一种自校准系统的制作方法

本技术涉及数字控制，尤其涉及一种自校准系统。

背景技术：

1、在数字控制领域，通常使用adc采样电压、电流、温度、湿度等信号以便进行产品的输出控制。为了能更准确或更精准的实现产品的高精度控制等，通常会在产品出厂前进行相应的校准流程，以此将实际物理量与理论采样的物理量进行校准处理。目前通用的校准方式大致有两种，其一是两点(或多点)校准，其二是单点校准。

2、无论是单点校准还是多点校准，校准流程仅在产品出厂前进行操作，随着时间的流逝，元器件本身的零漂、时漂问题逐渐显现，使得理论采样与实际物理量存在偏差，从而影响控制的精度与准确度。以电压、电流校准为例，在校准时均需带载，校准过程中用到的相关仪器设备等同样存在一定的误差，这也不可避免的影响到校准的准确性。通用的带载后校准方式，在生产环节需要耗费一定的时间以及人力物力。

技术实现思路

1、有鉴于此，本实用新型提供了一种自校准系统，用于解决现有技术中校准不准确、校准滞后的问题。为达上述之一或部分或全部目的或是其他目的，本实用新型提出一种自校准系统，所述系统，包括：实际采样模块、理论计算模块和校准模块；

2、其中，所述实际采样模块用于获取目标设备上电时的ad值，并将所述ad值输入所述校准模块；所述理论计算模块用于计算所述目标设备的偏移值，并将所述偏移值输入所述校准模块；所述校准模块用于根据所述ad值和所述偏移值完成自校准过程。

3、可选地，所述实际采样模块通过adc采样端口获取目标设备上电时的ad值。

4、可选地，所述理论计算模块通过零点校准的方式计算所述目标设备的偏移值。

5、可选地，其特征在于，所述实际采样模块的采样方式为：最大4096数字量的ad采样方式。

6、可选地，所述实际采样模块还用于获取所述目标设备的上电信息，并响应所述上电信息获取目标设备上电时的ad值。

7、可选地，所述理论计算模块接收所述目标设备的上电信息，并响应所述上电信息计算所述目标设备的偏移值。

8、实施本实用新型实施例，将具有如下有益效果：

9、本申请提供实际采样模块、理论计算模块和校准模块；其中，所述实际采样模块用于获取目标设备上电时的ad值，并将所述ad值输入所述校准模块；所述理论计算模块用于计算所述目标设备的偏移值，并将所述偏移值输入所述校准模块；所述校准模块用于根据所述ad值和所述偏移值完成自校准过程。可以及时、有效的消除元器件本身带来的零漂以及时漂，维持产品的高精度控制，进一步提高产品可靠性，消除了校准使用设备(如负载、测量设备)所带来的误差，同时还节约产品出厂前校准所花费的时间、人力、物力等，有利于进一步实现降本增效。

技术特征：

1.一种自校准系统，其特征在于，所述系统包括：实际采样模块、理论计算模块和校准模块；

2.如权利要求1所述的自校准系统，其特征在于，所述实际采样模块通过adc采样端口获取目标设备上电时的ad值。

3.如权利要求1所述的自校准系统，其特征在于，所述理论计算模块通过零点校准的方式计算所述目标设备的偏移值。

4.如权利要求1所述的自校准系统，其特征在于，所述实际采样模块的采样方式为：最大4096数字量的ad采样方式。

5.如权利要求1所述的自校准系统，其特征在于，所述实际采样模块还用于获取所述目标设备的上电信息，并响应所述上电信息获取目标设备上电时的ad值。

6.如权利要求5所述的自校准系统，其特征在于，所述理论计算模块接收所述目标设备的上电信息，并响应所述上电信息计算所述目标设备的偏移值。

技术总结本技术实施例公开了一种自校准系统，所述系统包括实际采样模块、理论计算模块和校准模块，其中，所述实际采样模块用于获取目标设备上电时的AD值，并将所述AD值输入所述校准模块；所述理论计算模块用于计算所述目标设备的偏移值，并将所述偏移值输入所述校准模块；所述校准模块用于根据所述AD值和所述偏移值完成自校准过程。可以及时、有效的消除元器件本身带来的零漂以及时漂，维持产品的高精度控制，进一步提高产品可靠性。技术研发人员：王昕鹏,谢辉受保护的技术使用者：深圳市格林瓦特科技有限公司技术研发日：20231201技术公布日：2024/7/18