一种高压发生器曝光延时测量方法及系统与流程

本发明涉及医疗设备领域，具体涉及一种高压发生器曝光延时测量方法及系统。

背景技术：

1、高压发生器与平板探测器是拍摄医疗x射线图像的重要设备。在拍摄x光图像时，高压发生器驱动球管生成x射线在平板探测器上形成待测物体图像；这个过程中，高压发生器首先会发送一个同步请求信号给平板探测器以表示准备好曝光发射x射线到平板探测器，平板探测器接收到该同步请求信号后，会发送一个同步应答信号给高压发生器，以表示已准备好进行图像采集请求曝光，并开始进行图像采集，高压发生器接收到平板探测器发出的同步应答信号后驱动球管曝光以产生x射线，此时x射线发射到平板探测器上形成待检测物体图像。从平板探测器开始进行图像采集到高压发生器驱动球馆曝光，因控制信号传输延迟与机械部件运转，存在着一定的时间延迟，该延迟不同设备变化不一。在平板探测器对高压发生器自动曝光的控制等场合时，需要精确测量该延迟，以完成整机校准。

2、为了测量该延迟，当前已有的技术方法是在安装完设备后，通过示波器测量同步应答信号与高压发生器实际曝光信号间的延迟。通过示波器的接入来测量，一方面操作复杂，每次测量都需要专业的人员使用并人工连接示波器，影响测量效率，另一方面，由于操作时操作人员处于整机所存在的工作环境中，存在误操作导致的操作人员暴露在辐射环境中的风险。因此，目前的测量方法，费时费力且存在安全隐患。

技术实现思路

1、本发明申请提供了一种高压发生器曝光延时测量方法及系统，具有工作效率高且安全隐患低的特点。

2、根据第一方面，一种实施例中提供一种高压发生器曝光延时测量方法，包括：

3、获取一张差分暗场图像，所述差分暗场图像用于表征x射线探测器在没有x射线照射情况下的暗场图像；

4、获取至少一张第一亮场图像，并根据所述至少一张第一亮场图像得到差分亮场图像；其中，任意一张第一亮场图像的获取方法包括：由x射线探测器响应于高压发生器发出的同步请求信号而发出同步应答信号，由高压发生器接收到所述同步应答信号而驱动x射线源发出x射线，由x射线探测器发出所述同步应答信号的同时开始读取图像直到整张图像读取完毕，得到一张包含了暗场像素行和亮场像素行的第一亮场图像；

5、计算所述差分亮场图像和差分暗场图像的差分图像；

6、根据预设的像素差阈值，判断差分图像的像素行中一行当中所有像素的平均值或最小值小于所述像素差阈值的像素行的总行数；

7、根据每一像素行的扫描时间和所述总行数计算得到所述总行数扫描完所需要的总时间，作为曝光延时时间。

8、一个实施例中，所述的获取一张差分暗场图像，包括，

9、读取x射线探测器在没有x射线照射情况下的至少一张第一暗场图像，并根据所述至少一张第一暗场图像得到一张差分暗场图像。

10、一个实施例中，所述的读取x射线探测器在没有x射线照射情况下的至少一张第一暗场图像，并根据所述至少一张第一暗场图像得到一张差分暗场图像，包括，

11、读取x射线探测器在没有x射线照射情况下的多张第一暗场图像；

12、获取所述多张第一暗场图像每个相应位置的所有像素值的第一属性值，作为所述差分暗场图像每个相应位置的像素值；

13、所述的获取至少一张第一亮场图像，并根据所述至少一张亮场图像得到差分亮场图像，包括：

14、获取多张第一亮场图像；

15、获取所述多张第一亮场图像每个相应位置的所有像素值的第一属性值，作为所述差分亮场图像每个相应位置的像素值；

16、所述第一属性值为所述所有像素值的均值、中位数、最大值或最小值。

17、一个实施例中，所述的获取一张差分暗场图像，包括，

18、获取x射线探测器中x射线感应传感器tft模组的偏置电路的偏置电压u、偏置电容c及积分电容电荷容量q2；

19、根据所述偏置电压u和偏置电容c计算得到偏置电路注入积分电容的电荷量q1；

20、根据所述注入积分电容的电荷量q1和积分电容电荷容量q2的比值计算得到暗场值d1；

21、将所述暗场值d1作为所述差分暗场图像各个位置的像素值。

22、一个实施例中，所述的根据所述偏置电压u和偏置电容c计算得到偏置电路注入积分电容的电荷量q1，包括：

23、q1=u*c；

24、和/或，

25、所述的根据所述注入积分电容的电荷量q1和积分电容电荷容量q2的比值计算得到暗场值d1，包括：

26、d1=(q1/q2)*d。

27、一个实施例中，所述的获取一张差分暗场图像，包括，

28、获取一张所述第一亮场图像或差分亮场图像；

29、将所述的一张所述第一亮场图像或差分亮场图像中的部分暗场像素行的所有像素的最小值或平均值作为差分暗场图像各个位置的像素值。

30、一个实施例中，所述的根据每一像素行的扫描时间和所述总行数计算得到所述总行数扫描完所需要的总时间，作为曝光延时时间，包括：

31、t=a*n；

32、其中，a为每一像素行的扫描时间，n为总行数，t为曝光延时时间。

33、根据第二方面，一种实施例中提供一种高压发生器曝光延时测量系统，包括，

34、x射线产生组件，包括高压发生器和球管，所述高压发生器用于在控制下启动并发送同步请求信号给x射线探测器，并在接收到x射线探测器的同步应答信号后驱动x射线源曝光，产生x射线；

35、x射线探测器，用于在被启动后读取图像，并用于在接收到高压发生器发送的同步请求信号后发送同步应答信号并开始读取图像；

36、手闸，用于控制高压发生器启动；

37、还包括，

38、曝光延时测量模块，用于根据上述任一项的方法实现曝光延时的测量。

39、一个实施例中，还包括，

40、控制模块，用于单独控制x射线探测器启动，以实现读取x射线探测器在没有x射线照射情况下的至少一张第一暗场图像。

41、根据第三方面，一种实施例中提供一种计算机可读存储介质，所述介质上存储有程序，所述程序能够被处理器执行以实现上述任一项所述的方法。

42、整个测量过程中，由于不需要接线如示波器的额外设备，一方面减少了设备的投入，另一方面没有接线则降低了测量的耗时，提高了工作效率，第三方面，整个测量过程均可以在高压发生器和x射线接收器所在的机房外，降低了工作人员暴露在辐射中的风险，降低了安全隐患。

技术特征：

1.一种高压发生器曝光延时测量方法，其特征在于，包括：

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述的获取一张差分暗场图像，包括，

3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，

4.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述的获取一张差分暗场图像，包括，

5.如权利要求4所述的方法，其特征在于，所述的根据所述偏置电压u和偏置电容c计算得到偏置电路注入积分电容的电荷量q1，包括：

6.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述的获取一张差分暗场图像，包括，

7.如权利要求1到6之一所述的方法，其特征在于，所述的根据每一像素行的扫描时间和所述总行数计算得到所述总行数扫描完所需要的总时间，作为曝光延时时间，包括：t=a*n；

8.一种高压发生器曝光延时测量系统，包括，

9.如权利要求8所述的系统，其特征在于，还包括，

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述介质上存储有程序，所述程序能够被处理器执行以实现如权利要求1-7中任一项所述的方法。

技术总结一种高压发生器曝光延时测量方法及系统，测量方法包括：获取一张差分暗场图像；获取至少一张第一亮场图像，并根据所述至少一张第一亮场图像得到差分亮场图像；计算所述差分亮场图像和差分暗场图像的差分图像；根据预设的像素差阈值，判断差分图像的像素行中一行当中所有像素的平均值或最小值小于所述像素差阈值的像素行的总行数；根据每一像素行的扫描时间和所述总行数计算得到所述总行数扫描完所需要的总时间。由于不需要接线如示波器的额外设备，且整个测量过程均可以在高压发生器和X射线接收器所在的机房外，提高了工作效率，且降低了工作人员暴露在辐射中的风险。技术研发人员：卓俊杰,饶玉明,俞晓辉,黄炜钦,王益民受保护的技术使用者：深圳市深图医学影像设备有限公司技术研发日：技术公布日：2024/9/9