一种基于图像识别的环孔测量装置的制作方法

本技术涉及测量工具，具体而言，涉及一种基于图像识别的环孔测量装置。

背景技术：

1、工业尺寸的测量方法可以根据具体需要和场合选择不同的工具和方法。例如，可以使用卡尺、千分尺、显微镜、光学比较仪等工具进行测量。

2、在制造过程中，需要对各类零部件或组件中的环孔进行测量，例如汽车发动机的气缸孔、机械设备中的轴承孔、管道连接件的螺纹孔等。环孔测量算法可用于实时检测孔径尺寸和圆度等指标，以确保产品质量和性能。

3、现有技术中采用摄像头识别检测工件的圆孔直径大小存在如下问题：工件上存在多个孔位需要测量直径，而圆孔分布在不均匀且不规则的工件上，需测量的多个圆孔不在一个平面上，从而导致摄像头与圆孔所处平面难以保持垂直，图像采集可能失真，孔形采集存在错误，导致测量结果不够准确。

技术实现思路

1、本实用新型的目的在于提供一种基于图像识别的环孔测量装置能够方便自动调整摄像头采集环孔的位置，保证摄像头与圆孔所处平面垂直度高，提高测量结果的精度。

2、本实用新型的实施例通过以下技术方案实现：一种基于图像识别的环孔测量装置，包括中央控制云台和机械控制机构，所述机械控制机构包括工件置物台，所述工件置物台的两侧均设置有弧形支架板，所述弧形支架板的内环侧设有齿轨，两所述弧形支架板套有滑腔，所述滑腔内设置有与所述齿轨相啮合的驱动齿轮；两所述滑腔之间连接有导向杆及丝杆；图像采集器，所述导向杆和所述丝杆穿过所述图像采集器的尾部并与之配合相连，所述图像采集器沿所述导向杆进行横移；处理终端，包括图像处理单元和特征处理单元，其中，图像处理单元的信号输入侧与摄像设别器的信号输出侧通信连接，特征处理单元的数据输出端与图像处理单元的数据输入端通信连接。

3、可选的，所述弧形支架板的外环侧设有导向槽，所述滑腔内转动连接有滚轮，所述滚轮卡入所述导向槽中。

4、可选的，所述工件置物台的中部设有转盘，所述转盘的下端设有驱动电机以带动，且所述转盘设于两所述弧形支架板之间。

5、可选的，所述图像采集器旁侧安装有用于调节亮度的探照灯。

6、可选的，所述图像采集器上的摄像头采用球铰连接。

7、可选的，所述弧形支架板采用半圆环形结构。

8、可选的，所述弧形支架板的弧度范围为150°-180°。

9、本实用新型的实施例的技术方案至少具有如下优点和有益效果：与现有技术相比，本实用新型通过将需检测孔径的工件放置在工件置物台上，并将图像采集器安装在丝杠和导向杆组成的横移机构上，并配合弧形支架板。使得图像采集器形成类似一个覆盖采集罩，图像采集器总能够根据工件上不同的孔位寻找到一个合适垂直的采集点，保证了图像的正确采集，和孔径大小测量的准确性。

技术特征：

1.一种基于图像识别的环孔测量装置，其特征在于：包括中央控制云台和机械控制机构(1)，所述机械控制机构(1)包括工件置物台(11)，所述工件置物台(11)的两侧均设置有弧形支架板(12)，所述弧形支架板(12)的内环侧设有齿轨(13)，两所述弧形支架板(12)套有滑腔(2)，所述滑腔(2)内设置有与所述齿轨(13)相啮合的驱动齿轮(5)；

2.根据权利要求1所述的基于图像识别的环孔测量装置，其特征在于：所述弧形支架板(12)的外环侧设有导向槽(121)，所述滑腔(2)内转动连接有滚轮(4)，所述滚轮(4)卡入所述导向槽(121)中。

3.根据权利要求2所述的基于图像识别的环孔测量装置，其特征在于：所述工件置物台(11)的中部设有转盘(14)，所述转盘(14)的下端设有驱动电机(17)以带动，且所述转盘(14)设于两所述弧形支架板(12)之间。

4.根据权利要求3所述的基于图像识别的环孔测量装置，其特征在于：所述图像采集器(3)旁侧安装有用于调节亮度的探照灯(31)。

5.根据权利要求1-4中的任一项所述的基于图像识别的环孔测量装置，其特征在于：所述图像采集器(3)上的摄像头采用球铰连接。

6.根据权利要求1所述的基于图像识别的环孔测量装置，其特征在于：所述弧形支架板(12)采用半圆环形结构。

7.根据权利要求6所述的基于图像识别的环孔测量装置，其特征在于：所述弧形支架板(12)的弧度范围为150°-180°。

技术总结本技术涉及测量工具技术领域，提供了一种基于图像识别的环孔测量装置，包括中央控制云台和机械控制机构，机械控制机构包括工件置物台，工件置物台的两侧均设置有弧形支架板，弧形支架板设有齿轨，两弧形支架板套有滑腔，滑腔内设置有与齿轨相啮合的驱动齿轮；两滑腔之间连接有导向杆及丝杆；导向杆和丝杆穿过图像采集器并与之配合相连；处理终端，包括图像处理单元和特征处理单元，图像处理单元的信号输入侧与摄像设别器的信号输出侧通信连接，特征处理单元的数据输出端与图像处理单元的数据输入端通信连接。本技术能够便于根据工件需检测的环孔调整到合适的位置进行采集，保证了摄像头与待测圆孔的垂直度，测量数据精度也更高。技术研发人员：邱才明,凌泽南,李龙博,朱椿,王琦锋,肖劲受保护的技术使用者：天府兴隆湖实验室技术研发日：20231228技术公布日：2024/12/23