一种用于滤光片检验的光源的制作方法

本技术涉及一种用于滤光片检验的光源，属于显微镜。

背景技术：

1、在实施滤光片的检验时，需要使用led环形光显微镜，但部分表面有特殊外观不良的产品仅通过普通的led环形光显微镜是无法有效检出产品缺陷的，会影响检验质量与出品率；

2、可见，为解决上述技术问题，以提高出品质量，亟需一种用于滤光片检验的光源。

技术实现思路

1、本实用新型的目的在于克服现有技术中的不足，提供一种用于滤光片检验的光源，通过将led光源更换为同轴光源，并通过调节组件实现对同轴光源相对高度的调节，使得特殊外管中的不良项目能够更易呈现出，从而完全检出产品表面特殊外观不良，以满足不同情况下的检验需求。

2、为达到上述目的/为解决上述技术问题，本实用新型是采用下述技术方案实现的：一种用于滤光片检验的光源，包括：

3、光源模组，圆环形构造；

4、螺纹接头，安装于光源模组顶端中部；

5、灯板放置区，设置于光源模组远离螺纹接头的一侧，为圆环形区域；

6、同轴光源，设置于灯板放置区内；

7、镜片放置区，设置于光源模组圆环的中心部位，用于安装防尘镜；

8、调节组件，用于将同轴光源安装于灯板放置区内，并调节同轴光源的相对高度。

9、进一步的，所述调节组件包括安装环、限位环、螺纹轴、同步套、同步齿轮和齿环，其中，

10、所述安装环的顶端两侧均固定安装有同步套，所述同步套的另一端与螺纹轴螺纹连接，所述螺纹轴贯穿光源模组的内顶壁后与同步齿轮相固定，所述齿环啮合于同步齿轮的外侧；

11、所述同轴光源装夹于限位环与安装环之间，所述安装环远离螺纹轴的一侧设置有外螺纹，所述限位环与安装环螺纹连接。

12、进一步的，还包括伸缩柱，所述伸缩柱的一端与安装环相连接，另一端与光源模组的内顶壁相连接。

13、进一步的，还包括稳定柱，所述稳定柱的一端与齿环相固定，另一端与光源模组的顶侧壁滑动连接。

14、进一步的，还包括线路接口，所述线路接口开设于光源模组的侧壁上，用于连接同轴光源与外部线路。

15、进一步的，还包括环形灯罩，所述环形灯罩安装于灯板放置区底侧，所述环形灯罩与灯板放置区之间设置有密封圈。

16、进一步的，还包括支撑环和固定环，所述支撑环固定安装于镜片放置区的内侧壁上，所述固定环与镜片放置区的内侧壁螺纹连接，所述防尘镜装夹与支撑环和固定环之间，且固定环远离支撑环的一侧固定安装有调节柱；

17、所述固定环朝向支撑环的一侧嵌设有密封圈。

18、与现有技术相比，本实用新型所达到的有益效果：

19、本实用新型提供的用于滤光片检验的光源，通过将led光源更换为同轴光源，并通过调节组件实现对同轴光源相对高度的调节，使得特殊外管中的不良项目能够更易呈现出，从而完全检出产品表面特殊外观不良，以满足不同情况下的检验需求；

20、本实用新型提供的用于滤光片检验的光源，通过采用带有密封圈的环形灯罩，能够对同轴光源进行防尘防水保护。

技术特征：

1.一种用于滤光片检验的光源，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的用于滤光片检验的光源，其特征在于，所述调节组件包括安装环（7）、限位环（8）、螺纹轴（9）、同步套（10）、同步齿轮（11）和齿环（12），其中，

3.根据权利要求2所述的用于滤光片检验的光源，其特征在于，还包括伸缩柱（13），所述伸缩柱（13）的一端与安装环（7）相连接，另一端与光源模组（1）的内顶壁相连接。

4.根据权利要求3所述的用于滤光片检验的光源，其特征在于，还包括稳定柱（14），所述稳定柱（14）的一端与齿环（12）相固定，另一端与光源模组（1）的顶侧壁滑动连接。

5.根据权利要求1所述的用于滤光片检验的光源，其特征在于，还包括线路接口，所述线路接口开设于光源模组（1）的侧壁上，用于连接同轴光源（4）与外部线路。

6.根据权利要求1所述的用于滤光片检验的光源，其特征在于，还包括环形灯罩（15），所述环形灯罩（15）安装于灯板放置区（3）底侧，所述环形灯罩（15）与灯板放置区（3）之间设置有密封圈。

7.根据权利要求1所述的用于滤光片检验的光源，其特征在于，还包括支撑环（16）和固定环（17），所述支撑环（16）固定安装于镜片放置区（5）的内侧壁上，所述固定环（17）与镜片放置区（5）的内侧壁螺纹连接，所述防尘镜（6）装夹与支撑环（16）和固定环（17）之间，且固定环（17）远离支撑环（16）的一侧固定安装有调节柱（18）；

技术总结本技术公开了一种用于滤光片检验的光源，包括：光源模组，圆环形构造；螺纹接头，安装于光源模组顶端中部；灯板放置区，设置于光源模组远离螺纹接头的一侧，为圆环形区域；同轴光源，设置于灯板放置区内；镜片放置区，设置于光源模组圆环的中心部位，用于安装防尘镜；调节组件，用于将同轴光源安装于灯板放置区内，并调节同轴光源的相对高度。该用于滤光片检验的光源，通过将LED光源更换为同轴光源，并通过调节组件实现对同轴光源相对高度的调节，使得特殊外管中的不良项目能够更易呈现出，从而完全检出产品表面特殊外观不良，以满足不同情况下的检验需求。技术研发人员：奂微微,薛军明,肖恒,杨光跃,缪伟受保护的技术使用者：苏州五方光电材料有限公司技术研发日：20240130技术公布日：2024/9/17