一种电子元器件检测设备的制作方法

本发明涉及电子元器件检测，特别是涉及一种电子元器件检测设备。

背景技术：

1、如图1所示，其为一种电子元器件10的结构图，在生产过程中，需要对电子元器件10进行电气性能参数进行检测，从而判断当前的电子元器件10是否合格。

2、如图2所示，其为图1所示的电子元器件10的底部结构图，电子元器件10的底部设有焊盘11，在检测过程中，测试针会与焊盘11接触从而实现对电子元器件10电气性能参数的检测。

3、在电子元器件10设计的过程中，考虑到终端产品的结构形态不一(例如具有左右结构区分的产品)，焊盘11可能会设置在电子元器件10底部左侧，也可能会设置在电子元器件10底部右侧，从而方便人员选择合适的电子元器件10以组装到终端产品上。

4、在自动化检测设备的开发过程中，针对此类电子元器件10，需要考虑兼容性的问题。当对不同型号的电子元器件10进行检测时，传统的做法是重新更换不同的治具以及调整测试针的位置，这样费时费力，效果不佳。

5、为此，针对上述问题，如何设计开发一种电子元器件检测设备，针对不同型号的电子元器件10，无需更换治具，也无需调整测试针的位置，便可以快速实现检测的转换调整，这是需要解决的技术问题。

技术实现思路

1、本发明的目的是克服现有技术中的不足之处，提供一种电子元器件检测设备，针对不同型号的电子元器件，无需更换治具，也无需调整测试针的位置，便可以快速实现检测的转换调整。

2、本发明的目的是通过以下技术方案来实现的：

3、一种电子元器件检测设备，包括：转盘、若干治具、性能检测装置、位置调整驱动装置；

4、若干所述治具呈环形阵列分布于所述转盘的边缘，所述性能检测装置位于所述转盘的底部，所述位置调整驱动装置位于所述转盘的侧部；

5、所述性能检测装置包括检测气缸及设于所述检测气缸伸缩端的测试针脚，所述检测气缸驱动所述测试针脚升降运动；

6、所述位置调整驱动装置包括调整气缸及设于所述调整气缸伸缩端的调整杆体，所述调整气缸驱动所述调整杆体平移运动。

7、在其中一个实施例中，

8、所述治具包括：基座、平移承载件、位置调整组件；所述基座固定于所述转盘的端面上，所述平移承载件可活动地设于所述基座上，所述位置调整组件用于驱动所述平移承载件沿水平面方向直线往复移动。

9、在其中一个实施例中，

10、所述位置调整组件包括：驱动部、左侧调整部、右侧调整部；所述左侧调整部和所述右侧调整部分别位于所述平移承载件的两端；

11、所述左侧调整部包括：左侧转动座、左侧固定柱、左侧活动柱；所述左侧转动座转动设于所述基座上，所述左侧固定柱固定于所述左侧转动座上，所述左侧活动柱活动设于所述左侧转动座上，所述左侧固定柱与所述左侧活动柱之间设有左侧复位弹簧；

12、所述右侧调整部包括：右侧转动座、右侧固定柱、右侧活动柱；所述右侧转动座转动设于所述基座上，所述右侧固定柱固定于所述右侧转动座上，所述右侧活动柱活动设于所述右侧转动座上，所述右侧固定柱与所述右侧活动柱之间设有右侧复位弹簧；

13、所述平移承载件的两端分别开设有左侧限位槽和右侧限位槽；

14、所述驱动部用于驱动所述左侧调整部和所述右侧调整部，以使得：所述左侧固定柱抵持所述左侧限位槽且所述右侧活动柱抵持所述右侧限位槽，或者，所述左侧活动柱抵持所述左侧限位槽且所述右侧固定柱抵持所述右侧限位槽。

15、在其中一个实施例中，

16、所述驱动部包括：主触杆、左摆臂、右摆臂；所述主触杆通过弹性件活动设所述基座上；所述左摆臂的一端转动设于所述基座上并与所述左侧转动座齿轮啮合，所述左摆臂的另一端枢接于所述主触杆上；所述右摆臂的一端转动设于所述基座上并与所述右侧转动座齿轮啮合，所述右摆臂的另一端枢接于所述主触杆上；

17、所述调整气缸驱动所述调整杆体平移运动，以使得所述调整杆体与所述主触杆抵接或分离。

18、在其中一个实施例中，

19、所述基座上设有引导限位柱，所述平移承载件上开设有与所述引导限位柱配合的引导限位槽。

20、在其中一个实施例中，所述平移承载件上设有定位柱。

21、本发明的一种电子元器件检测设备，针对不同型号的电子元器件，无需更换治具，也无需调整测试针的位置，便可以快速实现检测的转换调整。

技术特征：

1.一种电子元器件检测设备，其特征在于，包括：转盘、若干治具、性能检测装置、位置调整驱动装置；

2.根据权利要求1所述的电子元器件检测设备，其特征在于，

3.根据权利要求2所述的电子元器件检测设备，其特征在于，

4.根据权利要求3所述的电子元器件检测设备，其特征在于，

5.根据权利要求2所述的电子元器件检测设备，其特征在于，

6.根据权利要求2所述的电子元器件检测设备，其特征在于，所述平移承载件上设有定位柱。

技术总结本发明公开一种电子元器件检测设备，包括：转盘、若干治具、性能检测装置、位置调整驱动装置。若干所述治具呈环形阵列分布于所述转盘的边缘，所述性能检测装置位于所述转盘的底部，所述位置调整驱动装置位于所述转盘的侧部；所述性能检测装置包括检测气缸及设于所述检测气缸伸缩端的测试针脚，所述检测气缸驱动所述测试针脚升降运动；所述位置调整驱动装置包括调整气缸及设于所述调整气缸伸缩端的调整杆体，所述调整气缸驱动所述调整杆体平移运动。本发明的一种电子元器件检测设备，针对不同型号的电子元器件，无需更换治具，也无需调整测试针的位置，便可以快速实现检测的转换调整。技术研发人员：李智德,胡紫阳,严涛受保护的技术使用者：深圳市业展电子有限公司技术研发日：技术公布日：2024/10/10