一种存储器测试系统及存储器测试方法与流程

本发明涉及存储器领域，特别涉及一种存储器测试系统及存储器测试方法。

背景技术：

1、存储器被广泛使用于个人计算机、智能手机、媒体播放器等主机设备中，主机设备可以将数据存储至存储器中，也可以从存储器中读取数据。在存储器使用过程中，可能会产生坏块，进而影响存储器的正常运行。因此，测试出产生坏块的原因是十分必要的。

2、目前，在测试存储器产生坏块的原因时，一般是通过高温解焊将存储器芯片从主机设备中拆卸下来，以进行测试。然而，高温解焊容易对存储器造成性能影响，从而造成测试结果的准确度较低。

技术实现思路

1、本发明的目的在于提供了一种存储器测试系统及存储器测试方法，本发明可以更加准确地分析出存储器产生坏块的原因。

2、为解决上述技术问题，本发明是通过以下技术方案实现的：

3、本发明一种存储器测试系统，所述存储器测试系统被配置为通信连接于待测存储器，包括：

4、指令生成模块，所述指令生成模块被配置为基于目标存储页在所述待测存储器中的定位信息，生成定位读取指令，所述目标存储页为出现不可纠正的错误纠正码的存储页；

5、数据读取模块，所述数据读取模块被配置为将所述定位读取指令以及预设的目标读取电压数据发送至所述待测存储器，以使所述待测存储器基于所述目标读取电压数据对所述目标存储页进行读取操作，并接收所述待测存储器反馈的所述目标存储页对应的阈值电压数据；以及

6、数据生成模块，所述数据生成模块被配置为对所述阈值电压数据进行处理，以生成所述目标存储页的电压分布数据。

7、在本发明一实施例中，所述数据读取模块被配置为基于预先设定的所述阈值电压数据的目标接收量，确定目标读取次数，且所述数据读取模块基于所述目标读取次数，重复将所述定位读取指令以及所述目标读取电压数据发送至所述待测存储器。

8、在本发明一实施例中，所述定位读取指令携带预设的读取标识、所述定位信息及所述读取次数参数，所述指令生成模块被配置为在所述数据读取模块接收所述阈值电压数据后，更新所述定位读取指令的读取次数参数，所述数据读取模块被配置为将更新后的所述定位读取指令以及预设的目标读取电压数据发送至所述待测存储器。

9、在本发明一实施例中，所述定位信息包括目标存储页的页定位信息、所述目标存储页对应的存储块的块定位信息以及所述存储块对应的存储面的面定位信息。

10、在本发明一实施例中，所述目标存储页对应的阈值电压数据为所述目标存储页中多个存储单元的阈值电压数据。

11、在本发明一实施例中，所述数据生成模块被配置为对不同的阈值电压数据对应的存储单元的数量进行计数处理，以生成电压分布数据，所述电压分布数据用于指示不同的阈值电压数据对应的所述存储单元的分布密度。

12、在本发明一实施例中，所述存储器测试系统还包括电压偏置模块，所述电压偏置模块被配置为基于预设的偏移电压数据，对所述读取操作对应的默认读取电压数据执行电压偏置操作，以生成所述目标读取电压数据。

13、在本发明一实施例中，所述电压偏置模块被配置为基于所述电压分布数据与预设的目标分布数据之间的分布差异，更新所述偏移电压数据，并根据更新后的偏移电压数据对所述读取操作对应的默认读取电压数据执行电压偏置操作，以更新所述目标读取电压数据。

14、本发明还提供一种存储器测试方法，包括如下步骤：

15、通过指令生成模块基于目标存储页在所述待测存储器中的定位信息，生成定位读取指令，所述目标存储页为出现不可纠正的错误纠正码的存储页；

16、通过数据读取模块将所述定位读取指令以及预设的目标读取电压数据发送至所述待测存储器，以使所述待测存储器基于所述目标读取电压数据对所述目标存储页进行读取操作；

17、通过数据读取模块接收所述待测存储器反馈的所述目标存储页对应的阈值电压数据；

18、通过数据生成模块对所述阈值电压数据进行处理，以生成所述目标存储页的电压分布数据。

19、在本发明一实施例中，所述通过存储器接口模块将所述定位读取指令以及预设的目标读取电压数据发送至所述待测存储器的步骤之前，还包括：

20、通过电压偏置模块基于预设的偏移电压数据，对所述读取操作对应的默认读取电压数据执行电压偏置操作，以生成所述目标读取电压数据。

21、如上所述，本发明提供了一种存储器测试系统及存储器测试方法，可以更加准确地分析出存储器产生坏块的原因。

22、当然，实施本发明的任一产品并不一定需要同时达到以上所述的所有优点。

技术特征：

1.一种存储器测试系统，其特征在于，所述存储器测试系统被配置为通信连接于待测存储器，包括：

2.根据权利要求1所述的存储器测试系统，其特征在于，所述数据读取模块被配置为基于预先设定的所述阈值电压数据的目标接收量，确定目标读取次数，且所述数据读取模块基于所述目标读取次数，重复将所述定位读取指令以及所述目标读取电压数据发送至所述待测存储器。

3.根据权利要求2所述的存储器测试系统，其特征在于，所述定位读取指令携带预设的读取标识、所述定位信息及读取次数参数，所述指令生成模块被配置为在所述数据读取模块接收所述阈值电压数据后，更新所述定位读取指令的读取次数参数，所述数据读取模块被配置为将更新后的所述定位读取指令以及预设的目标读取电压数据发送至所述待测存储器。

4.根据权利要求1所述的存储器测试系统，其特征在于，所述定位信息包括所述目标存储页的页定位信息、所述目标存储页对应的存储块的块定位信息以及所述存储块对应的存储面的面定位信息。

5.根据权利要求1所述的存储器测试系统，其特征在于，所述目标存储页对应的阈值电压数据为所述目标存储页中多个存储单元的阈值电压数据。

6.根据权利要求5所述的存储器测试系统，其特征在于，所述数据生成模块被配置为对不同的阈值电压数据对应的存储单元的数量进行计数处理，以生成电压分布数据，所述电压分布数据用于指示不同的阈值电压数据对应的所述存储单元的分布密度。

7.根据权利要求1所述的存储器测试系统，其特征在于，所述存储器测试系统还包括电压偏置模块，所述电压偏置模块被配置为基于预设的偏移电压数据，对所述读取操作对应的默认读取电压数据执行电压偏置操作，以生成所述目标读取电压数据。

8.根据权利要求7所述的存储器测试系统，其特征在于，所述电压偏置模块被配置为基于所述电压分布数据与预设的目标分布数据之间的分布差异，更新所述偏移电压数据，并根据更新后的偏移电压数据对所述读取操作对应的默认读取电压数据执行电压偏置操作，以更新所述目标读取电压数据。

9.一种存储器测试方法，其特征在于，包括如下步骤：

10.根据权利要求9所述的存储器测试方法，其特征在于，所述通过数据读取模块将所述定位读取指令以及预设的目标读取电压数据发送至所述待测存储器的步骤之前，还包括：

技术总结本发明提供了一种存储器测试系统及存储器测试方法，包括指令生成模块，所述指令生成模块被配置为基于目标存储页在所述待测存储器中的定位信息，生成定位读取指令；数据读取模块，所述数据读取模块被配置为将所述定位读取指令以及预设的目标读取电压数据发送至所述待测存储器，并接收所述待测存储器反馈的所述目标存储页对应的阈值电压数据；以及数据生成模块，所述数据生成模块被配置为生成所述目标存储页的电压分布数据。本发明提供了一种存储器测试系统及存储器测试方法，可以更加准确地分析出存储器产生坏块的原因。技术研发人员：王亚冬,陈文涛受保护的技术使用者：合肥康芯威存储技术有限公司技术研发日：技术公布日：2024/4/17