一种NORFLASH存储器自动测试验证装置的制作方法

本技术涉及芯片测试领域，具体涉及一种nor flash存储器自动测试验证装置。

背景技术：

1、今年来，随着汽车电子、物联网、5g和智能手机等产业的发展，非易失性存储器越来越受到重视。

2、非易失性存储器也叫闪存(flash memory)，主要包括nor flash存储器和nandflash存储器两大类。nor flash存储器具有非易失性、读写速度快、可体积小、可靠性高、使用寿命长等优点，因而nor flash存储器在消费电子、物联网、车载、工业领域、5g通讯设备等各个领域得到了广泛的应用。

3、随着nor flash存储器被广泛应用，对nor flash存储器的时钟频率和数据率要求也越来越高，现有的nor flash存储器测试设备和技术至少存在如下问题：

4、目前flash存储器测试仪器和设备大多针对nand flash，涉及nor flash的比较少；目前针对nor flash的测试设备绝大多数还是依赖于半导体测试机，存在测试效率低，测试覆盖率低，操作困难等问题。

技术实现思路

1、本实用新型的目的是解决目前的nor flash测试设备存在测试效率低，测试覆盖率低，操作困难的问题。

2、为实现上述目的，本实用新型提出了一种nor flash存储器自动测试验证装置，包括上位机、mcu主控模块、fpga编解码模块、测试模块和数字电源模块；

3、所述上位机与mcu主控模块连接，所述上位机生成测试指令并发送给mcu主控模块；

4、所述mcu主控模块还与fpga编解码模块和测试模块连接，所述mcu主控模块接收、解析所述测试指令后，生成第二编码信息发送给测试模块，或者，发送测试指令给fpga编解码模块从而生成第一编码信息发送给测试模块；

5、所述测试模块还与mcu主控模块和fpga编解码模块连接，所述测试模块根据所述第一编码信息或第二编码信息对放置在测试模块中的待测芯片进行测试验证，生成测试结果后通过所述mcu主控模块发送给上位机；

6、所述数字电源模块与mcu主控模块和测试模块连接，数字电源模块接收mcu主控模块的第二控制指令后，发送电源信息给测试模块，调整待测芯片的供电电压。

7、优选的，所述mcu主控模块包括指令收发模块、指令解析模块、控制模块和adc模块；

8、所述指令收发模块与上位机和指令解析模块连接，接收上位机发送的测试指令，发送所述测试指令给指令解析模块；所述指令收发模块还接收测试模块发送的所述测试结果，并发送所述测试结果给上位机；

9、所述指令解析模块还与控制模块和fpga编解码模块连接，判断所述测试指令的类型后，发送所述测试指令给控制模块或者fpga编解码模块；

10、所述adc模块与控制模块、测试模块和数字电源模块连接，接收测试模块发出的测试结果以及数字电源模块发出的电源信息后，发送第一控制指令给控制模块；

11、所述控制模块还与测试模块和数字电源模块连接，所述控制模块接收到所述测试指令后，发送第二编码信息给测试模块；所述控制模块接收所述adc模块的第一控制指令，结合所述测试指令，发送第二控制指令给数字电源模块对待测芯片的供电电压进行调整。

12、优选的，通过运行用户在上位机中编写的测试程序生成所述测试指令，所述测试指令包括：hardware指令、spi指令、dspi指令和qspi指令。

13、优选的，当所述指令解析模块判断所述测试指令为hardware指令时，所述指令解析模块发送测试指令给控制模块，所述控制模块生成所述第二编码信息发送给测试模块；

14、当所述指令解析模块判断所述测试指令为spi指令、dspi指令或qspi指令时，指令解析模块发送测试指令给fpga编解码模块，所述fpga编解码模块生成第一编码信息发送给测试模块。

15、优选的，在所述mcu主控模块与测试模块之间，以及在所述fpga编解码模块与测试模块之间，设置有电平转换模块，用于对mcu主控模块和fpga编解码模块输出的编码信息的电平进行自动匹配，使编码信息的电平符合测试模块中芯片测试的电平要求。

16、优选的，所述数字电源模块还与所述电平转换模块连接，当数字电源模块接收到控制模块发送的第二控制指令后，生成第一电源信息和第二电源信息，所述第一电源信息传输至电平转换模块，第二电源信息传输至测试模块，从而调整待测芯片的供电电压。

17、优选的，所述第一电源信息和第二电源信息还同步传输给adc模块，供adc模块结合测试结果中的供电电压信息确认待测芯片的供电电压实际值和设置值是否相符。

18、优选的，所述fpga编解码模块内部包括：spi处理核、dual-spi处理核和quad-spi处理核；所述spi处理核与mcu主控模块的输出端连接，对所述spi指令进行数据封装生成第一编码信息；所述dual-spi处理核与mcu主控模块的输出端连接，对所述dspi指令进行数据封装生成第一编码信息；所述quad-spi处理核与mcu主控模块的输出端连接，对所述qspi指令进行数据封装生成第一编码信息。

19、优选的，所述测试结果包括供电电压、电流、运行速率、指令执行结果信息。

20、优选的，所述测试模块包括nor flash芯片专用夹具，待测nor flash芯片放置在所述nor flash芯片专用夹具中。

21、与现有技术相比，本实用新型具有以下优点和有益效果：

22、公开了一种nor flash自动测试验证装置，解决了flash传统测试设备存在测试效率低，测试覆盖率低，操作困难的问题；通过编写上位机测试脚本，实现了自动化的高效测试，加快了产品开发进度，保证了flash产品测试的覆盖度和产品质量，方便了测试的可操作性。

技术特征：

1.一种nor flash存储器自动测试验证装置，其特征在于，包括上位机、mcu主控模块、fpga编解码模块、测试模块和数字电源模块；

2.如权利要求1所述的nor flash存储器自动测试验证装置，其特征在于，所述mcu主控模块包括指令收发模块、指令解析模块、控制模块和adc模块；所述指令收发模块与上位机和指令解析模块连接，接收上位机发送的测试指令，发送所述测试指令给指令解析模块；所述指令收发模块还接收测试模块发送的所述测试结果，并发送所述测试结果给上位机；

3.如权利要求2所述的nor flash存储器自动测试验证装置，其特征在于，在所述mcu主控模块与测试模块之间，以及在所述fpga编解码模块与测试模块之间，设置有电平转换模块，用于对mcu主控模块和fpga编解码模块输出的编码信息的电平进行自动匹配，使编码信息的电平符合测试模块中芯片测试的电平要求。

4.如权利要求3所述的nor flash存储器自动测试验证装置，其特征在于，所述数字电源模块还与所述电平转换模块连接，当数字电源模块接收到控制模块发送的第二控制指令后，生成第一电源信息和第二电源信息，所述第一电源信息传输至电平转换模块，第二电源信息传输至测试模块，从而调整待测芯片的供电电压。

5.如权利要求4所述的nor flash存储器自动测试验证装置，其特征在于，所述第一电源信息和第二电源信息还同步传输给adc模块，供adc模块结合测试结果中的供电电压信息确认待测芯片的供电电压实际值和设置值是否相符。

6.如权利要求2所述的nor flash存储器自动测试验证装置，其特征在于，所述fpga编解码模块内部包括：spi处理核、dual-spi处理核和quad-spi处理核；所述spi处理核与mcu主控模块的输出端连接，对所述spi指令进行数据封装生成第一编码信息；所述dual-spi处理核与mcu主控模块的输出端连接，对所述dspi指令进行数据封装生成第一编码信息；所述quad-spi处理核与mcu主控模块的输出端连接，对所述qspi指令进行数据封装生成第一编码信息。

7.如权利要求1所述的nor flash存储器自动测试验证装置，其特征在于，所述测试结果包括供电电压、电流、运行速率、指令执行结果信息。

8.如权利要求1所述的nor flash存储器自动测试验证装置，其特征在于，所述测试模块包括nor flash芯片专用夹具，待测nor flash芯片放置在所述nor flash芯片专用夹具中。

技术总结本技术公开了一种NOR FLASH存储器自动测试验证装置，包括上位机、MCU主控模块、FPGA编解码模块、测试模块和数字电源模块；所述上位机发送测试指令给MCU主控模块，所述MCU主控模块接收、解析所述测试指令后生成第二编码信息发送给测试模块，或者，发送测试指令给FPGA编解码模块从而生成第一编码信息发送给测试模块，所述测试模块根据所述第一编码信息或第二编码信息对放置在测试模块中的待测芯片进行测试验证；通过编写上位机测试脚本，实现了自动化的高效测试，加快了产品开发进度，保证了NOR FLASH产品测试的覆盖度和产品质量，方便了测试的可操作性。技术研发人员：袁家龙,张恒受保护的技术使用者：聚辰半导体股份有限公司技术研发日：20230912技术公布日：2024/5/19