一种缺陷检测方法、装置、设备以及存储介质与流程

本发明涉及工业机器视觉领域，尤其涉及一种缺陷检测方法、装置、设备以及存储介质。

背景技术：

1、产品表面缺陷检测是工业机器视觉领域非常重要的任务之一，其往往通过光学成像系统对产品进行拍摄，得到一张数字图像，并通过对其进行分析处理来对产品表面的缺陷进行检测，但是，单一的亮度图像很难将不同的瑕疵清晰地呈现出来，特别是当产品本身背景较复杂时，也将会对瑕疵的成像和提取形成较大的干扰。

2、因此，如何在目标物上发出光源以获得不同的原始图像，并对原始图像进行全面的分析处理以发掘目标物表面的缺陷特征，从而提高缺陷检测的准确性，是目前亟待解决的问题。

技术实现思路

1、本发明提供了一种缺陷检测方法、装置、设备以及存储介质，以提高缺陷检测的准确性。

2、根据本发明的一方面，提供了一种缺陷检测方法，包括：

3、响应于对目标物的缺陷检测请求，控制预设投影光源发出光源，以在目标物上形成光源图案，并触发预设线扫相机进行拍照，以得到原始图像；

4、根据原始图像的亮度信息，对原始图像进行融合处理、比对处理以及提取处理；

5、根据处理结果，生成不同维度的目标图像，并通过分析不同目标图像中相同特征的变化情况，对目标物进行缺陷检测。

6、根据本发明的另一方面，提供了一种缺陷检测装置，包括：

7、得到模块，用于响应于对目标物的缺陷检测请求，控制预设投影光源发出光源，以在目标物上形成光源图案，并触发预设线扫相机进行拍照，以得到原始图像；

8、处理模块，用于根据原始图像的亮度信息，对原始图像进行融合处理、比对处理以及提取处理；

9、检测模块，用于根据处理结果，生成不同维度的目标图像，并通过分析不同目标图像中相同特征的变化情况，对目标物进行缺陷检测。

10、根据本发明的另一方面，提供了一种电子设备，所述电子设备包括：

11、至少一个处理器；以及

12、与所述至少一个处理器通信连接的存储器；其中，

13、所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的计算机程序，所述计算机程序被所述至少一个处理器执行，以使所述至少一个处理器能够执行本发明任一实施例所述的缺陷检测方法。

14、根据本发明的另一方面，提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机指令，所述计算机指令用于使处理器执行时实现本发明任一实施例所述的缺陷检测方法。

15、本发明实施例的技术方案，响应于对目标物的缺陷检测请求，控制预设投影光源发出光源，以在目标物上形成光源图案，并触发预设线扫相机进行拍照，以得到原始图像；根据原始图像的亮度信息，对原始图像进行融合处理、比对处理以及提取处理；根据处理结果，生成不同维度的目标图像，并通过分析不同目标图像中相同特征的变化情况，对目标物进行缺陷检测。通过在目标物上发出光源以获得不同的原始图像，并对原始图像进行全面的分析处理以发掘目标物表面的缺陷特征，可以有效提高缺陷检测的准确性。

16、应当理解，本部分所描述的内容并非旨在标识本发明的实施例的关键或重要特征，也不用于限制本发明的范围。本发明的其它特征将通过以下的说明书而变得容易理解。

技术特征：

1.一种缺陷检测方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，控制预设投影光源发出光源，以在目标物上形成光源图案，包括：

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，控制预设投影光源发出光源，以在目标物上形成光源图案，包括：

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据原始图像的亮度信息，对原始图像进行融合处理、比对处理以及提取处理，包括：

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，根据原始图像的亮度信息，对原始图像进行融合处理，包括：

6.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，基于预设相位偏折合成算法，根据标准图像，对原始图像进行提取处理，以得到目标图像中的镜面反射图和漫反射图，包括：

7.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，根据原始图像的亮度信息，对原始图像进行比对处理，包括：

8.一种缺陷检测装置，其特征在于，包括：

9.一种电子设备，其特征在于，所述电子设备包括：

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质存储有计算机指令，所述计算机指令用于使处理器执行时实现权利要求1-7中任一项所述的缺陷检测方法。

技术总结本发明公开了一种缺陷检测方法、装置、设备以及存储介质。该方法包括：响应于对目标物的缺陷检测请求，控制预设投影光源发出光源，以在目标物上形成光源图案，并触发预设线扫相机进行拍照，以得到原始图像；根据原始图像的亮度信息，对原始图像进行融合处理、比对处理以及提取处理；根据处理结果，生成不同维度的目标图像，并通过分析不同目标图像中相同特征的变化情况，对目标物进行缺陷检测。本发明的技术方案，可以在目标物上发出光源以获得不同的原始图像，并对原始图像进行全面的分析处理以发掘目标物表面的缺陷特征，从而提高缺陷检测的准确性。技术研发人员：王士涛,陈明明,孙宇受保护的技术使用者：苏州苏映视图像软件科技有限公司技术研发日：技术公布日：2024/8/1