管理电子系统中的存储器的制作方法

本说明书描述用于管理电子系统（诸如测试系统）中的存储器的技术的示例。

背景技术：

1、测试系统被配置为测试被称为待测设备（dut）的电子设备的操作。测试系统可包括用于将包括数字信号的信号发送到dut以进行测试的测试仪器。测试仪器可包括通道卡（诸如数字通道卡）以输出用于测试dut的测试信号并接收基于测试信号的响应信号。

技术实现思路

1、一种示例系统，该示例系统包括：第一存储器；第二存储器，该第二存储器具有比该第一存储器更大的面密度；以及逻辑电路，该逻辑电路被配置为将一些测试数据从该第二存储器移动到该第一存储器，同时进行(i)从该第一存储器读取其他测试数据或(ii)处理该其他测试数据中的至少一者。该逻辑电路被配置为在沿着测试通道输出之前处理该其他测试数据。该测试通道通向待测试的被测设备（dut）。该示例系统可包括下列特征部中的一者或多者（单独地或组合地）。

2、该第一存储器可包括第一存储模块和第二存储模块。将测试数据从该第二存储器移动到该第一存储器可包括从该第二存储器中读取一些测试数据并将该读取的测试数据存储在该第一存储模块中，同时从该第二存储模块中读取其他测试数据。将测试数据从该第二存储器移动到该第一存储器可包括从该第二存储器中读取一些测试数据并将该读取的测试数据存储在该第一存储模块中，同时处理该其他测试数据。该处理可包括针对该其他测试数据设置定时，并在操作该其他测试数据的脚本中执行分支、循环或跳转操作中的至少一者。

3、该系统可以是或可包括测试系统。该测试系统可包括沿着该测试通道的引脚电子。该引脚电子可被配置为接收该逻辑电路处理后的该其他测试数据，并将测试数据输出到基于该其他测试数据的该dut。

4、该第一存储器可包括第一双数据速率动态随机存取存储器（ddr ram）和第二ddrram。该第二存储器可包括堆叠式闪存。该第二存储器可包括网络存储装置。该第一存储器可存储预期数据。该预期数据可表示预期dut测试结果。该逻辑电路可被配置为接收与该dut相关联的测试结果数据，从该第一存储器读取该预期数据，将该测试结果数据与该预期数据进行比较以识别该dut是已通过了测试还是未通过测试，以及基于该比较将该dut的信息存储在存储器中。该信息可存储在该第一存储器的日志中。这些操作还可包括将该日志的至少一部分从该第一存储器移动到该第二存储器。

5、一种示例系统，该示例系统包括：第一存储器；第二存储器，该第二存储器具有比该第一存储器更大的面密度；以及逻辑电路，该逻辑电路被配置为执行操作，这些操作包括：从该第二存储器读取第一数据，将该第一数据存储在该第一存储器中，从该第一存储器读取该第一数据，以及在输出到测试通道之前处理该第一数据。该测试通道通向待测试的被测设备（dut）。在从该第一存储器读取该第一数据或处理该第一数据时，该系统还被配置为执行操作，这些操作包括：从该第二存储器读取第二数据并将该第二数据存储在可用第一存储器中，该第一数据和该第二数据可包括测试数据。该示例系统可包括下列特征部中的一者或多者（单独地或组合地）。

6、该第一存储器可包括第一存储模块和第二存储模块。将该第一数据存储在该第一存储器中可包括将该第一数据存储在该第一存储模块中。从该第一存储器读取该第一数据可包括从该第一存储模块读取该第一数据。将该第二数据存储在可用第一存储器中可包括将该第二数据存储在该第二存储模块中。该第二存储模块可包括该可用第一存储器。

7、这些操作可包括：在已从该第一存储模块读取全部或部分第一数据后，从该第二存储模块读取该第二数据并在输出到该测试通道之前处理该第二数据。这些操作可包括：在从该第二存储器读取该第二数据或处理该第二数据时，从该第二存储器读取第三数据并将该第三数据存储在该第一存储模块中。该第三数据可以是或可包括测试数据。这些操作可包括：在已从该第二存储模块读取全部或部分第二数据后，从该第一存储模块读取该第三数据并在输出到该测试通道之前处理该第二第三。

8、该系统可以是或可包括测试系统。该测试系统可包括该测试通道上的引脚电子。该引脚电子可被配置为接收该逻辑电路处理后的该第一数据，并将测试数据输出到基于该第一数据的该dut。

9、该第一存储器可包括第一双数据速率动态随机存取存储器（ddr ram）和第二ddrram。该第二存储器可包括堆叠式闪存。该第二存储器可包括网络存储装置。该处理可包括针对该第一数据设置定时，并在操作该第一数据的脚本中执行分支、循环或跳转操作中的至少一者。

10、该第一存储器可存储预期数据。该预期数据可表示预期dut测试结果。这些操作可包括接收该dut的测试结果数据，从该第一存储器读取该预期数据，将该测试结果数据与该预期数据进行比较以识别该dut是已通过了测试还是未通过测试，以及基于该比较将该dut的信息存储在该第一存储器中。该信息可存储在该第一存储器的日志中。这些操作可包括将该日志的至少一部分从该第一存储器移动到该第二存储器。

11、一个或多个非暂态机器可读介质，该一个或多个非暂态机器可读介质可存储可由一个或多个处理设备执行以在包括第一存储器和具有比该第一存储器更大的面密度的第二存储器的系统中执行示例操作的指令。示例操作包括：从该第二存储器读取第一数据，将该第一数据存储在该第一存储器中，从该第一存储器读取该第一数据，以及在输出到测试通道之前处理该第一数据。该测试通道通向待测试的被测设备（dut）。在从该第一存储器读取该第一数据或处理该第一数据时：从该第二存储器读取第二数据并在可用第一存储器中存储该第二数据。该第一数据和该第二数据可以是或可包括测试数据。

12、本说明书（包括本技术实现要素：部分）中所描述的特征中的任何两者或更多者可组合以形成本说明书中未具体描述的具体实施。

13、本说明书中所描述的系统和技术的至少一部分可通过在一个或多个处理设备上执行存储在一个或多个非暂态机器可读存储介质上的指令来配置或控制。非暂态机器可读存储介质的示例包括只读存储器、光盘驱动器、存储器磁盘驱动器和随机存取存储器。本说明书中所描述的系统和技术的至少一部分可使用由一个或多个处理设备和存储指令的存储器组成的计算系统来配置或控制，这些指令可由该一个或多个处理设备执行以进行各种控制操作。本文所描述的系统和技术可以例如通过设计、构造、布置、放置、编程、操作、激活、去激活和/或控制来配置。

14、附图和以下具体实施方式中阐述了一个或多个具体实施的详细信息。通过具体实施和附图以及通过权利要求书，其他特征和优点将显而易见。

技术特征：

1.一种系统，所述系统包括：

2.根据权利要求1所述的系统，其中所述第一存储器包括第一存储模块和第二存储模块；并且

3.根据权利要求2所述的系统，其中所述第一存储器包括第一存储模块和第二存储模块；并且

4.根据权利要求1所述的系统，其中所述处理包括针对所述其他测试数据设置定时，并在操作所述其他测试数据的脚本中执行分支、循环或跳转操作中的至少一者。

5.根据权利要求1所述的系统，其中所述系统包括测试系统，所述测试系统还包括；

6.根据权利要求1所述的系统，其中所述第一存储器包括第一双数据速率动态随机存取存储器（ddr ram）和第二ddr ram。

7.根据权利要求6所述的系统，其中所述第二存储器包括堆叠式闪存。

8.根据权利要求6所述的系统，其中所述第二存储器包括网络存储装置。

9.根据权利要求1所述的系统，其中所述第一存储器存储预期数据，所述预期数据表示预期dut测试结果；并且

10.根据权利要求9所述的系统，其中将所述信息存储在所述第一存储器的日志中；并且

11.一种系统，所述系统包括：

12.根据权利要求11所述的系统，其中所述第一存储器包括第一存储模块和第二存储模块；

13.根据权利要求12所述的系统，其中所述操作包括：

14.根据权利要求13所述的系统，其中所述操作包括：

15.根据权利要求14所述的系统，其中所述操作包括：

16.根据权利要求11所述的系统，其中所述系统包括测试系统，所述测试系统还包括；

17.根据权利要求11所述的系统，其中所述第一存储器包括第一双数据速率动态随机存取存储器（ddr ram）和第二ddr ram。

18.根据权利要求17所述的系统，其中所述第二存储器包括堆叠式闪存。

19.根据权利要求17所述的系统，其中所述第二存储器包括网络存储装置。

20.根据权利要求11所述的系统，其中所述处理包括针对所述第一数据设置定时，并在操作所述第一数据的脚本中执行分支、循环或跳转操作中的至少一者。

21.根据权利要求11所述的系统，其中所述第一存储器存储预期数据，所述预期数据表示预期dut测试结果；并且

22.根据权利要求21所述的系统，其中将所述信息存储在所述第一存储器的日志中；并且

23.一个或多个非暂态机器可读介质，所述一个或多个非暂态机器可读介质存储可由一个或多个处理设备执行以在包括第一存储器和具有比所述第一存储器更大的面密度的第二存储器的系统中执行操作的指令，所述操作包括：

技术总结一种示例系统，该示例系统包括：第一存储器；第二存储器，该第二存储器具有比该第一存储器更大的面密度；以及逻辑电路，该逻辑电路被配置为将一些测试数据从该第二存储器移动到该第一存储器，同时进行(i)从该第一存储器读取其他测试数据或(ii)处理该其他测试数据中的至少一者。该逻辑电路被配置为在沿着测试通道输出之前处理该其他测试数据。该测试通道通向待测试的被测设备（OUT）。技术研发人员：斯科特·D·沙伯,林聖浩受保护的技术使用者：泰瑞达公司技术研发日：技术公布日：2024/6/11