一种存储芯片系统级测试机自动温控系统的制作方法

本发明涉及芯片测试，具体为一种存储芯片系统级测试机自动温控系统。

背景技术：

1、当前国际环境下，在存储芯片的测试业务领域中，系统级测试是非常重要的一个测试环节，当前的主流系统级测试机的结构简单，单机成本低，占有较大的市场份额，但同时在测试温度的控制方面存在明显的缺陷，在测试过程中容易产生许多温度不受控问题，也制约着生产作业效率；

2、当前的主流系统级测试机的结构简单，温度的开启和关闭需要人手动开启，由于系统级测试机单台拥有多个独立的测试模块，温度的开启需要逐一的手动进行，在作业过程中，存在作业人员已进行待测芯片装载后，但未进行温度的开启，导致测试结果失真的问题发生，还有已测试完，但是温度没有及时的关闭，使得设备持续的处在高负荷温度环境下，造成了能源浪费和不安全温度产生的风险；

3、由于单台存储芯片系统级测试机的测试模块多达32个甚至更多，逐一的进行温度手动控制作业量大，效率极低，不利于生产效率的提升；

4、因此，我们提出了一种存储芯片系统级测试机自动温控系统。

技术实现思路

1、本发明的目的在于提供一种存储芯片系统级测试机自动温控系统，解决了背景技术中所提出的问题。

2、为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：一种存储芯片系统级测试机自动温控系统，包括工控机和温度传感器，所述工控机的信号输出端和网络继电器的信号输入端连接，所述网络继电器的信号输出端和电磁继电器开关的信号输入端连接，所述电磁继电器开关的信号输出端和测试单元的信号输入端连接；

3、每个所述测试单元的测试腔体内均固定有温度传感器，所述温度传感器的信号输出端和信号处理器的信号输入端连接，所述信号处理器的信号输出端和工控机的信号输入端连接，所述工控机的信号输出端和报警单元的信号输入端连接。

4、作为本发明的一种优选实施方式，所述测试单元包括32个测试腔体，所述电磁继电器开关的数目为8个，32个所述测试腔体的主干路上额外串联安装一个电气保护开关、一个网络继电器，网络继电器的8个输出口每个对应连接一个电磁继电器开关，1个电磁继电器开关上串联4个测试腔体，控制4个测试腔体的温度。

5、作为本发明的一种优选实施方式，所述保护开关安装在主干上作为电路保护装置，防止过载和人员触电造成伤害，同时在维护和保养过程中可以手动关闭，实现不带电作业，保障作业人员安全。

6、作为本发明的一种优选实施方式，所述报警单元具体为报警器，在反馈给工控机的温度数据异常时，工控机会自动启动报警器发出警报警示工作人员及时处理。

7、作为本发明的一种优选实施方式，系统运行方法如下：

8、步骤一：通过操作系统将生产工单上以特定码呈现的重要生产指令信息录入到操作系统中；

9、步骤二：操作系统基于工控机做出特定指令的响应，并将指令通过网线传达给网络继电器，网络继电器识别到指令后，将接入的电流转化成特定的小电流输送到电磁继电器开关，由于有特定的电流通过，电磁继电器吸合，导通对应的32个系统级测试单元的电路；

10、步骤三：同时开启对应线路上的加热装置，实现升温，温度传感器将捕捉的温度信息通过信号处理器传送给工控机，并经系统显示到显示器上，操作员经显示器可实时查看温度信息；

11、步骤四：当上一批次产品测试完成后，若操作员跟换产品，重新扫描随附的生产工单，则系统将自动断开开关，直到操作员完成新的测试指令加载后，重新根据测试指令，自动开启对应通路，完成对目标测试单元的温度自动控制；

12、步骤五：根据新开发的温度控制程序，若上一批产品测试完成后，2小时内操作员没有继续加载测试程序，则系统将自动断开通路，关闭所有测试单元的温度。

13、与现有技术相比，本发明的有益效果如下：

14、本发明根据测试业务的需求和作业模式特点，通过自动化程序、网络继电器、机械电路开关、自动电气开关等装置、工具的逻辑连接实现了系统级测试机温度自动控制功能，在测试过程中，特定作业指令会输入到系统级测试机的工控机服务器，工控机对输入的指令进行编译后，将控制信号发送给本发明的外加网络继电器，继电器接收指令后将其对指令做出响应，并将动作指令通过指定的io端口输出到对应的电气开关上，电气开关最终执行指令的控制动作，将对应通路上的开关开启或关闭，以实现对目标通路上加热器的运行进行温度自动控制的目的；

15、本发明的温度自动控制功能和生产指令直接关联，而不是通过其他信号，可以最大程度的确保温度控制的有效性和及时性，不会因为人员的误触或者错误操作造成温度控制失效的问题发生；

16、本发明可根据需求进行不同时间段的自动关停温度功能设置，防止人员未及时关闭温度的问题发生；

17、本发明设计了温度信号采集和监控系统，该系统实时监控测试环境中的温度，当温度不在设计的产品温度范围内时，监控系统根据温度传感器的监测温度值做出报警响应，并自动停止测试，避免测试不准确的问题；

18、负载电流超过规定值时，保护开关都将断开，实现对线路和系统器件的保护，在维修、保养过程中可以直接手动关闭，实现不带电作业，实现保护作业人员的目的。

技术特征：

1.一种存储芯片系统级测试机自动温控系统，其特征在于：包括工控机和温度传感器，所述工控机的信号输出端和网络继电器的信号输入端连接，所述网络继电器的信号输出端和电磁继电器开关的信号输入端连接，所述电磁继电器开关的信号输出端和测试单元的信号输入端连接；

2.根据权利要求1所述的一种存储芯片系统级测试机自动温控系统，其特征在于：所述测试单元包括32个测试腔体，所述电磁继电器开关的数目为8个，32个所述测试腔体的主干路上额外串联安装一个电气保护开关、一个网络继电器，网络继电器的8个输出口每个对应连接一个电磁继电器开关，1个电磁继电器开关上串联4个测试腔体，控制4个测试腔体的温度。

3.根据权利要求2所述的一种存储芯片系统级测试机自动温控系统，其特征在于：所述保护开关安装在主干上作为电路保护装置，防止过载和人员触电造成伤害，同时在维护和保养过程中可以手动关闭，实现不带电作业，保障作业人员安全。

4.根据权利要求1所述的一种存储芯片系统级测试机自动温控系统，其特征在于：所述报警单元具体为报警器，在反馈给工控机的温度数据异常时，工控机会自动启动报警器发出警报警示工作人员及时处理。

5.根据权利要求1所述的一种存储芯片系统级测试机自动温控系统，其特征在于：系统运行方法如下：

技术总结本发明公开了一种存储芯片系统级测试机自动温控系统，包括工控机、网络继电器、电磁继电器开关、电气保护开关，工控机的信号输出端和网络继电器的信号输入端连接，网络继电器的信号输出端和电磁继电器开关的信号输入端连接，电磁继电器开关的信号输出端和测试单元的信号输入端连接，通过开发新的温度控制程序、配合网络继电器、电磁继电器开关、三相电气保护开关、电源线若干、网线若干组成温度自动控制系统，来实现存储芯片系统级测试机的温度自动控制功能，解决存储芯片系统级测试机温度无法自动控制和手动开关作业量大及人员防呆问题。技术研发人员：林远飞,张海波,胡湘礼,盖希林受保护的技术使用者：沛顿科技（深圳）有限公司技术研发日：技术公布日：2024/3/31