紧缩场转台的校准系统的制作方法

本技术属于天线测试领域，具体涉及一种紧缩场转台的校准系统。

背景技术：

1、紧缩场技术是应用近场聚焦原理，近距离产生一个准平面波区，实现天线参数或雷达目标散射特性远场测量的技术。

2、在对待测件进行测试时，馈源与反射面之间的匹配校准容易实现，但是，由于被测天线进行俯仰测试时，待测件所在的转台没有进行校准，因此，紧缩场转台的机械参考面以及与紧缩场平面波来波的方向垂直的垂直面之间存在一个偏角，导致待测件测试结果并不准确。

技术实现思路

1、本实用新型的目的在于提供一种紧缩场转台的校准系统，能够消除紧缩场转台的机械参考面与紧缩场平面波来波方向垂直的垂直平面之间存在的夹角，提高天线测试精度。

2、其技术方案如下：

3、紧缩场转台的校准系统，包括紧缩场系统、转台系统、定位机构以及校准机构；所述紧缩场系统包括紧缩场馈源及紧缩场反射面，所述紧缩场馈源的相位中心匹配于所述紧缩场反射面的曲面焦点；所述转台系统包括紧缩场转台、扫描架及待测件，所述扫描架连接于所述紧缩场转台，所述待测件夹持于所述扫描架上；所述定位机构电性连接于所述待测件以及所述紧缩场馈源，所述校准机构连接于所述紧缩场转台，所述定位机构与所述校准机构电性连接。

4、所述紧缩场馈源经所述紧缩场反射面反射出平面波，所述待测件接收平面波，所述定位机构连接于所述待测件与所述紧缩场馈源，所述定位机构通过分析比较所述待测件接收到的静区信号曲线与所述紧缩场馈源发射的静区信号曲线，获得相位差，确定所述紧缩场馈源反射平面波的垂直平面，所述校准机构与所述定位机构电性连接，所述校准机构连接于所述紧缩场转台，所述校准机构根据相位差确定所述紧缩场转台的转动角度，所述紧缩场转台的机械参考面与平面波的垂直平面平行，即可消除所述紧缩场转台的机械参考面与所述垂直平面的夹角，完成所述紧缩场转台的机械校准，从而提高天线测试的精度。

5、在其中一个实施例中，所述紧缩场转台的机械参考面包括所述紧缩场转台的水平角度0°平面以及所述紧缩场转台的俯仰角度0°平面，所述紧缩场转台的俯仰角度0°平面与所述紧缩场馈源的反射平面波所在平面平行。

6、所述紧缩场转台的水平角度0°平面以及所述紧缩场转台的俯仰角度0°平面可辅助所述紧缩场转台的校准，所述紧缩场转台的俯仰角度0°平面与所述紧缩场馈源的反射平面波所在平面平行，避免与平面波来波方向呈夹角，提高了天线俯仰测试的测试精度。

7、在其中一个实施例中，所述紧缩场系统还包括垂直平面，所述垂直平面与所述紧缩场馈源的反射平面波所在平面垂直。

8、所述垂直平面与所述紧缩场馈源的反射平面波所在平面垂直，所述垂直平面上每一点的相位差均为0°，可辅助定位所述紧缩场转台的机械校准。

9、在其中一个实施例中，所述定位机构为矢量网络分析仪，所述矢量网络分析仪用于分析比较所述紧缩场馈源的静区相位曲线与所述待测件的静区相位曲线之间的相位差。

10、所述矢量网络分析仪可更精准的分析所述紧缩场馈源的静区相位曲线以及所述待测件的静区相位曲线，还可比较两者曲线之间的相位差，便于直观得到所述紧缩场转台的机械参考面与所述垂直平面的夹角，从而辅助完成所述紧缩场转台的校准。

11、在其中一个实施例中，所述校准机构为转台控制器，所述转台控制器用于根据所述相位差对应调整所述紧缩场转台的转动角度，所述相位差等于所述转动角度。

12、所述转台控制器根据所述矢量网络分析仪得到的相位差，从而根据所述相位差转化为所述紧缩场转台的转动角度，该相位差即为该转动角度。

13、在其中一个实施例中，所述转台控制器与所述紧缩场转台转动连接，所述紧缩场转台的水平角度0°平面与所述垂直平面平行。

14、所述转台控制器根据转动角度转动所述紧缩场转台，所述紧缩场转台的水平角度0°平面与所述垂直平面平行，所述紧缩场转台的水平角度0°平面上每一点的相位差均为0，提高了天线测试的精度，从而避免影响紧缩场转台的校准。

15、在其中一个实施例中，所述扫描架下端设有滑轨，所述紧缩场转台下端设有滑轮，所述紧缩场转台与所述滑轨滑动连接，所述扫描架还包括竖杆，所述转台控制器一端连接于所述紧缩场转台的上端，所述竖杆连接于所述转台控制器的另一端，所述待测件夹持于所述竖杆上端。

16、所述紧缩场转台与所述滑轨滑动连接，可调整所述转台系统位于静区内，所述转台控制器一端连接于所述紧缩场转台的上端，所述转台控制器另一端还连接有所述竖杆，所述待测件夹持于所述竖杆上端，所述待测件突出设置于所述转台一侧，可减少所述扫描架对所述待测件接收平面波的影响，提高天线的测试精度，从而提高所述紧缩场转台校准的准确性。

17、在其中一个实施例中，所述紧缩场反射面的边缘设置为卷边，所述卷边朝向静区相反方向，所述扫描架上设有吸波结构。

18、所述紧缩场反射面的边缘设置为卷边，由于馈源天线的相位中心放置在反射面曲面的焦点位置，反射面本体中间的抛物面曲面接收馈源的球面波，反射至静区内产生平面波，卷边卷曲的边沿可以将产生的电流沿着卷曲边流动，在卷边的边沿处发生散射，由于卷边的边沿设置在与静区相反的位置上，因此不会对静区的信号产生干扰，所述扫描架上还设有吸波结构，进一步减少扫描架对静区信号的干扰，提高天线的测试精度，从而避免影响紧缩场转台的校准。

19、在其中一个实施例中，所述待测件为喇叭状，所述待测件包括待测天线，所述待测天线位于所述待测件的喇叭中心。

20、所述待测件呈喇叭状，所述待测天线位于所述待测件的喇叭中心，可提高天线测试的精度，从而更好的辅助完成所述紧缩场转台的校准。

21、在其中一个实施例中，还包括支架，所述支架包括第一梁、第二梁、第三梁以及第四梁，所述第一梁与所述第二梁以及所述第三梁纵横交错形成所述支架，所述第四梁位于所述支架两侧，两个所述第一梁与所述第二梁以及所述第三梁的交接处至少部分连接有所述第四梁；所述支架还设有突出部，所述突出部位于所述支架前侧底部，所述紧缩场反射面背侧倾斜固定于所述支架前侧。

22、第一梁与第二梁以及第三梁纵横交错形成所述支架，所述支架呈矩形框架，所述第四梁连接于所述第一梁与所述第二梁以及所述第三梁的交接处，可加强所述支架的稳定性，所述支架前侧底部设有突出部，便于匹配所述紧缩场反射面倾斜角度，减少所述紧缩场反射面对天线测试精度的影响，提高所述紧缩场转台校准的准确性。

技术特征：

1.紧缩场转台的校准系统，其特征在于，包括紧缩场系统、转台系统、定位机构以及校准机构；

2.如权利要求1所述的紧缩场转台的校准系统，其特征在于，所述紧缩场转台的机械参考面包括所述紧缩场转台的水平角度0°平面以及所述紧缩场转台的俯仰角度0°平面，所述紧缩场转台的俯仰角度0°平面与所述紧缩场馈源的反射平面波所在平面平行。

3.如权利要求2所述的紧缩场转台的校准系统，其特征在于，所述紧缩场系统还包括垂直平面，所述垂直平面与所述紧缩场馈源的反射平面波所在平面垂直。

4.如权利要求3所述的紧缩场转台的校准系统，其特征在于，所述定位机构为矢量网络分析仪，所述矢量网络分析仪用于分析比较所述紧缩场馈源的静区相位曲线与所述待测件的静区相位曲线之间的相位差。

5.如权利要求4所述的紧缩场转台的校准系统，其特征在于，所述校准机构为转台控制器，所述转台控制器用于根据所述相位差对应调整所述紧缩场转台的转动角度，所述相位差等于所述转动角度。

6.如权利要求5所述的紧缩场转台的校准系统，其特征在于，所述转台控制器与所述紧缩场转台转动连接，所述紧缩场转台的水平角度0°平面与所述垂直平面平行。

7.如权利要求6所述的紧缩场转台的校准系统，其特征在于，所述扫描架下端设有滑轨，所述紧缩场转台下端设有滑轮，所述紧缩场转台与所述滑轨滑动连接，所述扫描架还包括竖杆，所述转台控制器一端连接于所述紧缩场转台的上端，所述竖杆连接于所述转台控制器的另一端，所述待测件夹持于所述竖杆上端。

8.如权利要求7所述的紧缩场转台的校准系统，其特征在于，所述紧缩场反射面的边缘设置为卷边，所述卷边朝向静区相反方向，所述扫描架上设有吸波结构。

9.如权利要求8所述的紧缩场转台的校准系统，其特征在于，所述待测件为喇叭状，所述待测件包括待测天线，所述待测天线位于所述待测件的喇叭中心。

10.如权利要求1至6任一所述的紧缩场转台的校准系统，其特征在于，还包括支架，所述支架包括第一梁、第二梁、第三梁以及第四梁，所述第一梁与所述第二梁以及所述第三梁纵横交错形成所述支架，所述第四梁位于所述支架两侧，两个所述第一梁与所述第二梁以及所述第三梁的交接处至少部分连接有所述第四梁；

技术总结本技术公开了一种紧缩场转台的校准系统，包括紧缩场系统、转台系统、定位机构以及校准机构；所述紧缩场系统包括紧缩场馈源及紧缩场反射面，所述紧缩场馈源的相位中心匹配于所述紧缩场反射面的曲面焦点；所述转台系统包括紧缩场转台、扫描架及待测件，所述扫描架连接于所述紧缩场转台，所述待测件夹持于所述扫描架上；所述定位机构电性连接于所述待测件以及所述紧缩场馈源，所述校准机构连接于所述紧缩场转台，所述定位机构与所述校准机构电性连接。本技术能够消除紧缩场转台的机械参考面以及与紧缩场平面波来波方向垂直的垂直面之间存在一个夹角，提高天线测试精度。技术研发人员：马青亮,钟超淳,熊磊,沈仁怡,张建秋,刘伯涛,陈宁,林锦波,李振娜,诸葛欣受保护的技术使用者：广州计量检测技术研究院技术研发日：20240305技术公布日：2024/11/21