缺陷检测方法、装置、计算机设备、存储介质和产品与流程

本申请涉及缺陷检测，特别是涉及一种缺陷检测方法、装置、计算机设备、存储介质和产品。

背景技术：

1、在电缆的生产过程中，电缆的护套容易产生划痕、凸起和凹陷等缺陷，导致生产出的电缆的安全性较低。因此，有必要对电缆进行表面缺陷检测。

2、传统技术中，采用人工检测的方式对电缆进行缺陷检测，存在缺陷检测的准确性较低的问题。

技术实现思路

1、基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种能够提高缺陷检测的准确性的缺陷检测方法、装置、计算机设备、存储介质和产品。

2、第一方面，本申请提供了一种缺陷检测方法，包括：

3、获取待检测电缆的表面图像；

4、对表面图像进行处理，获取待检测电缆的表面缺陷图像；表面缺陷图像中包括至少一个表面缺陷区域；

5、获取表面缺陷图像中各表面缺陷区域的缺陷特征；

6、根据各表面缺陷区域的缺陷特征，确定待检测电缆的缺陷检测结果。

7、在其中一个实施例中，获取待检测电缆的表面图像，包括：

8、向多个相机发送控制指令；控制指令用于指示多个相机采集待检测电缆的表面图像，多个相机分别设置于与待检测电缆的上表面、下表面、左表面和右表面相对的位置；

9、接收多个相机发送的待检测电缆的表面图像。

10、在其中一个实施例中，对表面图像进行处理，获取待检测电缆的表面缺陷图像，包括：

11、对表面图像进行去噪处理，并对去噪后的表面图像进行边缘检测和亮度补偿处理，得到增强表面图像；

12、根据增强表面图像中各行像素点中的缺陷像素点，确定每行像素点的像素阈值；

13、根据每行像素点的像素阈值，对增强表面图像中各像素点的像素值进行处理，得到待检测电缆的表面缺陷图像。

14、在其中一个实施例中，根据增强表面图像中各行像素点中的缺陷像素点，确定每行像素点的像素阈值，包括：

15、根据各行像素点中缺陷像素点的位置，确定每行像素点中位于最左位置的第一缺陷像素点和位于最右位置的第二缺陷像素点；

16、针对任意一行像素点，将第一缺陷像素点的像素值作为行像素点中第一个像素点到第一缺陷像素点之间区域的像素阈值；将第一缺陷像素点和第二缺陷像素点的平均像素值作为第一缺陷像素点和第二缺陷像素点之间的区域的像素阈值；以及，将第二缺陷像素点的像素值作为第二缺陷像素点至行像素点中最后一个像素点之间区域的像素阈值。

17、在其中一个实施例中，根据每行像素点的像素阈值，对增强表面图像中各像素点的像素值进行处理，得到待检测电缆的表面缺陷图像，包括：

18、将增强表面图像中各像素点的像素值替换为所属行中所在区域的像素阈值，得到增强表面图像对应的阈值图像；

19、将增强表面图像中各像素点与阈值图像中各像素点的像素值进行相减，获得增强表面图像中每个像素点的像素差值；

20、将像素差值大于0的像素点的像素值修改为第一值，以及将像素差值小于或等于0的像素点的像素值修改为第二值，得到待检测电缆的表面缺陷图像；其中像素值为第一值的像素点为缺陷区域中的像素点。

21、在其中一个实施例中，缺陷特征包括缺陷宽度、缺陷长度以及表面缺陷区域的边缘点与中心点之间的边心距离，根据各表面缺陷区域的缺陷特征，确定待检测电缆的缺陷检测结果，包括：

22、针对每一个表面缺陷区域，根据表面缺陷区域的缺陷宽度、缺陷长度以及边心距离，获取缺陷宽度和缺陷长度之间的第一比值，以及缺陷长度和边心距离之间的第二比值；

23、根据第一比值和第二比值确定各表面缺陷区域的缺陷类型；

24、确定缺陷检测结果为待检测电缆中存在各缺陷类型对应的缺陷。

25、在其中一个实施例中，根据第一比值和第二比值，确定表面缺陷区域的缺陷类型，包括：

26、若第一比值大于预设值，则确定表面缺陷区域的缺陷类型为划痕；

27、若第一比值小于或等于预设值，且第二比值处于预设范围内，则确定表面缺陷区域的缺陷类型为凸起；

28、若第一比值小于或等于预设值，且第二比值未处于预设范围内，则确定表面缺陷区域的缺陷类型为凹陷。

29、第二方面，本申请还提供了一种缺陷检测装置，包括：

30、表面图像获取模块，用于获取待检测电缆的表面图像；

31、缺陷图像获取模块，用于对表面图像进行处理，获取待检测电缆的表面缺陷图像；表面缺陷图像中包括至少一个表面缺陷区域；

32、缺陷特征获取模块，用于获取表面缺陷图像中各表面缺陷区域的缺陷特征；

33、检测模块，用于根据各表面缺陷区域的缺陷特征，确定待检测电缆的缺陷检测结果。

34、第三方面，本申请还提供了一种计算机设备。计算机设备包括存储器和处理器，存储器存储有计算机程序，处理器执行计算机程序时实现上述第一方面任一项的方法的步骤。

35、第四方面，本申请还提供了一种计算机可读存储介质。计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现上述第一方面任一项的方法的步骤。

36、第五方面，本申请还提供了一种计算机程序产品。计算机程序产品，包括计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现上述第一方面任一项的方法的步骤。

37、上述缺陷检测方法、装置、计算机设备、存储介质和产品，对待检测电缆的表面图像进行处理，得到待检测电缆的表面缺陷图像，再基于待检测电缆的表面缺陷图像得到表面缺陷区域的缺陷特征，由于表面缺陷区域的缺陷特征能较为准确地反映待检测电缆表面的缺陷信息，那么，根据表面缺陷区域的缺陷特征得到的待检测电缆的缺陷检测结果也较为准确，因此，提高了缺陷检测的准确性。

技术特征：

1.一种缺陷检测方法，其特征在于，所述方法包括：

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取待检测电缆的表面图像，包括：

3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述对所述表面图像进行处理，获取所述待检测电缆的表面缺陷图像，包括：

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述根据所述增强表面图像中各行像素点中的缺陷像素点，确定每行像素点的像素阈值，包括：

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，根据所述每行像素点的像素阈值，对所述增强表面图像中各像素点的像素值进行处理，得到所述待检测电缆的表面缺陷图像，包括：

6.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述缺陷特征包括缺陷宽度、缺陷长度以及表面缺陷区域的边缘点与中心点之间的边心距离，所述根据各所述表面缺陷区域的缺陷特征，确定所述待检测电缆的缺陷检测结果，包括：

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一比值和所述第二比值，确定所述表面缺陷区域的缺陷类型，包括：

8.一种缺陷检测装置，其特征在于，所述装置包括：

9.一种计算机设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1至7中任一项所述的方法的步骤。

10.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至7中任一项所述的方法的步骤。

11.一种计算机程序产品，包括计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至7中任一项所述的方法的步骤。

技术总结本申请涉及一种缺陷检测方法、装置、计算机设备、存储介质和产品。所述方法包括：获取待检测电缆的表面图像；对所述表面图像进行处理，获取所述待检测电缆的表面缺陷图像；所述表面缺陷图像中包括至少一个表面缺陷区域；获取所述表面缺陷图像中各所述表面缺陷区域的缺陷特征；根据各所述表面缺陷区域的缺陷特征，确定所述待检测电缆的缺陷检测结果。采用本方法能够提高缺陷检测的准确性。技术研发人员：朱闻博,惠宝军,罗向源,赵林杰,陈喜鹏,朱文滔,傅明利,张鹏,陈林昊,侯帅,冯宾,展云鹏,陈云,陈铸成,张鸣,张俊,孙钦章受保护的技术使用者：南方电网科学研究院有限责任公司技术研发日：技术公布日：2024/8/1