RRT参数的确定方法、设备及可读存储介质与流程

本技术涉及数据处理，尤其涉及rrt参数的确定方法、设备及可读存储介质。背景技术：：：1、固态硬盘(ssd，solid state drive)通过将电子打入存储单元(cell)实现数据的写入，通过rrt(read retry table，读取重试表)参数实现数据的读取。在固态硬盘被实际使用过程中，由于外界环境的干扰或固态硬盘和闪存颗粒自身的生产工艺，部分存好数据的存储单元(cell)的电压可能会发生变化，而此时再用原有的rrt参数来进行读数，就会导致较高的读数错误率。2、上述内容仅用于辅助理解本技术的技术方案，并不代表承认上述内容是现有技术。技术实现思路1、本技术的主要目的在于提供一种rrt参数的确定方法、设备及可读存储介质，旨在解决在固态硬盘被实际使用过程中，由于外界环境的干扰或固态硬盘和闪存颗粒自身的生产工艺，部分存好数据的存储单元(cell)的电压可能会发生变化，而此时再用原有的rrt参数来进行读数，就会导致较高的读数错误率的技术问题。2、为实现上述目的，本技术提供一种rrt参数的确定方法，所述rrt参数的确定方法包括以下步骤：3、获取待测硬盘闪存颗粒的电压分布数据；4、将所述电压分布数据输入预先训练的电压分布预测模型，其中，所述电压分布预测模型基于所述电压分布数据，输出所述待测硬盘闪存颗粒在预设生命节点的预测电压分布数据；5、基于所述预测电压分布数据，确定目标rrt参数，并根据所述目标rrt参数更新所述待测硬盘的配置。6、可选地，所述将所述电压分布数据输入预先训练的电压分布预测模型，其中，所述电压分布预测模型基于所述电压分布数据，输出所述待测硬盘闪存颗粒在预设生命节点的预测电压分布数据的步骤之前包括：7、获取预设数量的硬盘样片，以及所述硬盘样片闪存颗粒的初始电压分布数据；8、根据预设测试条件和预设生命节点，对所述硬盘样片闪存颗粒进行测试；9、在测试过程中，基于预设间隔提取所述硬盘样片闪存颗粒的实际电压分布数据；10、基于所述初始电压分布数据和所述实际电压分布数据，训练得到所述预设生命节点的电压分布预测模型。11、可选地，所述在测试过程中，基于预设间隔提取所述硬盘样片闪存颗粒的实际电压分布数据的步骤之后，还包括：12、基于测试结束后提取到的实际电压分布数据，确定第一目标rrt参数，并根据所述第一目标rrt参数更新所述硬盘样片闪存颗粒的配置；13、根据所述预设测试条件和下一预设生命节点，对更新后的所述硬盘样片闪存颗粒进行测试；14、在测试过程中，基于预设间隔提取所述更新后的硬盘样片闪存颗粒的实际电压分布数据；15、基于所述预设生命节点至所述下一预设生命节点提取到的实际电压分布数据，训练得到所述下一预设生命节点的电压分布预测模型。16、可选地，所述基于所述预测电压分布数据，确定目标rrt参数，并根据所述目标rrt参数更新所述待测硬盘的配置的步骤之后，还包括：17、基于所述待测硬盘闪存颗粒的使用数据，确定所述待测硬盘闪存颗粒的生命节点；18、检测到所述待测硬盘闪存颗粒到达了所述预设生命节点，获取所述待测硬盘闪存颗粒的实时电压分布数据；19、将所述实时电压分布数据输入预先训练的所述下一预设生命节点的电压分布预测模型，其中，所述下一预设生命节点的电压分布预测模型基于所述实时电压分布数据，输出所述待测硬盘闪存颗粒在下一预设生命节点的预测电压分布数据；20、基于所述下一预设生命节点的预测电压分布数据，确定下一目标rrt参数，并根据所述下一目标rrt参数更新所述待测硬盘的配置。21、可选地，所述电压分布预测模型包括至少一个子模型，不同子模型对应不同的测试条件，所述获取待测硬盘闪存颗粒的电压分布数据的步骤之前包括：22、接收rrt参数的确定指令，并确定所述rrt参数的确定指令关联的测试需求；23、确定所述电压分布预测模型中与所述测试需求匹配的子模型；24、所述将所述电压分布数据输入预先训练的电压分布预测模型，其中，所述电压分布预测模型基于所述电压分布数据，输出所述待测硬盘闪存颗粒在预设生命节点的预测电压分布数据的步骤包括：25、将所述电压分布数据输入与所述测试需求匹配的子模型，其中，所述与所述验证需求匹配的子模型基于所述电压分布数据，输出所述待测硬盘闪存颗粒在预设生命节点的预测电压分布数据。26、可选地，所述基于所述预测电压分布数据，确定目标rrt参数，并根据所述目标rrt参数更新所述待测硬盘的配置的步骤包括：27、基于所述预测电压分布数据，确定所述待测硬盘闪存颗粒的存储错误率；28、基于所述存储错误率，确定所述待测硬盘闪存颗粒的rrt参数的控制精度，其中，所述存储错误率与所述控制精度成正比；29、根据所述控制精度，确定所述待测硬盘闪存颗粒的目标rrt参数组；30、根据所述目标rrt参数组，更新所述待测硬盘的配置。31、可选地，所述基于所述预测电压分布数据，确定目标rrt参数，并根据所述目标rrt参数更新所述待测硬盘的配置的步骤之后，还包括：32、基于所述目标rrt参数，对所述待测硬盘进行读取操作；33、根据读取结果，从所述待测硬盘中筛选出不合格硬盘。34、可选地，所述根据读取结果，从所述待测硬盘中筛选出不合格硬盘的步骤之后，还包括：35、检测所述不合格硬盘的坏块率；36、基于所述坏块率，对所述不合格硬盘执行回收或舍弃处理。37、此外，为实现上述目的，本技术还提供一种rrt参数的确定设备，所述设备包括：存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的rrt参数的确定程序，所述rrt参数的确定程序配置为实现上述的rrt参数的确定方法的步骤。38、此外，为实现上述目的，本技术还提供一种可读存储介质，所述可读存储介质上存储有rrt参数的确定程序，所述rrt参数的确定程序被处理器执行时实现上述的rrt参数的确定方法的步骤。39、在本技术中，为了解决在固态硬盘被实际使用过程中，由于外界环境的干扰或固态硬盘和闪存颗粒自身的生产工艺，部分存好数据的存储单元(cell)的电压可能会发生变化，而此时再用原有的rrt参数来进行读数，就会导致较高的读数错误率的技术问题，本技术通过获取待测硬盘闪存颗粒的电压分布数据；将所述电压分布数据输入预先训练的电压分布预测模型，其中，所述电压分布预测模型基于所述电压分布数据，输出所述待测硬盘闪存颗粒在预设生命节点的预测电压分布数据；基于所述预测电压分布数据，确定目标rrt参数，并根据所述目标rrt参数更新所述待测硬盘的配置。能够实现预测待测硬盘可能的出现的错误数据，在出厂前就配置好能够避免未来错误读数的目标rrt参数，确保厂商能够为用户提供性能稳定、耐久可靠的ssd产品，以满足用户对数据存储的高要求。当前第1页12当前第1页12