智能卡芯片存储介质寿命擦写次数测试方法、装置及系统与流程

本技术涉及数据存储领域，具体涉及一种智能卡芯片存储介质寿命擦写次数测试方法、装置及系统。

背景技术：

1、智能卡(例如sim卡或uicc卡)芯片的存储介质包括指定文件和ee存储页。

2、目前现有技术通过读卡器给智能卡发送读、写指令对存储介质进行读、写操作，检测软件记录读、写次数。在测试过程中读卡器会反复发送apdu(application protocoldata unit，给智能卡发送的命令)指令到卡进行测试指令交互，比对测试结果后再循环进行测试，直到达到预设次数。

3、现有测试过程需要逐条发送apdu指令，通信时长和卡本身处理指令时长都较长，导致整个测试过程用时很长，往往需要一周才能完成一次测试，但是在一些场景，例如卡的生产厂商，他们对于卡的测试需要足够的效率才能支撑生产速度，那么现有技术这种测试方法极有可能达不到生产需求，并且现有技术这种测试方法只能从批量卡中选择其中的几张卡出来测试，测试过后卡会进行报废处理，对于卡的损耗率和成本也是一种负担。

4、因此，现在亟需一种能够解决上述问题的新的测试方法。

技术实现思路

1、本技术提供一种智能卡尤其是sim/uicc卡芯片存储介质寿命擦写次数的测试方法、装置及系统，可以解决现有技术中存在的智能卡读写测试时间长效率低、以及读写测试对智能卡损耗率高导致成本高的技术问题。

2、第一方面，本技术实施例提供一种智能卡芯片存储介质寿命擦写次数的测试方法，所述测试方法包括：

3、利用远程终端向读卡器发送启动指令，读卡器将启动指令发送至与其连接的智能卡，智能卡根据该指令植入测试系统；

4、利用远程终端向测试系统发送读写测试开始指令，测试系统根据该指令完成对智能卡的读写测试，以得到智能卡芯片存储介质寿命擦写次数。

5、结合第一方面，在一种实施方式中，所述测试方法还包括：

6、测试系统根据预设的反馈频率向远程终端反馈处理状态码和执行结果数据；

7、所述处理状态码用于表示远程终端和测试系统是否成功建立通信连接、和/或测试系统是否成功接收到远程终端发送的读写测试开始指令；

8、所述执行结果数据用于表示读写测试是否成功执行。

9、结合第一方面，在一种实施方式中，所述测试系统根据读写测试开始指令完成对智能卡的读写测试，得到智能卡芯片存储介质寿命擦写次数，具体包括如下步骤：

10、测试系统根据读写测试开始指令生成相应的读写测试参数，并通过读卡器将读写测试参数发送给智能卡，智能卡根据读写测试参数循环进行读写测试，直至满足预设条件后，测试系统将所述循环的次数作为智能卡芯片存储介质寿命擦写次数；

11、所述预设条件为循环次数达到设定寿命擦写次数阈值或读写测试执行失败。

12、结合第一方面，在一种实施方式中，所述读写测试参数包括指定文件读写测试参数、ee存储页读写测试参数、设定寿命擦写次数阈值参数、重置次数参数、读取次数参数、获取失败日志参数、调整反馈频率参数、以及继续执行参数；

13、所述指定文件读写测试参数用于完成对指定文件的读写测试；

14、所述ee存储页读写测试参数用于完成对ee存储页的读写测试；

15、所述设定寿命擦写次数阈值参数用于设定寿命擦写次数阈值；

16、所述重置次数参数用于重置设定寿命擦写次数阈值；

17、所述读取次数参数用于读取已完成的读写测试循环次数；

18、所述获取失败日志参数用于获取失败的读写测试的日志参数；

19、所述调整反馈频率参数用于调整测试系统向远程终端反馈通信和测试相关信息的反馈频率；

20、所述继续执行参数用于继续执行中断的读写测试。

21、结合第一方面，在一种实施方式中，所述测试方法还包括：

22、在完成所述读写测试后，利用远程终端向读卡器发送关闭指令，读卡器将关闭指令发送至与其相连的智能卡，智能卡根据该指令移除测试系统。

23、第二方面，本技术实施例提供了一种智能卡芯片存储介质寿命擦写次数的测试装置，所述测试装置包括：

24、软件植入模块，其利用远程终端向读卡器发送启动指令，并控制读卡器将启动指令发送至与其连接的智能卡，以及控制智能卡根据该指令植入测试系统；

25、测试控制模块，其利用远程终端向所述测试系统发送读写测试开始指令；测试系统根据该指令完成对智能卡的读写测试，以得到智能卡芯片存储介质寿命擦写次数。

26、第三方面，本技术实施例提供了一种智能卡芯片存储介质寿命擦写次数的测试系统，基于所述的智能卡芯片存储介质寿命擦写次数的测试方法；所述测试系统包括：

27、主控模块，其用于根据测试开始指令控制完成对智能卡的读写测试，以得到智能卡芯片存储介质寿命擦写次数。

28、结合第三方面，在一种实施方式中，所述主控模块还用于根据预设的反馈频率向远程终端反馈处理状态码和执行结果数据；

29、所述处理状态码用于表示远程终端和测试系统是否成功建立通信连接、和/或测试系统是否成功接收到远程终端发送的读写测试开始指令；

30、所述执行结果数据用于表示读写测试是否成功执行。

31、结合第三方面，在一种实施方式中，所述测试系统还包括：

32、管理模块，其用于根据读写测试开始指令生成相应的读写测试参数，并通过读卡器将读写测试参数发送给执行模块；

33、执行模块，其用于根据读写测试参数循环进行读写测试，直至满足预设条件后，将所述循环的次数作为智能卡芯片存储介质寿命擦写次数。

34、结合第三方面，在一种实施方式中，所述读写测试参数包括指定文件读写测试参数、ee存储页读写测试参数、设定寿命擦写次数阈值参数、重置次数参数、读取次数参数、获取失败日志参数、调整反馈频率参数、以及继续执行参数；

35、所述执行模块还用于根据所述指定文件读写测试参数完成对指定文件的读写测试；

36、所述执行模块还用于根据所述ee存储页读写测试参数完成对ee存储页的读写测试；

37、所述执行模块还用于根据所述设定寿命擦写次数阈值参数设定寿命擦写次数阈值；

38、所述执行模块还用于根据所述重置次数参数重置设定寿命擦写次数阈值；

39、所述执行模块还用于根据所述读取次数参数读取已完成的读写测试循环次数；

40、所述执行模块还用于根据所述获取失败日志参数获取失败的读写测试的日志参数；

41、所述执行模块还用于根据所述调整反馈频率参数调整测试系统向远程终端反馈通信和测试相关信息的反馈频率；

42、所述执行模块还用于根据所述继续执行参数继续执行中断的读写测试。

43、本技术实施例提供的技术方案带来的有益效果包括：

44、利用远程终端将测试系统程序植入智能卡内，从而只需发送一次读写测试开始指令即可在智能卡端利用测试系统自行完成对智能卡的全部读写测试，减少机卡交互的次数，缩减指令往返传输的时间消耗，提高测试效率，缩短测试周期，同时测试完成后可将测试系统程序移除，智能卡仍可继续使用，节省损耗。