老化处理方法、装置、电子设备及存储介质与流程

本申请涉及电子，尤其涉及一种老化处理方法、装置、电子设备及存储介质。

背景技术：

1、通常，大功率射频功率放大器的产品在出场前进行高温老化测试，通过增加温度应力来筛选产品的器件、设计、加工等缺陷。

2、目前，基站产品高温老化普遍采用的方法主要有两种，一是利用高低温箱，即把产品放入高低温箱，通过控制温箱中的环境温度来间接控制产品的温度；二是为了使产品达到目标温度，需要将产品按照额定射频功率输出，使产品在额定功率下运行产生的热量提升温度，且还需要设计对应的射频负载工装，以防止信号辐射。这两种方法均采用发射额定射频功率进行高温老化，需要设计使用负载工装对射频信号进行吸收，以防止信号辐射或反射，同时会引入许多环境上的问题而导致复测率较高。此外，射频功率通过工装负载散发出去，使得射频功率对产品自身热度应力提升贡献度较小，不利于节能减排，存在能耗高的问题。

技术实现思路

1、本申请提供了一种老化处理方法、装置、电子设备及存储介质，以减少射频功率的输出，解决现有技术中需要发射额定射频功率进行高温老化所导致的问题。

2、第一方面，本申请提供了一种老化处理方法，包括：

3、确定产品的功率放大器的漏极电流；

4、在所述漏极电流符合目标状态电流条件后，获取所述漏极电流对应的目标功放栅压；

5、依据所述目标功放栅压对所述产品进行老化测试，得到所述产品对应的老化测试结果。

6、可选的，所述依据所述目标功放栅压对所述产品进行老化测试，得到所述产品对应的老化测试结果，包括：

7、通过所述目标功放栅压，控制所述功率放大器进入目标直流状态；

8、在所述目标直流状态下，对所述产品进行老化测试，得到所述产品对应的老化测试结果。

9、可选的，所述确定功率放大器的漏极电流之后，还包括：

10、获取目标直流状态对应的目标电流阈值；

11、在所述漏极电流的电流值未达到目标电流阈值的情况下，调整所述功率放大器的功放栅压，直到所述漏极电流的电流值达到所述目标电流阈值；

12、在所述漏极电流的电流值达到所述目标电流阈值之后，确定所述漏极电流符合所述目标状态电流条件。

13、可选的，所述获取所述目标直流状态对应的目标电流阈值，包括：

14、获取每个射频通道的功放额定漏极电压和射频额定功率；

15、依据所述功放额定漏极电压和所述射频额定功率，确定出所述功放等效射频电流；

16、依据所述功放正常额定功率时对应的漏极静态总电流和所述功放等效射频电流，确定所述目标电流阈值。

17、可选的，所述射频通道包含至少一级所述功率放大器，所述依据所述功放正常额定功率对应的漏极静态总电流和所述功放等效射频电流，确定所述目标电流阈值，包括：

18、在所述功放额定漏极电压对应的正常额定功率工作条件下，分别获取所述射频通道中各级所述功率放大器的工作漏极电流和所述射频通道的功放漏极总电流；

19、分别依据每一级所述功率放大器的所述工作漏极电流和所述功放漏极总电流，确定每一级所述功率放大器的电流权重；

20、分别基于每一所述功率放大器的电流权重，结合所述功放正常额定功率对应的漏极静态总电流和所述功放等效射频电流，确定所述功率放大器在目标直流状态下每一级所述各级功率放大器对应的所述目标电流阈值。

21、可选的，所述分别基于每一所述功率放大器的电流权重，结合所述功放正常额定功率对应的漏极静态总电流和所述功放等效射频电流，确定所述功率放大器在目标直流状态下的每一级所述各级功率放大器对应的所述目标电流阈值，包括：

22、依据所述功放正常额定功率对应的漏极静态总电流和所述功放等效射频电流进行计算，得到所述功率放大器在目标直流状态下的漏极静态总电流；

23、分别依据每一所述功率放大器的电流权重和所述功率放大器在目标直流状态下的漏极静态总电流进行计算，得到每一级功率放大器对应的所述目标电流阈值。

24、可选的，所述获取所述漏极电流对应的目标功放栅压，包括：

25、获取所述功率放大器对应的直流静态记录信息；

26、从所述直流静态关联记录信息中，提取与所述漏极电流对应的目标功放栅压。

27、可选的，所述确定产品的功率放大器的漏极电流，包括：

28、在所述功率放大器上电后，检测所述功率放大器的漏极电流。

29、第二方面，本申请提供了一种老化处理装置，包括：

30、漏极电流确定模块，用于确定产品的功率放大器的漏极电流；

31、目标功放栅压获取模块，用于在所述漏极电流符合目标状态电流条件后，获取所述漏极电流对应的目标功放栅压；

32、老化测试模块，用于依据所述目标功放栅压对所述产品进行老化测试，得到所述产品对应的老化测试结果。

33、第三方面，提供了一种电子设备，包括处理器、通信接口、存储器和通信总线，其中，处理器，通信接口，存储器通过通信总线完成相互间的通信；

34、存储器，用于存放计算机程序；

35、处理器，用于执行存储器上所存放的程序时，实现如第一方面任一项实施例所述的老化处理方法的步骤。

36、第四方面，提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如第一方面任一项实施例所述的老化处理方法的步骤。

37、本申请通过确定产品的功率放大器的漏极电流，并在漏极电流符合目标状态电流条件后，获取漏极电流对应的目标功放栅压，以依据目标功放栅压对产品进行老化测试，得到产品对应的老化测试结果，实现了在直流大静态状态下对产品进行自高温老化测试，无需通过额定射频使产品升温，仅需要产品自发的小射频信号对电路进行测试，射频功率输出小，达到减少射频功率输出的目的，无需使用额外的负载工装对射频功率进行吸收，降低能耗，进而解决了现有老化方法需要发射额定射频功率进行高温老化所导致的问题，生产操作简单、成本低。

技术特征：

1.一种老化处理方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的老化处理方法，其特征在于，所述依据所述目标功放栅压对所述产品进行老化测试，得到所述产品对应的老化测试结果，包括：

3.根据权利要求1所述的老化处理方法，其特征在于，所述确定产品的功率放大器的漏极电流之后，还包括：

4.根据权利要求3所述的老化处理方法，其特征在于，所述获取所述目标直流状态对应的目标电流阈值，包括：

5.根据权利要求4所述的老化处理方法，其特征在于，所述射频通道包含至少一级所述功率放大器，所述依据所述功放正常额定功率对应的漏极静态总电流和所述功放等效射频电流，确定所述目标电流阈值，包括：

6.根据权利要求5所述的老化处理方法，其特征在于，所述分别基于每一所述功率放大器的电流权重，结合所述功放正常额定功率对应的漏极静态总电流和所述功放等效射频电流，确定所述功率放大器在目标直流状态下的每一级所述各级功率放大器对应的所述目标电流阈值，包括：

7.根据权利要求1所述的老化处理方法，其特征在于，所述获取所述漏极电流对应的目标功放栅压，包括：

8.根据权利要求1至7任一所述的老化处理方法，其特征在于，所述确定产品的功率放大器的漏极电流，包括：

9.一种老化处理装置，其特征在于，包括：

10.一种电子设备，其特征在于，包括处理器、通信接口、存储器和通信总线，其中，处理器，通信接口，存储器通过通信总线完成相互间的通信；

11.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1-9任一项所述的老化处理方法的步骤。

技术总结本申请涉及一种老化处理方法、装置、电子设备及存储介质，该老化处理方法包括：确定产品的功率放大器的漏极电流；在所述漏极电流符合目标状态电流条件后，获取所述漏极电流对应的目标功放栅压；依据所述目标功放栅压对所述产品进行老化测试，得到所述产品对应的老化测试结果，从而减少射频功率输出，无需使用额外的负载工装对射频功率进行吸收，降低能耗。技术研发人员：阳远才,石一逴,邵晓亮受保护的技术使用者：中兴通讯股份有限公司技术研发日：技术公布日：2024/9/12