存储芯片老化测试管理方法及系统与流程

本申请涉及智能测试管理领域，且更为具体地，涉及一种存储芯片老化测试管理方法及系统。

背景技术：

1、存储芯片是一种用于存储数据的电子元件，它具有高速、大容量、低功耗等优点，广泛应用于各种电子设备中。为了保证存储芯片的性能和可靠性，在进入市场前，需要对其进行老化测试，即在高温、高压等极端环境下对其进行长时间的运行，以检测其是否存在缺陷或故障。老化测试是存储芯片生产过程中的重要环节，它直接影响着存储芯片的质量和成本。

2、然而，目前的存储芯片老化测试主要以在实验室进行工程测试及验证为主，对于大规模量产的存储芯片，由于芯片种类、老化测试板(一块测试板上有若干个可上料的位置，均需要记录状态)、上料情况以及测试程序复杂多变，通过常规的工程师线下的管理已经无法满足生产线测试的需求。此外，由于实验室的测试环境难以保持稳定，也就是说，由于实验室内的温度、湿度、空调、仪器等因素的变化，可能导致老化测试的结果不准确或不可靠。

3、因此，期望一种优化的存储芯片老化测试管理方案。

技术实现思路

1、为了解决上述技术问题，提出了本申请。本申请提供了一种存储芯片老化测试管理方法及系统，其可以提升存储芯片老化测试的准确性和可靠性。

2、根据本申请的一个方面，提供了一种存储芯片老化测试管理方法，其包括：

3、收集实验室的试验状态信息；

4、基于所述试验状态信息，确定实验室的测试环境是否正常；

5、响应于所述实验室的测试环境正常，搭建监听服务器，所述监听服务器用于设备客户端接入，其中，所述监听服务器录有基础数据；以及

6、将上下料设备和测试设备接入所述监听服务器，并在测试连通后，对存储芯片进行老化测试。

7、根据本申请的另一个方面，提供了一种存储芯片老化测试管理系统，其包括：

8、信息收集模块，用于收集实验室的试验状态信息；

9、环境分析模块，用于基于所述试验状态信息，确定实验室的测试环境是否正常；

10、监听服务器搭建模块，用于响应于所述实验室的测试环境正常，搭建监听服务器，所述监听服务器用于设备客户端接入，其中，所述监听服务器录有基础数据；以及

11、老化测试模块，用于将上下料设备和测试设备接入所述监听服务器，并在测试连通后，对存储芯片进行老化测试。

12、与现有技术相比，本申请提供的存储芯片老化测试管理方法及系统，其首先收集实验室的试验状态信息，接着，基于所述试验状态信息，确定实验室的测试环境是否正常，然后，响应于所述实验室的测试环境正常，搭建监听服务器，所述监听服务器用于设备客户端接入，其中，所述监听服务器录有基础数据，最后，将上下料设备和测试设备接入所述监听服务器，并在测试连通后，对存储芯片进行老化测试。这样，可以提升存储芯片老化测试的准确性和可靠性。

技术特征：

1.一种存储芯片老化测试管理方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的存储芯片老化测试管理方法，其特征在于，所述试验状态信息包括试验状态、试验排班时间、打扫状态、试验仪器、实验室温度数据、湿度数据、实验室温控空调的运行状态以及实验室设备的运行状态。

3.根据权利要求3所述的存储芯片老化测试管理方法，其特征在于，基于所述试验状态信息，确定实验室的测试环境是否正常，包括：

4.根据权利要求3所述的存储芯片老化测试管理方法，其特征在于，对所述多个试验状态信息项编码特征向量进行上下文试验状态语义关联编码以得到多个上下文试验状态信息项编码特征向量，包括：

5.根据权利要求4所述的存储芯片老化测试管理方法，其特征在于，对所述多个上下文试验状态信息项编码特征向量中各个上下文试验状态信息项编码特征向量进行基于特征分布整体的语义重要性加权分析以得到试验状态信息全局语义编码特征，包括：

6.根据权利要求5所述的存储芯片老化测试管理方法，其特征在于，计算所述多个上下文试验状态信息项编码特征向量中各个上下文试验状态信息项编码特征向量相对于所述多个上下文试验状态信息项编码特征向量的特征分布整体的语义权重值以得到语义权重值的序列，包括：

7.根据权利要求6所述的存储芯片老化测试管理方法，其特征在于，基于所述试验状态信息全局语义编码特征，确定实验室是否存在异常，包括：

8.根据权利要求7所述的存储芯片老化测试管理方法，其特征在于，还包括训练步骤：用于对所述基于转换器模块的上下文编码器和所述分类器进行训练。

9.根据权利要求8所述的存储芯片老化测试管理方法，其特征在于，所述训练步骤，包括：

10.一种存储芯片老化测试管理系统，其特征在于，包括：

技术总结公开了一种存储芯片老化测试管理方法及系统。其首先收集实验室的试验状态信息，接着，基于所述试验状态信息，确定实验室的测试环境是否正常，然后，响应于所述实验室的测试环境正常，搭建监听服务器，所述监听服务器用于设备客户端接入，其中，所述监听服务器录有基础数据，最后，将上下料设备和测试设备接入所述监听服务器，并在测试连通后，对存储芯片进行老化测试。这样，可以提升存储芯片老化测试的准确性和可靠性。技术研发人员：李凯乐,钱燕妮受保护的技术使用者：浙江艾凯普计算机系统服务有限公司技术研发日：技术公布日：2024/4/22