发光装置检测方法、系统以及计算机可读存储介质与流程

本申请涉及发光装置检测领域，尤其涉及发光装置检测方法、系统以及计算机可读存储介质。

背景技术：

1、消费者对mini led(mini light emitting diode，次毫米发光二极管)/microled(micro light emitting diode，微型发光二极管)直接显示技术的良率要求较高，甚至到99.9999％～100％，在高分辨、高对比度下，少量的亮点与暗点均会显著影响显示效果，故需要对亮点或是暗点进行检测和修复。但在检测的过程中，往往存在多项检测的项目，检测的效率低。

2、因此，如何提高micro led背板等发光装置检测的效率是亟需解决的问题。

技术实现思路

1、鉴于上述相关技术的不足，本申请的目的在于提供一种发光装置检测方法、系统以及计算机可读存储介质，旨在解决发光装置检测效率低问题。

2、一种发光装置检测方法，包括：

3、获取发光装置的光学检测结果；

4、根据所述光学检测结果确定出所述发光装置中的光学异常区域的位置坐标；以及

5、根据所述光学异常区域的位置坐标，控制一目标检测相机与所述光学异常区域对准以对所述光学异常区域进行检测得到外观检测结果。

6、上述发光装置检测方法通过对发光装置的光学情况和外观情况两方面进行检测。先获取发光装置的光学检测结果，以将光学检测结果提供给后续的步骤作为参考，后续的步骤可以基于先执行的步骤的成果而得到更高效率、简便的执行过程，从而在一些实施过程中提高了检测的效率。

7、可选地，所述光学检测结果包括所述被测区域的亮度值，所述光学异常区域包括暗点区域；所述控制一目标检测相机与所述光学异常区域对准以对所述光学异常区域进行检测得到外观检测结果，包括：

8、控制一缺芯检测相机与所述暗点区域对准以对所述暗点区域进行缺芯检测得到缺芯检测结果。

9、上述发光装置检测方法不仅能够检测暗点区域，还对暗点区域是否缺失芯片作出判断，将检测的结果进一步细化，这使得在后续的修复过程中，可以根据更准确的检测结果进行修复。在一些实施过程中，通过先找到暗点区域，再进行缺芯检测能够提高检测的效率，且对发光装置进行缺芯检测有助于激光修复设备精准确定所要激光修复的区域，避免对没有设置发光芯片的被测区域进行激光扫描，降低激光修复对发光装置的损伤。

10、可选地，所述控制一缺芯检测相机与所述暗点区域对准以对所述暗点区域进行缺芯检测得到缺芯检测结果，包括：

11、通过所述缺芯检测相机获取所述暗点区域的检测图像；

12、通过预先训练的神经网络模型对所述检测图像进行分析以输出缺芯检测结果；所述神经网络模型被配置为：将所述暗点区域不存在发光芯片的情况判定为缺失发光芯片，所述暗点区域存在完整或残缺的所述发光芯片的情况判定为不缺失发光芯片。

13、缺失发光芯片处的电极和残缺的发光芯片形貌差异较大、形态种类多，通过预先训练的神经网络模型，能够取得较好的判断效果。且神经网络模型被配置为将存在残缺的发光芯片的情况判定为不缺失发光芯片，有助于激光修复设备精准确定所要激光修复的区域。

14、可选地，所述发光装置检测方法还包括：

15、形成异常定位图像，所述异常定位图像中标示出至少一种异常区域的位置且关联有所述异常区域的位置坐标；

16、获取基于异常定位图像发出的定位指令，确定出所述定位指令所指向的目标异常区域的所述位置坐标；

17、根据所述目标异常区域的所述位置坐标，控制一目标检测设备与所述目标异常区域对准以进行复判检测。

18、通过形成异常定位图，获取基于异常定位图像发出的定位指令找到目标异常区域进行复判检测，复判检测的过程方便且直观，方便技术人员操作。

19、基于同样的发明构思，本申请还提供一种发光装置检测系统，包括：

20、光学检测单元，被配置为获取发光装置的光学检测结果；

21、坐标获取单元，被配置为根据所述光学检测结果确定出所述发光装置中的光学异常区域的位置坐标；

22、外观检测单元，被配置为根据所述光学异常区域的位置坐标，控制一目标检测相机与所述光学异常区域对准以对所述光学异常区域进行检测得到外观检测结果。

23、上述发光装置检测系统通过光学检测单元获取发光装置的光学检测结果，以将光学检测结果作为外观检测的参考，外观检测的步骤基于先执行的光学检测的成果而得到更高效率、简便的执行过程，从而在一些实施过程中提高了检测的效率。

24、可选地，所述光学检测单元包括亮度检测单元，所述亮度检测单元被配置为对所述发光装置的亮度进行检测以得到亮度检测结果；

25、所述坐标获取单元被配置为根据所述亮度检测结果确定出所述发光装置中的暗点区域的位置坐标；

26、所述外观检测单元包括缺芯检测单元，所述缺芯检测单元被配置为控制一缺芯检测相机与所述暗点区域对准以对所述暗点区域进行缺芯检测得到缺芯检测结果。

27、上述发光装置检测系统不仅能够检测暗点区域，还能够对暗点区域是否缺失芯片作出判断，将检测的结果进一步细化，这使得在后续的修复过程中，可以根据更准确的检测结果进行修复。

28、可选地，所述发光装置检测系统还包括以下至少一个单元：

29、缺芯全扫描单元，被配置为获取所述发光装置的所有被测区域的外观检测图像，并根据所述外观检测图像确定出缺失芯片的所述被测区域；

30、复判检测单元，所述复判检测单元被配置为根据目标异常区域的坐标，控制一目标检测设备与所述目标异常区域对准以进行复判检测；所述坐标获取单元还被配置为获取基于异常定位图像发出的定位指令，确定出所述定位指令所指向的所述目标异常区域的坐标，所述异常定位图像中标示出至少一种异常区域的位置且关联有所述异常区域的位置坐标；

31、搬运单元，被配置为按照预定顺序，将待测的所述发光装置在所述发光装置检测系统的其他单元之间传送。

32、上述发光装置检测系统还可包括其他检测单元或搬运单元的组合，在一些实施过程中能够满足更多的检测要求，提供更多种的检测结果，保证检测的全面和准确。

33、基于同样的发明构思，本申请还提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有一个或多个程序，所述一个或多个程序可被一个或多个处理器执行，以实现如上所述的发光装置检测方法的步骤。

34、上述计算机可读存储介质存储的程序被执行可实现上述发光装置检测方法的步骤，先获取发光装置的光学检测结果，以将光学检测结果提供给后续的步骤作为参考，后续的步骤可以基于先执行的步骤的成果而得到更高效率、简便的执行过程，从而在一些实施过程中提高了检测的效率。

技术特征：

1.一种发光装置检测方法，其特征在于，包括：

2.如权利要求1所述的发光装置检测方法，其特征在于，所述获取发光装置的光学检测结果，包括：

3.如权利要求1所述的发光装置检测方法，其特征在于，所述光学检测结果包括被测区域的亮度值，所述光学异常区域包括暗点区域；所述控制一目标检测相机与所述光学异常区域对准以对所述光学异常区域进行检测得到外观检测结果，包括：

4.如权利要求3所述的发光装置检测方法，其特征在于，所述根据所述光学检测结果确定出所述发光装置中的光学异常区域的位置坐标，包括：

5.如权利要求3所述的发光装置检测方法，其特征在于，所述控制一缺芯检测相机与所述暗点区域对准以对所述暗点区域进行缺芯检测得到缺芯检测结果，包括：

6.如权利要求1所述的发光装置检测方法，其特征在于，所述发光装置检测方法还包括：

7.一种发光装置检测系统，其特征在于，包括：

8.如权利要求7所述的发光装置检测系统，其特征在于，所述光学检测单元包括亮度检测单元，所述亮度检测单元被配置为对所述发光装置的亮度进行检测以得到亮度检测结果；

9.如权利要求7所述的发光装置检测系统，其特征在于，所述发光装置检测系统还包括以下至少一个单元：

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质存储有一个或多个程序，所述一个或多个程序可被一个或多个处理器执行，以实现如权利要求1-6任一项所述的发光装置检测方法的步骤。

技术总结本申请涉及一种发光装置检测方法、系统以及计算机可读存储介质。发光装置检测方法包括：获取发光装置的光学检测结果；根据所述光学检测结果确定出所述发光装置中的光学异常区域的位置坐标；以及根据所述光学异常区域的位置坐标，控制一目标检测相机与所述光学异常区域对准以对所述光学异常区域进行检测得到外观检测结果，在一些实施过程中提高了检测的效率。技术研发人员：蒋光平,林浩翔,萧俊龙受保护的技术使用者：重庆康佳光电科技有限公司技术研发日：技术公布日：2025/1/6