基于多核MCU测试存储芯片的通信方法及测试方法与流程

本发明属于存储芯片测试领域，更具体地，涉及一种基于多核mcu测试存储芯片的通信方法及测试方法。

背景技术：

1、存储芯片寿命测试一般需要上千小时的测试时间，现有技术多采用单核mcu，同一时刻只能测试一颗存储芯片，测试效率低。

2、为了提升测试效率，需要一种通信方法将多个多核mcu组成网络，并且组织多核mcu内部的各个内核之间有序通信，实现对存储芯片的并行测试。

技术实现思路

1、本发明的目的是提出一种基于多核mcu测试存储芯片的通信方法及测试方法，实现使多核mcu对存储芯片并行测试时，可以将并行测试过程中的各种测试信息展示给芯片外部，使外部设备可以显示所有内核的测试信息。

2、为实现上述目的，第一方面，本发明提出了一种基于多核mcu测试存储芯片的通信方法，包括：

3、将多个多核mcu与一个外部设备与同一can总线连接组成局域网，所述多核mcu包括一个主核和多个从核，其中主核通过can接口与所述can总线通信，主核和多个从核分别通过测试接口连接一颗存储芯片；

4、配置外部设备节点为能够向总线上的所有多核mcu节点发送测试控制报文，同时能够接收总线上所有多核mcu节点的反馈报文，所述测试控制报文包括报文id、转发对象和测试控制信息；

5、配置每个多核mcu节点的两个接收id分别为id1和id2，发送id为id3，多个多核mcu节点的id1和id3不同，id2相同，配置所述多核mcu的主核为只接收总线中报文id值等于其id1和id2的测试控制报文；

6、配置所述多核mcu中主核与多个从核的核间通信机制；

7、配置所述多核mcu的主核在识别到所述can总线中的测试控制报文的报文id的值等于其id1或id2的值时，接收所述测试控制报文，解析所述测试控制报文获得转发对象和测试控制信息，并根据转发对象将测试控制信息转发至对应的从核。

8、可选地，还包括：配置所述主核在获得所述测试控制信息后，根据所述测试控制信息和待测试的存储芯片的信息判断是否执行对相应的存储芯片进行测试，若是，则根据所述测试控制信息执行对连接的存储芯片进行测试，否则，反馈拒绝执行及拒绝原因。

9、可选地，还包括：配置所述从核在获得所述测试控制信息后，根据所述测试控制信息和待测试的存储芯片的信息判断是否执行对相应的存储芯片进行测试，若是，则根据所述测试控制信息执行对连接的存储芯片进行测试，否则，向所述主核反馈拒绝执行及拒绝原因。

10、可选地，还包括：配置所述主核能够将主核和/或从核的反馈拒绝信息、芯片的测试信息形成报文id＝id3的报文后反馈至所述外部设备。

11、可选地，所述配置每个所述多核mcu中主核与多个从核的核间通信机制包括：

12、配置所述多核mcu的主核与多个从核之间基于邮箱机制进行核间通信；

13、其中，所述主核的发送地址被配置为每个从核，所述从核的发送地址被配置为主核。

14、第二方面，本发明提出一种存储芯片测试方法，基于第一方面任意一项所述的基于多核mcu测试存储芯片的通信方法，所述测试方法包括：

15、所述外部设备向can总线发送测试控制报文；

16、每个多核mcu的主核判断所述测试控制报文的报文id是否等于其id1或id2，当所述测试控制报文的报文id的值等于id2的值时，所有多核mcu的主核均接收所述测试控制报文，当所述测试控制报文的报文id的值等于某一多核mcu的id1的值时，仅id1值等于报文id的多核mcu的主核接收所述测试控制报文；

17、所述主核在接收所述测试控制报文后，解析所述测试控制报文获得转发对象和测试控制信息，并根据所述转发对象将测试控制信息转发至对应的从核，所述从核基于所述测试控制信息对连接的存储芯片进行测试。

18、可选地，还包括：所述主核在获得所述测试控制信息后，根据所述测试控制信息和待测试的存储芯片的信息判断是否执行对相应的存储芯片进行测试，若是，则根据所述测试控制信息执行对连接的存储芯片进行测试，否则，反馈拒绝执行及拒绝原因。

19、可选地，还包括：所述从核在获得所述测试控制信息后，根据所述测试控制信息和待测试的存储芯片的信息判断是否执行对相应的存储芯片进行测试，若是，则根据所述测试控制信息执行对连接的存储芯片进行测试，否则，向所述主核反馈拒绝执行及拒绝原因。

20、可选地，还包括：所述主核将主核和/或从核的反馈拒绝信息、芯片的测试信息形成报文id＝id3的报文后反馈至所述外部设备。

21、第三方面，本发明提出一种存储芯片测试系统，包括：与同一can总线连接的多个多核mcu和一个外部设备，所述多核mcu包括一个主核和多个从核，其中主核通过can接口与所述can总线通信，主核和多个从核分别通过测试接口连接一颗存储芯片；

22、所述存储芯片测试系统利用第二方面任意一项所述的存储芯片测试方法对存储芯片进行测试。

23、本发明的有益效果在于：

24、本发明的方法通过在每个多核mcu节点配置两个接收id和一个发送id，并建立主核与从核之间的核间通信机制，基于多核mcu的主核只接收总线中报文id值等于其id1和id2的测试控制报文的机制，实现了多个多核mcu组成网络及内部多核之间的数据交互，使多核mcu对存储芯片并行测试，提高测试效率，且在测试时可以将并行测试过程中的各种测试信息展示给芯片外部，使外部设备可以显示所有内核的测试信息，同时本发明可以使整个测试网络中只有一个外部设备，控制所有多核mcu节点的测试行为，显示所有被测存储芯片的测试信息，简化网络结构，节省成本。

25、本发明的系统具有其它的特性和优点，这些特性和优点从并入本文中的附图和随后的具体实施方式中将是显而易见的，或者将在并入本文中的附图和随后的具体实施方式中进行详细陈述，这些附图和具体实施方式共同用于解释本发明的特定原理。

技术特征：

1.一种基于多核mcu测试存储芯片的通信方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的通信方法，其特征在于，还包括：配置所述主核在获得所述测试控制信息后，根据所述测试控制信息和待测试的存储芯片的信息判断是否执行对相应的存储芯片进行测试，若是，则根据所述测试控制信息执行对连接的存储芯片进行测试，否则，反馈拒绝执行及拒绝原因。

3.根据权利要求1所述的通信方法，其特征在于，还包括：配置所述从核在获得所述测试控制信息后，根据所述测试控制信息和待测试的存储芯片的信息判断是否执行对相应的存储芯片进行测试，若是，则根据所述测试控制信息执行对连接的存储芯片进行测试，否则，向所述主核反馈拒绝执行及拒绝原因。

4.根据权利要求2或3所述的通信方法，其特征在于，还包括：配置所述主核能够将主核和/或从核的反馈拒绝信息、芯片的测试信息形成报文id＝id3的报文后反馈至所述外部设备。

5.根据权利要求1所述的通信方法，其特征在于，所述配置每个所述多核mcu中主核与多个从核的核间通信机制包括：

6.一种存储芯片测试方法，基于权利要求1-5任意一项所述的基于多核mcu测试存储芯片的通信方法，其特征在于，所述测试方法包括：

7.根据权利要求6所述的测试方法，其特征在于，还包括：所述主核在获得所述测试控制信息后，根据所述测试控制信息和待测试的存储芯片的信息判断是否执行对相应的存储芯片进行测试，若是，则根据所述测试控制信息执行对连接的存储芯片进行测试，否则，反馈拒绝执行及拒绝原因。

8.根据权利要求6所述的测试方法，其特征在于，还包括：所述从核在获得所述测试控制信息后，根据所述测试控制信息和待测试的存储芯片的信息判断是否执行对相应的存储芯片进行测试，若是，则根据所述测试控制信息执行对连接的存储芯片进行测试，否则，向所述主核反馈拒绝执行及拒绝原因。

9.根据权利要求7或6所述的测试方法，其特征在于，还包括：所述主核将主核和/或从核的反馈拒绝信息、芯片的测试信息形成报文id＝id3的报文后反馈至所述外部设备。

10.一种存储芯片测试系统，其特征在于，包括：与同一can总线连接的多个多核mcu和一个外部设备，所述多核mcu包括一个主核和多个从核，其中主核通过can接口与所述can总线通信，主核和多个从核分别通过测试接口连接一颗存储芯片；

技术总结本发明公开了一种基于多核MCU测试存储芯片的通信方法及测试方法，通信方法包括：配置外部设备节点为能够发送测试控制报文；配置每个多核MCU节点的两个接收ID分别为ID1和ID2，发送ID为ID3，多个多核MCU节点的ID1和ID3不同，ID2相同，配置多核MCU的主核为只接收总线中报文ID值等于其ID1和ID2的测试控制报文；配置多核MCU的主核在识别到CAN总线中的测试控制报文的报文ID的值等于其ID1或ID2的值时，接收报文，解析报文获得转发对象和测试控制信息，并根据转发对象将测试控制信息转发至对应的从核。本发明能够实现多核MCU对存储芯片并行测试，提高测试效率，还可以将各种测试信息展示给芯片外部，使外部设备可以显示所有内核的测试信息。技术研发人员：雷黎丽,侯越,原诚寅受保护的技术使用者：北京国家新能源汽车技术创新中心有限公司技术研发日：技术公布日：2024/5/12