芯片测试方法、系统和存储介质与流程

本技术涉及芯片测试领域，尤其涉及一种芯片测试方法、系统和存储介质。

背景技术：

1、目前芯片测试多是使用自动测试设备(automatic test equipment，ate)，芯片自动测试设备是一种用于对集成电路芯片进行测试和验证的专用设备，芯片自动测试设备能够自动执行测试程序，对芯片进行功能测试、性能测试和可靠性测试，以确保芯片的质量和可靠性。

2、目前的芯片自动测试设备的检测频率较低，导致时间精度较大，进而影响对芯片的覆盖率和测试精度。

技术实现思路

1、本技术提供一种芯片测试方法、系统和存储介质，提高测试过程中对芯片的覆盖率和测试精度。

2、第一方面，本技术提供一种芯片测试方法，所述方法用于第一电子设备，所述方法包括：

3、向待测芯片发送第一电信号，以使所述待测芯片处于开启状态；

4、间歇地向第二电子设备发送第二电信号，并接收每个所述第二电信号对应的检测结果；所述第二电子设备用于每接收到第二电信号，向所述待测芯片发送对应的测试指令，并获取所述待测芯片在目标测试下的目标信号；所述第二电子设备还用于根据每个目标信号生成对应的检测结果并发送至所述第一电子设备，每个检测结果用于指示所述待测芯片是否通过对应的目标测试；

5、根据每个所述第二电信号对应的检测结果，判断所述待测芯片是否正常；

6、其中，所述第二电子设备的检测频率大于所述第一电子设备的检测频率。

7、可选地，所述向待测芯片发送第一电信号，以使所述待测芯片处于开启状态，具体包括：

8、向待测芯片发送预设电压，以使所述待测芯片处于开启状态。

9、可选地，间歇地向第二电子设备发送第二电信号，具体包括：

10、间歇地向第二电子设备发送复位信号和测试模式选择信号，每个测试模式选择信号对应一个目标测试；

11、所述复位信号用于指示所述第二电子设备进行初始化，每个所述测试模式选择信号用于指示所述第二电子设备向所述待测芯片发送对应的测试指令，每个测试指令用于指示所述待测芯片进行对应的目标测试。

12、可选地，所述测试模式选择信号包括n个通道，所述n为大于1的整数；

13、每个所述测试模式选择信号是通过各个通道的电平确定的。

14、第二方面，本技术提供一种芯片测试方法，所述方法用于第二电子设备，所述方法包括：

15、间歇地接收第一电子设备发送的第二电信号；

16、每接收到一个第二电信号，向待测芯片发送对应的测试指令，获取所述待测芯片在目标测试下的目标信号，其中，所述待测芯片处于开启状态；

17、每获取一个目标信号，根据所述目标信号生成对应的检测结果，并将所述检测结果发送至第一电子设备，以使所述第一电子设备根据每个所述检测结果判断所述待测芯片是否正常；每个检测结果用于指示目标芯片是否通过对应的目标测试；

18、其中，所述第二电子设备的检测频率大于所述第一电子设备的检测频率。

19、可选地，所述第二电信号包括复位信号和测试模式选择信号；

20、所述每接收到一个第二电信号，向待测芯片发送对应的测试指令，具体包括：

21、每接收到一个复位信号和一个测试模式选择信号，进行初始化；

22、根据所述测试模式选择信号生成对应的测试指令，并将所述测试指令发送至所述待测芯片；每个测试指令用于指示所述待测芯片进行对应的目标测试。

23、可选地，所述根据所述目标信号生成对应的检测结果，具体包括：

24、若目标信号中第一电平维持预设时间，生成的检测结果用于指示所述待测芯片通过目标测试；

25、若目标信号中第二电平维持预设时间，生成的检测结果用于指示所述待测芯片未通过目标测试；

26、所述第一电平大于所述第二电平。

27、所述获取所述待测芯片在目标测试下的目标信号，具体包括：

28、在所述待测芯片由第二电平到第一电平的时刻开始采集第一电平信号；

29、根据所述第一电平信号的采集数量和采样周期计算所述第一电平的维持时间；

30、在所述待测芯片由第一电平到第二电平的时刻开始采集第二电平信号；

31、根据所述第二电平信号的采集数量和采样周期计算所述第二电平的维持时间。

32、第三方面，本技术提供一种芯片测试装置，包括：

33、第一发送模块，用于向待测芯片发送第一电信号，以使所述待测芯片处于开启状态；

34、第二发送模块，用于间歇地向第二电子设备发送第二电信号，并接收每个所述第二电信号对应的检测结果；所述第二电子设备用于每接收到第二电信号，向所述待测芯片发送对应的测试指令，并获取所述待测芯片在目标测试下的目标信号；所述第二电子设备还用于根据每个目标信号生成对应的检测结果并发送至所述第一电子设备，每个检测结果用于指示所述待测芯片是否通过对应的目标测试；

35、判断模块，用于根据每个所述第二电信号对应的检测结果，判断所述待测芯片是否正常；

36、其中，所述第二电子设备的检测频率大于所述第一电子设备的检测频率。

37、第四方面，本技术提供一种芯片测试装置，包括：

38、接收模块，用于间歇地接收第一电子设备发送的第二电信号；

39、第三发送模块，用于每接收到一个第二电信号，向待测芯片发送对应的测试指令，并获取所述待测芯片在目标测试下的目标信号，其中，所述待测芯片处于开启状态；

40、第四发送模块，用于每获取一个目标信号，根据所述目标信号生成对应的检测结果，并将所述检测结果发送至第一电子设备，以使所述第一电子设备根据每个所述检测结果判断所述待测芯片是否正常；每个检测结果用于指示目标芯片是否通过对应的目标测试；

41、其中，所述第二电子设备的检测频率大于所述第一电子设备的检测频率。

42、第五方面，本技术提供一种电子设备，包括：存储器和处理器；

43、存储器用于存储指令；处理器用于调用存储器中的指令执行第一方面及第一方面任一种可能的设计中的方法。

44、第六方面，本技术提供一种电子设备，包括：存储器和处理器；

45、存储器用于存储指令；处理器用于调用存储器中的指令执行第二方面及第二方面任一种可能的设计中的方法。

46、第七方面，本技术提供一种芯片测试系统，包括第一电子设备和第二电子设备，所述第一电子设备用于执行第一方面及第一方面任一种可能的设计中的方法，所述第二电子设备用于执行第二方面及第二方面任一种可能的设计中的方法。

47、可选的，所述第一电子设备为集成电路自动测试机，所述第二电子设备为现场可编程逻辑门阵列。

48、第八面，本技术提供一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质中存储有计算机指令，当电子设备的至少一个处理器执行该计算机指令时，电子设备执行上述方法。

49、第九方面，本技术提供一种计算机程序产品，所述计算机程序产品包括计算机指令，当电子设备的至少一个处理器执行该计算机指令时，电子设备执行上述方法。

50、本技术提供的芯片测试方法、系统和存储介质，第一电子设备向待测芯片发送第一电信号，以使待测芯片处于开启状态，而后第一电子设备间歇地向第二电子设备发送第二电信号，并接收每个第二电信号对应的检测结果，第二电子设备用于每接收到第二电信号，向待测芯片发送对应的测试指令，获取待测芯片在各个目标测试下的目标信号，第二电子设备还用于根据每个目标信号生成对应的检测结果并发送至第一电子设备，每个检测结果用于指示待测芯片是否通过对应的目标测试。因此，第一电子设备在接收到每个第二电信号对应的检测结果后，可以根据每个第二电信号对应的检测结果判断待测芯片是否正常。并且由于第二电子设备的检测频率大于第一电子设备的检测频率，则可以缩短检测周期，从而提高芯片测试过程中对芯片的覆盖率和测试精度。