一种读参考支路的校准方法、装置及设备与流程

本发明涉及mtj存储领域，特别是涉及一种读参考支路的校准方法、装置、设备及计算机可读存储介质。

背景技术：

1、mram存储电路受面积、成本的限制，目前大部分的读电路都采用的是单端读电路。单端读电路功能是实现将mtj rap态(反平行态)读成“1”；将mtj rp态(平行态)读成“0”。单端读电路理想的参考阻值为(rap+rp)/2。在-40℃～125℃宽温条件下，mtj的rap态阻值分布呈现负温变化规律。此时读电路的参考端如果采用常规的参考方式，无法匹配rap态阻值的温度系数，会导致读电路在宽温范围内无法得到正确可靠的输出。因此，工作人员一般都会考虑采用处于ap态的mtj的阻值作为参考端来匹配宽温下的rap态阻值的分布特征。

2、但是，测试时发现mtj作为参考端的读电路在经过高温(>200℃)或强磁环境后，无法稳定在ap态，会发生翻转到p态的情况，从而导致了读电路不可靠，令用mtj作为单端读参考的电路无法支持回流焊等需要经历高温和强磁环境的应用，大大限制了单端读电路mtj的应用范围。

3、因此，找到一种解决参考端mtj误翻问题，提高读参考支路校准准确性的方法，就成了本领域技术人员亟待解决的问题。

技术实现思路

1、本发明的目的是提供一种读参考支路的校准方法、装置、设备及计算机可读存储介质，以解决现有技术中使用mtj ap态作为参考端实现温度补偿的参考电路，在经过高温(>200℃)、强磁环境后，mtj状态并不稳定，会有误翻成p态，造成读参考支路读数准确度降低的问题。

2、为解决上述技术问题，本发明提供一种读参考支路的校准方法，包括：

3、步骤1，对所述目标mtj进行p2ap写操作；

4、步骤2，利用读参考支路对所述目标mtj进行读操作，获取第一读数；

5、步骤3，判断所述第一读数是否与预设的ap态读数相同；

6、步骤4，当所述第一读数与所述ap态读数不相同时，对所述目标mtj进行p2ap写操作；

7、步骤5，当所述第一读数与所述ap态读数相同时，对目标mtj进行ap2p写操作；

8、步骤6，利用读参考支路对所述目标mtj进行读操作，获取第二读数；

9、步骤7，判断所述第二读数是否与预设的p态读数相同；

10、步骤8，当所述第二读数与所述p态读数不相同时，对所述读参考支路进行p2ap写操作。

11、可选地，在所述的读参考支路的校准方法中，在所述步骤4之后，还包括：

12、循环执行步骤1至步骤4，直至所述第一读数与所述ap态读数相同，且当连续n次循环中的所述第一读数与所述ap态读数均不相同时，发送第一报警信息。

13、可选地，在所述的读参考支路的校准方法中，在所述步骤8之后，还包括：

14、循环执行步骤5至步骤8，直至所述第二读数与所述p态读数相同，且当连续n次循环中的所述第二读数与所述p态读数均不相同时，发送第二报警信息。

15、可选地，在所述的读参考支路的校准方法中，在所述步骤1之前，还包括：

16、获取模拟电路输出信号；

17、判断所述模拟电路输出信号是否稳定；

18、相应地，所述步骤1包括：

19、当所述模拟电路输出信号稳定时，对所述目标mtj进行p2ap写操作。

20、一种读参考支路的校准装置，包括：

21、ap态写入模块，用于对所述目标mtj进行p2ap写操作；

22、第一读模块，用于利用读参考支路对所述目标mtj进行读操作，获取第一读数；

23、第一判断模块，用于判断所述第一读数是否与预设的ap态读数相同；

24、mtj纠正模块，用于当所述第一读数与所述ap态读数不相同时，对所述目标mtj进行p2ap写操作；

25、p态写入模块，当所述第一读数与所述ap态读数相同时，对目标mtj进行ap2p写操作；

26、第二读模块，利用读参考支路对所述目标mtj进行读操作，获取第二读数；

27、第二判断模块，判断所述第二读数是否与预设的p态读数相同；

28、ap纠正模块，当所述第二读数与所述p态读数不相同时，对所述读参考支路进行p2ap写操作。

29、可选地，在所述的读参考支路的校准装置中，还包括：

30、第一循环模块，用于循环执行所述ap态写入模块至所述mtj纠正模块，直至所述第一读数与所述ap态读数相同，且当连续n次循环中的所述第一读数与所述ap态读数均不相同时，发送第一报警信息。

31、可选地，在所述的读参考支路的校准装置中，还包括：

32、第二循环模块，用于循环执行所述p态写入模块至所述ap纠正模块，直至所述第二读数与所述p态读数相同，且当连续n次循环中的所述第二读数与所述p态读数均不相同时，发送第二报警信息。

33、可选地，在所述的读参考支路的校准装置中，所述ap态写入模块，还包括：

34、信号获取单元，用于获取模拟电路输出信号；

35、稳定判断单元，用于判断所述模拟电路输出信号是否稳定；

36、相应地，所述ap态写入模块包括：

37、条件ap态写入单元，用于当所述模拟电路输出信号稳定时，对所述目标mtj进行p2ap写操作。

38、一种读参考支路的校准设备，包括：

39、存储器，用于存储计算机程序；

40、处理器，用于执行所述计算机程序时实现如上述任一种所述的读参考支路的校准方法的步骤。

41、一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如上述任一种所述的读参考支路的校准方法的步骤。

42、本发明所提供的读参考支路的校准方法，通过步骤1，对所述目标mtj进行p2ap写操作；步骤2，利用读参考支路对所述目标mtj进行读操作，获取第一读数；步骤3，判断所述第一读数是否与预设的ap态读数相同；步骤4，当所述第一读数与所述ap态读数不相同时，对所述目标mtj进行p2ap写操作；步骤5，当所述第一读数与所述ap态读数相同时，对目标mtj进行ap2p写操作；步骤6，利用读参考支路对所述目标mtj进行读操作，获取第二读数；步骤7，判断所述第二读数是否与预设的p态读数相同；步骤8，当所述第二读数与所述p态读数不相同时，对所述读参考支路进行p2ap写操作。

43、本发明在进行检测前，先利用所述待校准的读参考支路对处于ap态的目标mtj进行读数，也即先对所述待校准的读参考支路的输出信号进行一次翻转，并通过核验确认对处于ap态的目标mtj读数正常后，再进行对处于p态的目标mtj的读数，这就保障了如果对处于p态的目标mtj的读数正确，所述待校准的读参考支路的输出就必须进行一次翻转，杜绝了待校准的读参考支路内部故障，直接输出默认信号恰巧与处于p态的目标mtj的读数相同的情况，提升了检测准确率，待到正式检测时，先将被检测的所述目标mtj写成p态，再利用进行校准的读参考支路对所述目标mtj进行状态读取，若此时读参考支路处于误翻后的p态，则不会读出所述目标mtj处于p态，而是会显示所述目标mtj处于ap态，与实际情况不符，则此时即可判定所述读参考支路处于异常工作状态，需要重新进行写入，以确保所述读参考支路中的mtj维持在正常工作所需的ap态，进而实现了对读参考支路误翻的及时纠正，提高了工作稳定性的同时，也使得mtj作为单端读参考的电路获得更大的适用性。本发明同时还提供了一种具有上述有益效果的读参考支路的校准装置、设备及计算机可读存储介质。