的驱动控制信号来选择开启所述不同类型的ddr5插座的电源，以使所述主控模块根据所述指令对已上电的所述ddr5插座上的所述ddr5内存模组进行测试。本申请提供的ddr5内存模组测试电路可以支持不同类型的ddr5内存模组测试，测试不同类型ddr5内存模组无需更换测试装置，测试起来更加方便，测试效率更高。

技术特征：

1.一种ddr5内存模组测试电路，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的ddr5内存模组测试电路，其特征在于，所述开关模块包括驱动单元和开关器件，所述驱动单元连接于所述主控模块和所述开关器件，所述开关器件连接于所述插座模块，其中，所述驱动单元用于接收所述驱动控制信号来驱动所述开关器件输出开关信号以打开所述不同类型的ddr5插座的电源。

3.根据权利要求2所述的ddr5内存模组测试电路，其特征在于，所述驱动单元包括驱动芯片，所述开关器件包括多个继电器，所述驱动芯片的输入端连接于所述主控模块的输出端，所述驱动芯片的输出端连接于每个所述继电器的线圈负极触点，每个所述继电器的线圈正极触点均连接第一电源，每个所述继电器的公共端触点分别连接于所述不同类型的ddr5插座的电源控制端，每个所述继电器的常开触点均连接第二电源。

4.根据权利要求3所述的ddr5内存模组测试电路，其特征在于，所述驱动芯片为uln2003a芯片。

5.根据权利要求1-4任一项所述的ddr5内存模组测试电路，其特征在于，所述不同类型的ddr5插座包括sodimm插座、udimm插座、rdimm插座。

6.一种ddr5内存模组测试装置，其特征在于，包括：

7.根据权利要求6所述的ddr5内存模组测试装置，其特征在于，所述ddr5插座设于所述机箱朝上的一侧，所述ddr5内存模组测试装置还包括辅助插拔机构，所述辅助插拔机构设于机箱上且与所述ddr5插座相邻，其中，所述辅助插拔机构用于将所述ddr5内存模组沿竖直方向朝向所述ddr5插座进行按压，以使所述ddr5内存模组嵌入所述ddr5插座中。

8.根据权利要求7所述的ddr5内存模组测试装置，其特征在于，所述辅助插拔机构包括第一按压模组和第二按压模组，所述第一按压模组和所述第二按压模组分别与所述ddr5插座长边方向上相对的两侧相邻设置，其中，所述第一按压模组和所述第二按压模组用于对所述ddr5内存模组朝上的一侧的两边缘进行按压，以使所述ddr5内存模组嵌入所述ddr5插座中。

9.根据权利要求8所述的ddr5内存模组测试装置，其特征在于，所述机箱朝上的一侧间隔设置有第一连接部和第二连接部，所述ddr5插座设于所述第一连接部和所述第二连接部之间，所述第一按压模组和所述第二按压模组均包括按压臂和滚轴，两个所述按压臂分别转动安装于所述第一连接部和所述第二连接部，两个所述滚轴分别转动安装于两个所述按压臂相向的一侧，其中，两个所述按压臂用于相向转动以带动两个所述滚轴朝所述ddr5内存模组的顶部进行抵压，以使所述ddr5内存模组嵌入所述ddr5插座中。

10.根据权利要求6所述的ddr5内存模组测试装置，其特征在于，所述ddr5内存模组测试装置还包括扫描装置，所述扫描装置设于所述机箱上且与所述ddr5插座相邻，所述ddr5内存模组上设有标识，其中，所述扫描装置用于扫描所述标识。

11.一种ddr5内存模组测试方法，其特征在于，包括：

12.根据权利要求11所述的ddr5内存模组测试方法，其特征在于，所述控制所述主控模块对所述ddr5插座上的ddr5内存模组执行测试以得到测试数据的步骤，包括：

13.根据权利要求12所述的ddr5内存模组测试方法，其特征在于，所述测试包括温度测试，所述根据所述测试数据得到测试结果并显示的步骤，包括：

14.根据权利要求12所述的ddr5内存模组测试方法，其特征在于，所述测试包括pmic测试，所述根据所述测试数据得到测试结果并显示的步骤，包括：

15.根据权利要求12所述的ddr5内存模组测试方法，其特征在于，所述测试包括开路测试和短路测试，所述根据所述测试数据得到测试结果并显示的步骤，包括：

技术总结本发明公开了一种DDR5内存模组测试电路、装置及方法，该电路包括插座模块、主控模块、电源模块及开关模块；插座模块设有不同类型的DDR5插座，不同类型的DDR5插座用于插接不同类型的DDR5内存模组；电源模块连接于插座模块，用于为插座模块供电；主控模块连接于插座模块，用于接收上位机的指令并输出不同的驱动控制信号；开关模块连接于主控模块和插座模块，用于根据不同的驱动控制信号来选择开启不同类型的DDR5插座的电源，以使主控模块根据指令对已上电的DDR5插座上的DDR5内存模组进行测试。本申请提供的DDR5内存模组测试电路可以支持不同类型的DDR5内存模组测试，测试不同类型DDR5内存模组无需更换测试装置，测试起来更加方便，测试效率更高。技术研发人员：达龙科,梁展豪,马杰伟受保护的技术使用者：深圳忆芯信息技术有限公司技术研发日：技术公布日：2024/3/31