供电电路、存储器、测试装置、存储系统和电子设备的制作方法

本公开涉及存储，尤其涉及一种供电电路、存储器、测试装置、存储系统和电子设备。

背景技术：

1、动态随机存储器(dynamic random access memory，dram)等存储器的延时参数主要由延迟链电路决定。其中，延迟链电路包括多个延时单元和旁路门电路。通常，可通过旁路门电路中的微调控制端进行微调控制，以控制任一控制信号经过延迟链电路中的延时单元的数量，实现延迟链电路延时。

2、其中，延迟单元的性能很容易受到工艺角变化的影响。因此，随着工艺角范围的变化，dram生产中控制延迟链电路进行延时变化尤为重要。上述通过旁路门中的微调控制端进行微调控制的方式需要在将dram的芯片制造出来之后对dram进行测试，以确定dram的工艺角范围下的延迟链电路，测试时间对于dram生产过程来说较长。而且，旁路门电路中的微调控制端需要的寄存器数量较多，会占据dram的芯片面积。

技术实现思路

1、本公开的实施例提供一种供电电路、存储器、测试装置、存储系统和电子设备，旨在降低对存储器等芯片的测试时间，减少存储器的面积占用。

2、为达到上述目的，本公开的实施例采用如下技术方案：

3、第一方面，提供一种供电电路，包括：电压调节电路和振荡电路，电压调节电路的第一电压输出端与存储器内的延迟链电路的供电输入端耦接，电压调节电路的第一电压输出端还与振荡电路的供电输入端耦接；其中，电压调节电路，被配置为通过第一电压输出端向延迟链电路和振荡电路输出第一电压；振荡电路，被配置为产生与第一电压对应的时钟信号；电压调节电路，还被配置为接收调节信号，调节信号用于调节第一电压。

4、由此，本公开中，由于振荡电路产生的时钟信号随着电压调节电路产生的第一电压的变化而变化，因此在供电电路通过调节信号调节振荡电路产生的时钟信号的情况下，可相应地调节电压调节电路产生的第一电压。这样，可通过调节向延迟链电路供电的供电电压，得到所需的延迟链电路的延时。相比现有技术，本公开不需要通过延迟链电路中旁路门电路的微调控制端进行微调控制，可减少旁路门中的微调控制端所需的寄存器对存储器的面积占用。而且，本公开通过改变延迟链电路的供电电压从而实现控制延迟链电路的延时，实现方式较为简单，可提升对存储器进行测试的测试效率。

5、在一些实施例中，调节信号是根据时钟信号的频率确定的。这种实施方式可以理解为，一种工艺角范围对应一种第一电压，而在第一电压也向振荡电路供电时，振荡电路的时钟信号的频率可以反映第一电压。因此，可以根据时钟信号的频率确定调节信号，以调节第一电压。

6、在一些实施例中，电压调节电路包括第一可调电路和第二可调电路。其中，第一可调电路包括第一电压输入端和第二电压输出端，第二可调电路包括第二电压输入端、第三电压输入端和第一电压输出端，第二电压输出端与第三电压输入端耦接，第一电压输入端和第二电压输入端被配置为输入存储器的供电电压信号。调节信号包括第一调节信号和第二调节信号。第一可调电路，被配置为根据第一调节信号输出参考电压信号，参考电压信号通过第二电压输出端输出至第二可调电路的第三电压输入端。第二可调电路，被配置为根据参考电压信号和第二调节信号输出第一电压。

7、其中，上述第一可调电路可以理解为用于实现细粒度的电压调节，得到参考电压信号输出至第二可调电路。第二可调电路可以理解为用于进行信号放大，以实现粗粒度的电压调节，得到第一电压。这样，经过这种两级可调电路，可提升电压调节精度。

8、在一些实施例中，第一可调电路包括第一可调电阻。第一可调电阻被配置为调节参考电压信号。第二可调电路包括第二可调电阻，第二可调电阻被配置为调节第一电压。

9、也即，在上述两级可调电路中，均可通过可调电路中的可调电阻实现电压调节。当然，这种设计只是一种示例，本技术还可以通过其他方式实现两级可调电路。

10、在一些实施例中，第一可调电阻包括多个串联电阻和与每个电阻并联的开关。第一可调电路，被配置为接收第一调节信号。第一调节信号用于控制第一可调电阻中的多个串联电阻中的部分电阻的开关闭合或关断。

11、这样，对于第一可调电阻，要实现阻值变大，可通过断开更多的电阻对应的开关实现，要实现阻值变小，可通过闭合更多的电阻对应的开关实现。这样，要调节参考电压信号，只需通过第一可调电阻中的开关的断开或闭合实现，电压调节实现较为简单。

12、在一些实施例中，第二可调电阻包括多个串联电阻和与每个电阻并联的开关。第二可调电路，被配置为接收第二调节信号，第二调节信号用于控制第二可调电阻中的多个串联电阻中的部分电阻的开关闭合或关断。

13、与第一可调电阻类似的，对于第二可调电阻，要实现阻值变大，可通过断开更多的电阻对应的开关实现，要实现阻值变小，可通过闭合更多的电阻对应的开关实现。这样，要调节第一电压，只需通过第二可调电阻中的开关的断开或闭合实现，电压调节实现较为简单。

14、第二方面，提供一种供电方法，可应用于如上的一些方面中所述的供电电路，该方法包括：产生与第一电压对应的时钟信号，第一电压用于输出至延迟链电路。接收调节信号，根据调节信号调节第一电压。

15、在第二方面的供电方法应用于上述供电电路的基础上，第二方面的有益效果可参见第一方面的说明。

16、在一些实施例中，调节信号包括第一调节信号和第二调节信号。根据调节信号调节第一电压包括：根据第一调节信号输出参考电压，根据参考电压和第二调节信号输出第一电压。

17、第三方面，提供一种存储器，包括供电电路，供电电路为如上的一些实施所述的供电电路。存储器包括延迟链电路，延迟链电路的供电输入端与供电电路的第一电压输出端耦接，延迟链电路的供电输入端被配置为接收供电电路的第一电压输出端输出的第一电压。存储阵列，存储阵列的输入端与延迟链电路的输出端耦接，存储阵列的输入端被配置为接收延迟链电路的输出端输出的控制信号。

18、这样，在存储器包括上述供电电路的基础上，本公开提供的存储器的有益效果可以达到与供电电路相同的有益效果。

19、在一些实施例中，延迟链电路包括至少一组延迟单元，和与至少一组延迟单元耦接的旁路电路。

20、该延迟链电路中的旁路电路可用于控制信号经过的延迟单元的数量。该延迟链电路中的微调控制端可以是用于实现向存储阵列发送的信号的延时。但是，基于本公开提供的通过电压调节实现延时的方式，延迟链电路可以保留较少的微调控制端即可。

21、在一些实施例中，延迟链电路包括多个延迟单元。这种实现方式可以理解为移除了延迟链电路中的旁路电路，保留较少的延迟单元，根据向延迟链电路供电的供电电压，实现延迟链电路的延时即可。

22、第四方面，提供一种测试装置，测试装置与如上公开的存储器耦接，测试装置被配置为根据存储器输出的与第一电压对应的时钟信号的频率向存储器输入调节信号。

23、在测试装置耦接存储器，存储器包括上述供电电路的基础上，测试装置的有益效果可以参见上述对供电电路的有益效果说明。

24、在一些实施例中，测试装置包括接口电路和处理器，接口电路和处理器耦接，接口电路的第一端与振荡电路的时钟输出端耦接，接口电路的第二端与电压调节电路的第一端耦接。接口电路，被配置为通过接口电路的第一端接收振荡电路的时钟输出端输出的时钟信号，并将时钟信号输出至处理器。处理器，被配置为确定时钟信号的频率小于目标时钟频率时，通过接口电路的第二端向电压调节电路的第一端输出第三调节信号，第三调节信号用于升高第一电压输出端输出的第一电压。

25、其中，目标时钟频率可以理解为是与某个工艺角范围下的延迟链电路的延时参数对应的时钟频率。在采用第一电压向振荡电路供电的情况下，振荡电路输出的时钟信号频率可以用于反映第一电压。因此，当振荡电路输出的时钟信号频率达到目标时钟频率时，可以认为向延迟链电路供电的供电电压为第一电压，即采用第一电压向延时链电路供电，以实现延时参数对应的延迟链电路的延时。

26、在一些实施例中，接口电路的第三端与电压调节电路的第一电压输出端耦接。处理器，被配置为当确定时钟信号的频率等于目标时钟频率时，通过接口电路的第三端检测第一电压输出端输出的第一电压是否大于或等于电压安全阈值。当确定第一电压输出端输出的第一电压大于或等于电压安全阈值时，通过接口电路的第二端向电压调节电路的第一端输出第四调节信号，第四调节信号用于降低第一电压输出端输出的第一电压。

27、这种实施方式主要是考虑到输出的第一电压是否在存储器片内的安全电压范围下，以得到在安全电压范围下的第一电压，保证存储器片内的电压安全。

28、第五方面，提供一种存储器，存储器包括供电电路，供电电路为如上所述的供电电路；测试电路，与供电电路耦合，测试电路被配置为根据供电电路输出的与第一电压对应的时钟信号的频率向供电电路输入调节信号。

29、第五方面的有益效果可以参见第三方面的说明。

30、在一些实施例中，测试电路的第一端与供电电路的振荡电路的时钟输出端耦接，测试电路的第二端与供电电路的电压调节电路的第一端耦接；测试电路的第三端与电压调节电路的第一电压输出端耦接；测试电路，被配置为通过测试电路的第一端接收振荡电路的时钟输出端输出的时钟信号；确定时钟信号的频率小于目标时钟频率时，通过测试电路的第二端向电压调节电路的第一端输出第三调节信号，第三调节信号用于升高第一电压输出端输出的第一电压。

31、在一些实施例中，测试电路，还被配置为当确定时钟信号的频率等于目标时钟频率时，通过测试电路的第三端检测第一电压输出端输出的第一电压是否大于或等于电压安全阈值；当确定第一电压输出端输出的第一电压大于或等于电压安全阈值时，通过测试电路的第二端向电压调节电路的第一端输出第四调节信号，第四调节信号用于降低第一电压输出端输出的第一电压。

32、第六方面，提供一种存储系统，包括存储器，存储器为如上的一些实施所述的存储器。控制器，耦接至存储器，以控制存储器存储数据。

33、第七方面，提供一种电子设备，包括如上所述的存储器。

34、第八方面，提供一种存储系统，包括存储器，存储器为如上的一些实施所述的的存储器。控制器，耦接至存储器，以控制存储器存储数据。

35、第九方面，提供一种电子设备，包括如上所述的存储系统。

36、可以理解地，本公开的上述实施例提供的供电电路的方法、存储器和检测系统，其所能达到的有益效果可参考上文中供电电路的有益效果，此处不再赘述。