一种基于NED镜头的成像光谱仪点扩散函数的测量方法及装置与流程

本申请涉及光学测量，更具体地，涉及一种基于ned镜头的成像光谱仪点扩散函数的测量方法及装置。

背景技术：

1、在光谱测试时，为了进行带宽和杂散光校正，通常需要使用单色光源，通过光谱仪对单色光源的响应得到其光谱展宽曲线，基于展宽曲线对原始光谱进行反卷积或拟合得到未展宽光谱。在光学成像测试时，通常需要使用点光源，通过光学成像系统对点光源成像，得到点光源的点扩散函数，基于点扩散函数对原始图像进行反卷积或拟合得到未扩展图像。对于成像光谱仪，其将狭缝成像为二维图像，包括空间维和光谱维，为了对二维光谱图像进行带宽和杂散光校正，需要测试得到狭缝各点的点扩散函数。

2、传统的光学系统点扩散函数测量方法，通过采用小孔或小孔阵列成像的方式，得到点扩散函数随视场的变化特性。该方法需要加工小孔样板，且孔的尺寸和位置无法改变。用传统方法将成像光谱仪狭缝替换为小孔阵列可完成部分测试，但只能对开孔位置进行测试，无法对狭缝各点进行测试，且替换狭缝并调试流程复杂。

3、因此，提供一种对狭缝各点的点扩散函数的进行测量的方法，就成为亟待解决的问题。

技术实现思路

1、针对现有技术的至少一个缺陷或改进需求，本发明提供了一种基于ned镜头的成像光谱仪点扩散函数的测量方法及装置，实现对狭缝各点的点扩散函数的进行测量，提高对于点扩散函数进行测量的便捷性与全面性。

2、为实现上述目的，按照本发明的第一个方面，提供了一种基于ned镜头的成像光谱仪点扩散函数的测量方法，该方法包括：控制第一入射光源以目标角度入射至ned镜头后得到第二入射光源，其中，第一入射光源为具有波长为λ1的单色平行光，目标角度为第一入射光源相对于ned镜头的入射角度；第一入射光源经由ned镜头后输出的第二入射光源成像于成像光谱仪狭缝各个位置，获得狭缝上各个位置的准单色点光源；狭缝上各个位置的准单色点光源经过成像光谱仪系统成像，得到像面强度分布，根据像面强度分布获得各个位置的准单色点光源的点扩散函数。

3、在一个示例性实施例中，控制第一入射光源以目标角度入射至ned镜头后得到第二入射光源，包括：调整第一入射光源相对于ned镜头的入射角度，得到一系列目标角度；控制第一入射光源按照一系列目标角度分别入射至ned镜头，得到一系列第二入射光源，其中，每个目标角度与第二入射光源成像于狭缝的位置一一对应；根据像面强度分布获得各个位置的准单色点光源的点扩散函数，包括：获得第一入射光源为具有波长为λ1的单色平行光在一系列目标角度下，成像光谱仪的第一点扩散函数的集合。

4、在一个示例性实施例中，在通过光源调节机构调整第一入射光源相对于ned镜头的入射角度，得到一系列目标角度之后，方法还包括：控制第一入射光源按照一系列目标角度分别入射至ned镜头，得到一系列第二入射光源，其中，每个目标角度与第二入射光源成像于狭缝的位置一一对应；根据像面强度分布获得各个位置的准单色点光源的点扩散函数，包括：获得第一入射光源为具有波长为λ1的单色平行光在一系列目标角度下，成像光谱仪的第二点扩散函数的集合。

5、在一个示例性实施例中，控制第一入射光源以目标角度入射至ned镜头后得到第二入射光源，包括：根据第二入射光源成像于狭缝的目标像面尺寸确定第一入射光源的目标平行度；控制目标平行度下的第一入射光源以目标角度入射至ned镜头后得到第二入射光源。

6、在一个示例性实施例中，狭缝上各个位置的准单色点光源经过成像光谱仪系统成像，得到像面强度分布包括：通过光谱仪图像采集系统采集狭缝上各个位置的准单色点光源经过成像光谱仪系统成像的面阵图像；基于面阵图像的灰度值，确定像面强度分布。

7、在一个示例性实施例中，切换所述第一入射光源的波长；获得所述第一入射光源的n个不同波长分别在所述一系列目标角度下，所述成像光谱仪的n个点扩散函数的集合；根据所述第一点扩散函数的集合和所述n个点扩散函数的集合，获得所述成像光谱仪完整的点扩散函数。

8、按照本发明的第二个方面，还提供了一种基于ned镜头的成像光谱仪点扩散函数的测量装置，其包括：第一入射单元，用于控制第一入射光源以目标角度入射至ned镜头后得到第二入射光源，其中，第一入射光源为具有波长为λ1的单色平行光，目标角度为第一入射光源相对于ned镜头的入射角度；成像单元，用于第一入射光源经由ned镜头后输出的第二入射光源成像于成像光谱仪狭缝各个位置，获得狭缝上各个位置的准单色点光源；第一获取单元，用于狭缝上各个位置的准单色点光源经过成像光谱仪系统成像，得到像面强度分布，根据像面强度分布获得各个位置的准单色点光源的点扩散函数。

9、按照本发明的第三个方面，还提供了一种计算机可读的存储介质，该计算机可读的存储介质中存储有计算机程序，其中，该计算机程序被设置为运行时执行上述基于ned镜头的成像光谱仪点扩散函数的测量方法。

10、按照本发明的第四个方面，还提供了一种电子装置，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，其中，上述处理器通过计算机程序执行上述的基于ned镜头的成像光谱仪点扩散函数的测量方法。

11、总体而言，通过本发明所构思的以上技术方案与现有技术相比，能够取得下列有益效果：

12、本发明提供了一种基于ned镜头的成像光谱仪点扩散函数的测量方法，通过控制第一入射光源以目标角度入射至ned镜头后得到第二入射光源，其中，第一入射光源为具有波长为λ1的单色平行光，目标角度为第一入射光源相对于ned镜头的入射角度；第一入射光源经由ned镜头后输出的第二入射光源成像于成像光谱仪狭缝各个位置，获得狭缝上各个位置的准单色点光源；狭缝上各个位置的准单色点光源经过成像光谱仪系统成像，得到像面强度分布，根据像面强度分布获得各个位置的准单色点光源的点扩散函数，无需加工小孔阵列样板并进行复杂的替换工作，即可完成成像光谱仪全视场点扩散函数测试，提高了点扩散函数进行测量的便捷性与全面性。

技术特征：

1.一种基于ned镜头的成像光谱仪点扩散函数的测量方法，其特征在于，包括：

2.如权利要求1所述的基于ned镜头的成像光谱仪点扩散函数的测量方法，其特征在于，

3.如权利要求2所述的基于ned镜头的成像光谱仪点扩散函数的测量方法，其特征在于，在所述通过光源调节机构调整所述第一入射光源相对于所述ned镜头的入射角度，得到一系列目标角度之后，所述方法还包括：

4.如权利要求1所述的基于ned镜头的成像光谱仪点扩散函数的测量方法，其特征在于，所述控制第一入射光源以目标角度入射至ned镜头后得到第二入射光源，包括：

5.如权利要求1所述的基于ned镜头的成像光谱仪点扩散函数的测量方法，所述成像光谱仪系统包括成像光谱仪图像采集系统，其特征在于，所述狭缝上各个位置的准单色点光源经过成像光谱仪系统成像，得到像面强度分布包括：

6.如权利要求1到5任意一项所述的基于ned镜头的成像光谱仪点扩散函数的测量方法，其特征在于，

7.一种基于ned镜头的成像光谱仪点扩散函数的测量装置，其特征在于，包括：

8.如权利要求7所述的基于ned镜头的成像光谱仪点扩散函数的测量装置，其特征在于，包括：

9.一种计算机可读的存储介质，其特征在于，所述计算机可读的存储介质包括存储的程序，其中，所述程序运行时执行权利要求1至6中任一项所述的方法。

10.一种电子装置，包括存储器和处理器，其特征在于，所述存储器中存储有计算机程序，所述处理器被设置为通过所述计算机程序执行权利要求1至6中任一项所述的方法。

技术总结本申请公开了一种基于NED镜头的成像光谱仪点扩散函数的测量方法及装置，属于光学测量技术领域，包括：控制第一入射光源以目标角度入射至NED镜头后得到第二入射光源，其中，第一入射光源为具有波长为λ<subgt;1</subgt;的单色平行光，目标角度为第一入射光源相对于NED镜头的入射角度；第一入射光源经由NED镜头后输出的第二入射光源成像于成像光谱仪狭缝各个位置，获得狭缝上各个位置的准单色点光源；狭缝上各个位置的准单色点光源经过成像光谱仪系统成像，得到像面强度分布，根据像面强度分布获得各个位置的准单色点光源的点扩散函数，通过本申请实现了对狭缝各点的点扩散函数的进行测量，提高对于点扩散函数进行测量的便捷性与全面性。技术研发人员：罗时文,刘璐宁,钟凡,王戬,梅林海,郑增强,刘荣华受保护的技术使用者：武汉精立电子技术有限公司技术研发日：技术公布日：2024/11/21