一种显示面板增透减反膜的检测方法和检测装置与流程

本发明涉及检测，特别是涉及一种显示面板增透减反膜的检测方法和检测装置。

背景技术：

1、随着显示技术的发展，高端液晶显示产品不断进行更迭，市场对摄像头光学特性的要求越来越高，其中摄像头的鬼像问题日益成为市场关注的焦点问题，其原因是入射光线进入摄像头模组后经过多次反射造成的。

2、针对该问题，目前通常通过在液晶显示屏相机孔位置贴附增透减反膜(ar膜)以减少反射光强度，然而在实际应用中，增透减反膜的贴附不良影响了摄像头功能，进而影响显示产品的使用体验。

技术实现思路

1、为了解决上述问题至少之一，本发明第一个实施例提供一种显示面板增透减反膜的检测方法，包括：

2、接收设置在显示面板出光侧的采集装置采集的表面形貌图片、并对所述表面形貌图片进行离散化形成包括多个扫描像素点的表面轮廓云图，所述表面形貌图片包括所述显示面板中用于覆盖摄像孔的增透减反膜对应的第一区域、以及所述显示面板的摄像头对应的第二区域；

3、根据所述表面轮廓云图中的各扫描像素点，分别获取第一区域和第二区域的检测参数；

4、根据预设置第一区域阈值和第二区域阈值分别评估所述第一区域和第二区域的检测参数并生成所述增透减反膜的检测结果。

5、例如，在本申请一些实施例提供的检测方法中，所述接收设置在显示面板出光侧的采集装置采集的表面形貌图片、并对所述表面形貌图片进行离散化形成包括多个扫描像素点的表面轮廓云图进一步包括：

6、按照像素尺寸对所述表面形貌图片的第一区域进行划分形成阵列排布的多个扫描像素点，所述扫描像素点包括高度。

7、例如，在本申请一些实施例提供的检测方法中，在所述按照像素尺寸对所述表面形貌图片的第一区域进行划分形成阵列排布的多个扫描像素点之前，所述检测方法还包括：

8、将所述表面形貌图片与预设置的ar膜形貌图例进行比对，当二者的重合度小于预设置的检测阈值时生成提示信息并结束检测。

9、例如，在本申请一些实施例提供的检测方法中，所述检测参数包括均值检测参数，所述根据所述表面轮廓云图中的各扫描像素点，分别获取第一区域的第一区域检测参数和第二区域的第二区域检测参数进一步包括：

10、根据所述第一区域中的各扫描像素点的高度，按照预设置的均值检测公式获取所述第一区域的第一均值检测参数；

11、根据所述第二区域中的各扫描像素点的高度，按照预设置的均值检测公式获取所述第二区域的第二均值检测参数。

12、例如，在本申请一些实施例提供的检测方法中，所述检测参数还包括平方根检测参数，所述根据所述表面轮廓云图中的各扫描像素点，分别获取第一区域的第一区域检测参数和第二区域的第二区域检测参数进一步包括：

13、根据所述第一区域中的各扫描像素点的高度，按照预设置的平方根检测公式获取所述第一区域的第一平方根检测参数；

14、根据所述第二区域中的各扫描像素点的高度，按照预设置的平方根检测公式获取所述第二区域的第二平方根检测参数。

15、例如，在本申请一些实施例提供的检测方法中，所述根据预设置第一区域阈值和第二区域阈值分别评估所述第一区域和第二区域的检测参数并生成所述增透减反膜的检测结果进一步包括：

16、响应于所述第一区域的检测参数符合所述第一区域阈值、并且所述第二区域的检测参数符合所述第二区域阈值时，生成的检测结果为合格品。

17、本发明第二个实施例提供一种显示面板增透减反膜的检测装置，包括检测台，设置在检测台上的检测区域、采集装置，以及控制器，其中

18、所述检测区域，用于放置待测显示面板；

19、所述采集装置，用于对所述待测显示面板进行形貌采集并输出表面形貌图片，所述采集装置的采集范围覆盖所述待测显示面板中用于覆盖摄像孔的增透减反膜；

20、所述控制器，用于根据如第一个实施例所述的检测方法对所述待测显示面板的增透减反膜进行检测。

21、例如，在本申请一些实施例提供的检测装置中，还包括三维校准平台，用于校准所述待测显示面板放置在所述检测区域的高度。

22、本发明第三个实施例提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现如第一个实施例所述的检测方法。

23、本发明第四个实施例提供一种计算机设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时实现如第一个实施例所述的检测方法。

24、本发明的有益效果如下：

25、本发明针对目前现有的问题，制定一种显示面板增透减反膜的检测方法和检测装置，通过对采集的表面形貌图片进行离散化获取多个扫描像素点，根据扫描像素点获取第一区域和第二区域的检测参数，并根据两个区域的检测参数进行评估并生成检测结果，有效提高检测效率和检测准确率，从而弥补了现有技术中存在的问题，能够防止因平面检测局限性导致的误判，具有实际的应用价值。

技术特征：

1.一种显示面板增透减反膜的检测方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述接收设置在显示面板出光侧的采集装置采集的表面形貌图片、并对所述表面形貌图片进行离散化形成包括多个扫描像素点的表面轮廓云图进一步包括：

3.根据权利要求2所述的检测方法，其特征在于，在所述按照像素尺寸对所述表面形貌图片的第一区域进行划分形成阵列排布的多个扫描像素点之前，所述检测方法还包括：

4.根据权利要求2所述的检测方法，其特征在于，所述检测参数包括均值检测参数，所述根据所述表面轮廓云图中的各扫描像素点，分别获取第一区域的第一区域检测参数和第二区域的第二区域检测参数进一步包括：

5.根据权利要求4所述的检测方法，其特征在于，所述检测参数还包括平方根检测参数，所述根据所述表面轮廓云图中的各扫描像素点，分别获取第一区域的第一区域检测参数和第二区域的第二区域检测参数进一步包括：

6.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述根据预设置第一区域阈值和第二区域阈值分别评估所述第一区域和第二区域的检测参数并生成所述增透减反膜的检测结果进一步包括：

7.一种显示面板增透减反膜的检测装置，其特征在于，包括检测台，设置在检测台上的检测区域、采集装置，以及控制器，其中

8.根据权利要求7所述的检测装置，其特征在于，还包括三维校准平台，用于校准所述待测显示面板放置在所述检测区域的高度。

9.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该程序被处理器执行时实现如权利要求1-6中任一项所述的检测方法。

10.一种计算机设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述程序时实现如权利要求1-6中任一项所述的检测方法。

技术总结本发明公开了一种显示面板增透减反膜的检测方法和检测装置，其中一实施例的检测方法包括：接收设置在显示面板出光侧的采集装置采集的表面形貌图片、并对所述表面形貌图片进行离散化形成包括多个扫描像素点的表面轮廓云图，所述表面形貌图片包括所述显示面板中用于覆盖摄像孔的增透减反膜对应的第一区域、以及显示面板的摄像头对应的第二区域；根据所述表面轮廓云图中的各扫描像素点，分别获取第一区域和第二区域的检测参数；根据预设置第一区域阈值和第二区域阈值分别评估所述第一区域和第二区域的检测参数并生成所述增透减反膜的检测结果。本发明提供的实施例通过三维形貌检测生成检测结果，有效提高检测效率和检测准确率，具有实际应用前景。技术研发人员：朱创民,李成,刘江,吕昶,王彪,陈超一受保护的技术使用者：合肥鑫晟光电科技有限公司技术研发日：技术公布日：2024/9/9